CCD﹢像元灵敏度非均匀性及处理方法研究

CCD﹢像元灵敏度非均匀性及处理方法研究

ID:46610906

大小:1001.43 KB

页数:4页

时间:2019-11-26

CCD﹢像元灵敏度非均匀性及处理方法研究_第1页
CCD﹢像元灵敏度非均匀性及处理方法研究_第2页
CCD﹢像元灵敏度非均匀性及处理方法研究_第3页
CCD﹢像元灵敏度非均匀性及处理方法研究_第4页
资源描述:

《CCD﹢像元灵敏度非均匀性及处理方法研究》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库

1、2014年8月宇航计测技术Aug.,2014第34卷第4期JournalofAstronauticMetrologyandMeasurementVo.l34,No.4文章编号:1000-7202(2014)04-0041-04中图分类号:O435文献标识码:ACCD像元灵敏度非均匀性及处理方法研究12111郭雨蓉李小波王锴磊崔桂利赵天承(1.北京航天计量测试技术研究所,北京100076;2.二炮驻首都航天机械公司军事代表室,北京100076)摘要研究了CCD像元灵敏度非均匀性产生的原理和给CCD应用带来的问题。采用改进的归一化算法对CCD像元灵敏度进行修正

2、,解决了CCD图像传感器由于加工工艺造成的各像元光电灵敏度具有差异的问题。该方法有效的减小了CCD的原始误差,对提高CCD测量准确度具有重要意义。关键词电荷耦合器件图像传感器灵敏度非均匀性ResearchonPixelSensitivityNonuniformityandTreatmentMethodofCCD12111GUOYu-rongLIXiao-boWANGKai-leiCUIGui-liZHAOTian-cheng(1.BeijingAerospaceInstituteforMetrologyandMeasurement,Beijing10007

3、6;2.TheDeputyOfficeBasedonCapitalAerospaceMachineryCorporationoftheSecondArtillery,Beijing100076)AbstractTheprincipleofcausingthepixelresponsenonuniformityofCCDandtheproblemsofCCDapplicationareresearched.Animprovednormalizationalgorithmisusedbythemethod.Becauseoftheartsandcrafts,e

4、verypixelofchargecoupleddevicehasadifferentsensitivity.Thisproblemcanbesolvedbythisalgorithm.Andthesourceerrorcanbereducedeffectively.IthasagreatsignificancetoimprovethemeasurementaccuracyofCCD.KeywordsChargecoupleddeviceImagesensorSensitivityNonuniformity1引言作为核心测量器件。但是,这样会带来一系列的问

5、题。比如面阵CCD的像元尺寸一般都比线阵CCD电荷耦合器件CCD是一种技术成熟、应用广泛大,这就造成了在同样光学系统时其测量分辨力的的图像传感器。自20世纪70年代初以来,发展非降低。同时,面阵CCD增加了像元个数也就增加了常迅速。CCD一般分为线阵CCD和面阵CCD。数据处理难度。对于高速数据测量来说,很难满足高精度双轴光电自准直仪是一种实时、非接触技术要求。因此,我们选用了两个线阵CCD同时测式的高精度角度测量设备。常规是采用面阵CCD量两维数据。随着CCD技术的发展,CCD的测量精度限制了收稿日期:2013-07-20,修回日期:2013-10-10

6、作者简介:郭雨蓉(1983-),女,工程师,主要研究方向:仪器仪表研发以及相关技术研究。·42·宇航计测技术2014年其在各领域更多的应用。CCD的一项重要技术指值算法具体步骤如下:标是灵敏度。由于CCD中的暗电流、量子效应、材-①由被测数据Xi得出被测数据的平均值X质结构等局部差异性和各种噪声的存在,各像素对n-1于相同的副照度产生的灰度值并不相同,甚至有较X=∑Xi(1)ni=1大的差异。如果采用未经过校正的CCD直接捕获-一个灰度均匀的目标时,可能会输出强度不均匀的式中:Xi———被测数据;n———被测数据个数;X———目标图像,这将对目标识别及后续

7、图像处理中的目被测数据平均值。标提取与测量不利,特别是在高精度测量系统中各-②计算每一测量值Xi相对于均值X的偏差量像素响应的非均匀性对成像质量有更大影响,必须ΔXi进行非均匀性校正。虽然CCD制造企业极力想克-服这些差异,但差异还是客观存在的,并且很有可能ΔXi=Xi-X(2)随着应用时间和环境的变化,差异的大小也随之发式中:ΔXi———测量值相对于平均值的偏差量。生变化。③将偏差量ΔXi代入权值函数f(X),做归一化目前,对CCD像元灵敏度非均匀的研究还不是处理,得到每个测量值的权值Δai很多。在CCD应用场合对CCD像元灵敏度的差异Δai=f(ΔXi

8、)(3)也没有广泛的认知,还没有比较成熟的、能够在实际式中:Δai

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。