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时间:2019-11-26
《一种基于FPGA的抗辐射加固星载ASIC设计方法》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库。
1、V01.25No.4航天器工程第25卷第4期74SPACECRAFTENGINEERING2016年8月一种基于FPGA的抗辐身,-JtJn固星载ASIC设计方法常克武1王海涛2张弓2汪路元2(1中国卫星导航系统管理办公室,北京100054)(2北京空间飞行器总体设计部,北京100094)摘要针对静态随机存储器(SRAM)型现场可编程门阵列(FPGA)空间应用的问题,提出了基于FPGA星载抗辐射加固专用集成电路(ASIC)设计的全流程,并重点对扫描链设计、存储器内建自测试、自动向量生成、ASIC封装设计、散热设计、加电振动试验等关键点的设计方法和注意事项进行了
2、介绍。通过设计、测试、封装、试验,实现了基于静态随机存储器型FPGA转化为抗辐射加固ASIC。ASIC抗辐射总剂量大于100krad(Si),抗单粒子闩锁(SEL)阈值大于75MeV·cm2/mg,抗单粒子翻转(SEU)阈值大于22MeV·cm2/mg,满足空间应用的要求,具有很好的应用前景。关键词专用集成电路;空间环境辐射;单粒子效应;设计流程中图分类号:V473文献标志码:ADOI:10.3969/j.issn.1673—8748.2016.04.012ADesignMethodforRadiationHardenedSpace-borneAISCBase
3、donFPGACHANGKewulWANGHaita02ZHANGGon92WANGLuyuan2(1ChinaSatelliteNavigationOffice,Beijing100054,China)(2BeijingInstituteofSpacecraftSystemEngineering,Beiiing100094,China)Abstract:FocusingontheproblemofSRAMappliedinspaceenvironment,thispaperpresentsadesignflowofaspace—borneradiationh
4、ardenedASIC(applicationspecificintegratedcircuit)whosedesignisbasedonFPGA,mainlyintroducesthedesignmethodsandrelatedconsiderationofscanchain。MBIST(memorybuiltinselftest),ATPG(automatictestpatterngeneration),packagedesign,heatdissipationandelectrifiedvibrationtestwhicharekeypoitstoth
5、eprocessofASICdesign.Throughdesign,verification,packageandtest,theSRAMconvertstOradiationhardenedASIC.Thetotalanti—radiationdoseofthisASICisgreaterthan100krad(Si).Moreo—ver,thesingleeventlatch—upthresholdenergyofthisAISCisgreaterthan75MeV。cm2/mg,whileitsSEUthresholdenergyisgreaterth
6、an22MeV·cm2/mg.Anti—radiationcharacteristicsofASICwillgivesitabrightfutureforextension.Keywords:applicationspecificintegratedcircuit(ASIC);spaceradiation;singleeventupseteffects;designflow1引言近年来,随着用户对提高卫星功能和性能要求的急迫增长,卫星系统对星载电子产品提出了集成度高、质量轻、体积小、功耗低等一系列要求,静态随机存储器(StaticRandomAcessMemo
7、rizer,SRAM)型现场可编程门阵列(FPGA)由于其集成收稿日期:2016-05—19;修回日期:2016-06—08作者简介:常克武,男,硕士研究生,工程师,从事导航卫星总体设计与研制管理工作。Email:changkewu@163.com。第4期常克武等:一种基于FPGA的抗辐射加固星载ASIC设计方法75度高、资源丰富、设计灵活、易于修改等特点在卫星上得到广泛应用[1]。但是,由于卫星运行在空间辐射环境中,FPGA容易受太空射线影响而产生单粒子效应,并且器件的集成度越高,单粒子效应的影响就越显著,这严重影响和制约着航天电子仪器设备在轨工作的连续性和
8、稳定性,严重影响了卫星性能的发挥。在国
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