助理工业检验师培训资料

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1、工业检验师培训资料一、名词解释1.扫描速度：是指接收狭缝和计数器转动的角速度。2.X射线荧光：是指X射线管或者其他合适的辐射源照射物质，使组成物质的元素产生具冇特征性的一种次级X射线。3.基体效应：在进行x射线荧光法测量时，若被测对象是非单-•成分时，例如有A、B两种成分，当A元索的特征x射线能虽高于B元索的吸收限（或相反）时，则A元索的特征X射线也可以激发B元索，于是产生两种影响：①使B元素的x射线照射•屋率比实际的增多——增强效应；②A元素的特征x荧光照射量率削弱——吸收效应。这两组效应是山物质组分决定

2、的，因此叫做基体效应。由于基体效应的影响，破坏了x射线荧光照射量率与含量问的线性关系，为此对非单一纽分的测量对象必须考虑基体效应问题。4.劳埃法：以光源发出连续X射线照射置于样品台上静止的单晶体样品，用平板底片记录产生的衍射线。周转晶体法以单色X射线照射转动的单品样品，用以样品转动轴为轴线的圆柱形底片记录产生的衍射线，在底片上形成分立的衍射斑。5.晶体点阵：晶体具有空间点阵式的周期性结构，由晶体结构周期规律中直接抽彖出来的点阵，称晶体点阵，用S表示。6.荧光X射线：以X光子激发原子所发生的激发和辐射过程。被

3、击出的电子称为光电子，辐射出的次级标识X射线称为荧光X射线。7.扫描电子显微镜：用电子探针対样胡表血扫描使其成像的电子显微镜。8.发色团：分子中能吸收紫外光或可见光的结构系统叫做发色团或色基。9.助色团：有些原了或基团，木身不能吸收波长人于200nm的光波，但它与一定的发色团相连时，则可使发色团所产生的吸收峰向长波氏方向移动。并使吸收强度增加，这样的原了或基团叫做助色团。10.红移：某些有机化合物因反应引入含有未共享电子对的基团使吸收峰向长波长移动的现象称为长移或红移（redshift）,这些基团称为向红基

4、团。11.蓝移：使吸收峰向短波长移动的现象称为短移或蓝移（blueshift）,引起蓝移效应的基团称为向蓝基团。12.增色效应：使吸收强度增加的现象称为浓色效应或增色效应（hyperchromiceffect）o13.淡色效应：使吸收强度降低的现象称为淡色效应。14.荷移光谱：辐射下，分子屮原定域在金属M轨道上的电荷转移到配位体L的轨道，或按相反方向转移，所产生的吸收光谱称为荷移光谱。15.热重法：是在温度程序控制F，测量物质质量与温度之间关系的技术。16.差热分析：（DifTerentialThermal

5、Analysis,DTA）,是一种重要的热分析方法，是指在程序控温下，测量物质和参比物的温度差与温度或者时间的关系的一种测试技术。17.差示扫描量热法：（DSC）是在程序控制温度下，测量输给物质和参比物的功率差为温度关系的一种技术。18.粒度分布：用特定的仪器和方法反映出的不同粒径颗粒占粉体总量的百分数。19.等效粒径：是指当一个颗粒的某一物理特性与同质的球形颗粒相同或相近时，我们就用该球形颗粒的直径来代表这个实际颗粒的直径。20.X射线衍射分析（X-raydiffraction,简称XRD）,是利用晶体形

6、成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。二、填空题1.根据底片位置的不同，劳埃法可以分为（透射劳埃法）和（背射劳埃法）。背射劳埃法不受样品厚度和吸收的限制，是常用的方法。2.热分析简称TA,在氧化铝工业中最常用到的冇（差热分析（DTA））,（热重分析（TGA））和（差示扫描屋热法（DSC））o3.一般的差热分析装置山（加热系统）、（温度控制系统）、（信号放大系统）、（差热系统）和记录系统等组成。4.真空系统主要包括（真空泵）和（真空柱）两部分。1.电了束系统由（电了枪）和（电磁透镜）

7、两部分组成，主要用于产生一束能量分布极窄的、电了能量确定的电子束用以扌「I描成象。2.连续X射线的总强度取决于（电压）、（电流）、（阳极靶原子序数）。3.时间常数：表示电路对信号反映的快慢，时间常数越小，反映（越快）。&XRF分为（波长色散型WDX）和（能量色散型EDX）两种类型；具中常规采用的是（EDX）。9.质谱学上的基体效应即非质谱T扰，一般分为两类：（高盐溶液引起的物理效应）和（基体对分析物的抑制或增强效应）oICP-MS分析时，一定要考虑基体效应及其校正。10.X射线荧光光谱仪主要由（激发）、（色

8、散）、（探测）、记录及数据处理等单元组成。11.单品X射线衍射分析的基本方法为（劳埃法）与（周转品体法）。12.多晶X射线衍射方法包括（照相法）与（衍射仪法）。13.X射线衍射方法非常理想菲常有效，而对于液体和非晶态物固体，这种方法也能提供许多基木的重要数据。所以X射线衍射法被认为是研究固体最冇效的工具。在各种衍射实验方法中，基木方法冇（单晶法）、（多晶法）和（双晶法）。14.电子显微镜常用的有（透射电镜（tra