综合测试设备校准技术研究

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1、2011年6月第31卷第3期宇航计测技术JournalofAstronauticMetrologyandMeasurementJun．，2011V01．31．No．3文章编号：1000—7202(2011)03—0020—03中图分类号：TP273+．5综合测试设备校准技术研究田云峰(北京无线电计量测试研究所，北京100039)文献标识码：A摘要简要论述了综合测试设备校准技术的现状和技术特点，提出了系统校准的方法，并给出了基于虚拟仪器技术和LXI仪器总线技术建立综合测试设备校准装置的设计方案。关键词综合测试设备LXI虚拟仪器校准ResearchonCalibrationofInte

2、gratedTestEquipmentTIANYun·feng(BeijingInstituteofRadioMetrologyandMeasurement，Beijing100039)AbstractThestateandcharacteristicsofintegratedtestequipmentcalibrationtechnologyareintro—ducedbriefly，Themethodofsystemcalibrationisgiven，thecalibrationequipmentofintegratedteste-quipmentisdesignedbase

3、donVirtualInstrumenttechnologyandLXIbustechnology．KeywordsIntegratedTestEquipmentLXIVirtualInstrumentCalibration1引言军事科技的迅猛发展，特别是以信息技术为核心的众多高新技术在军事领域的广泛应用，极大提高了武器装备的技术含量和效能，其综合测试设备的系统组成越来越复杂，技术指标要求越来越高。综合测试设备是武器装备的系统级测试设备，主要分布在武器装备的研制、生产、调试和装备现场，对武器装备进行综合测试，实现其质量控制、性能评定和产品验证。因此，对综合测试设备的有效计量，是完成

4、准确测试，保证武器装备实际性能指标的重要手段，是确保型号工程质量的关键因素，在保障武器系统综合战斗力方面起着重要作用⋯。2技术现状综合测试设备对武器装备进行综合性能测试，通常由多个仪器模块及其它装置共同组成，与被测对象之间的信号传输通过电缆、信号转接、信号调理等环节完成，具有自动化程度高、技术先进、组成复杂、参数多、精度高、量程宽等显著特点。目前综合测试设备普遍采用的校准方法是对其各组成单元分别校准，参数分散计量，这种校准方法存在一些不足。首先，综合测试设备与被测对象之间的信号传输通过电缆、信号转接、信号调理等环节完成，这些中间环节对信号的最终输出产生影响，单个仪器模块工作稳定、准

5、确可靠并不能说明整个综合测试设备满足测试要求，因此，只针对各组成单元校准不能代表综合测试设备的有效校准；其次，在进行综合测试设备各组成单元独立校准时，是按照各组成单元的参数种类、技术指标进行校准，要动用大量资源，如仪器、人员等等，成本较高，而在整个综合测试设备中通常只应用其部分功能，只涉及其部分参数和技术指标，因此各组成单元独立校准最终导致部分％☆ⅧHm*《m＆$Ⅲ％尤；tilll^．造成资谶溲蚺：另，1,1111往敉m址H“p从小姓于曲操作，⋯掸作^儿ql^的删jII跌照较人，Id时，性个牧准过程叫间较K．I：fl'lL鞍人．阿打性墙；过群中综卉删扯设备杆_【成啦7c的{啦移拆卸

6、．很存易产生机械损伤和连接火误．从卅降瓶r综合测试设备的粘体可韶性和稳定陀“。3校准对象分析综台测试世备诬过j￡端I】辅{f：能源使被删对象满足m常l作条件．输出控制信号使被测时象处r正常工作状态．提供相艾激励信号建口测试条件．通过测试端口进行综台测斌。综台测试谩备结恂示意图如蹦1所Ht。目l镕☆自R№*镕自i自目综合测试设备b被测对象通廿删谜端【I对接，被删对象测试端n信蛩经过整理、分类、适配和转接送琶综音测试世备进行综台测试，计时测试信息进行融合、判断、分析和处理，最后肜成结果并输Ⅲ树关信包，综合测试设备墟过测试端u为被铡埘象提供供电电源、基准直流电Ⅲ搏使Jt正常1作；提供酥冲

7、佑q埠作为时钟或行进行时序拄制；对被测时象输m的卣流电J1，信哔进衍测世，实现血洫觳}电¨、击功能：埘^流IU流信口逊{rⅢ{_cT}．宴现“漉数}电流表功能；埘也4Ii仉避甜洲fjl寅现汽漉数≯瞅晰表功能：刈0$冲和时序fj‘，进{r删JT}尘现小波器功能．计数fI／Ofl_}哆检测进{，功能0状态榆谯综合测试设蔷一口“接收微波信叶．计时微救信廿进fr频串和功率测忆进}r鞋碱，多忤助频社和延时等处理后，发送《被删对象，电-Ⅱ“^摇输出微波fj号，激勋被制埘象业啦州盖