透明矿物薄片的系统鉴定

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1、第六章透明矿物薄片的系统鉴定偏光显微镜下对透明矿物薄片进行系统的光学性质测定，通常用于鉴定未知矿物或已知矿物的精确定名。透明矿物薄片的系统鉴定，必须配合手标本观察，在系统测定光学性质之前，首先要观察矿物手标本的晶形、颜色、光泽、硬度、条痕、解理、断口、次牛变化及共生组合等，并需了解矿物的野外产状。如果经过系统鉴定之后，仍不能准确定出矿物名称，还需配合其他方法，作进一步鉴定。一、透明矿物薄片系统鉴定的内容（一）单偏光镜卜的观察晶形：观察晶体的完整程度，结晶习性。根据各方向切面形态，初步判断品体形状及可能属于那一个品系。解理：观察解理

2、的完全程度，根据不同方向的切面上的解理，判断解理的组数。如为两组解理，需要测定解理夹角。尽可能确定解理与结晶轴之间的关系。突起：观察矿物的边缘、糙面及突起的明显程度，结合贝克线移动规律确定其突起等级，估计矿物折射率的大致范围。颜色、多色性：观察矿片有无颜色，如有颜色，则观察有无多色性、多色性的变化情况。并在定向切片上测定多色性公式及吸收公式。此外，还应观察有无包裹体，其排列与分布情况。有无次生变化,其变化程度及变化产物。（二）正交偏光镜下的观察干涉色：观察矿片的最高干涉色级序，在平行光轴或光轴面切片上详细测定干涉色级序。有无异常干

3、涉色，其特点如何。测定双折率：根据矿片的最高干涉色级序、薄片厚度，确定双折射率值。消光类型：根据不同方向切片上的消光情况，确定矿物的消光类型。测定消光角：对斜消光的矿物，在定向切片上测定消光角。测定延性符号：对一向延长的矿物，测定其延长方向的光率体椭圆半径名称，确定延性符号。双晶：观察矿物有无双晶，确定双晶类型。（三）锥光镜下的观察根据有无干涉色图区分均质体与非均质体。根据干涉图特征确定轴性（区分一轴晶与二轴晶）、切片方向。测定光性符号、光轴角大小。二、定向切片的选择及其特征上述光学性质中，如多色性公式、干涉色级序、双折率大小，消

4、光角大小及光轴角大小等，通常都需要在定向切片上测定。常用的定向切片有垂直光轴切片及平行光轴切片（或光轴面）切片。其特征如下：（一）垂直光轴切片光率体切面为圆切面，其半径等于No（或Nm）。单偏光镜下不显多色性（如为具多色性矿物）；正交偏光镜下全消光（有吋呈暗灰色,但转动物台其明暗变化不明显）；锥光镜下显垂直光轴切片干涉图（一轴晶与二轴晶）。在这种切片上可以测定下列光学性质：1•测定No（—轴晶）或Nm（二轴晶）的颜色及主折射率No或Nm值。2・确定轴性（区分•轴晶与二轴晶），测定光性符号。3・估计（或测定）2V大小。在岩石薄片中往

5、往不易找到严格垂直光轴的切片。一轴晶矿物可以用光轴倾角不大，近于垂直光轴的切片代替。这种切片的光率体椭圆半径为Ne'与No,其多色性较弱，干涉色较低，干涉色中黑十字交点虽不在视域中心，但仍在视域内。二轴晶矿物可用垂直光轴面的斜交光轴切片代替（最好是光轴倾角不大），这种切片的光率体椭圆半径中总有一个半径是Nm,即其椭圆半径为Nm与Ng，或Np，。其多色性较弱，干涉色较低。当光轴切面与PP、AAZ—平行时，直的黑带平分视域，此时垂直黑带的方向为Nm方向。（-）平行光轴（一轴晶）或光轴面（二轴晶）切片光率体椭圆切面半径为Ne与No或Ng

6、与Np,多色性最明显（具多色性矿物），干涉色级序最高，显瞬变干涉图。在这种切片上可测定下列光学性质；1・观察多色性的明显程度，测定Ne与No（一轴晶）或Ng与Np的颜色（二轴晶）。2.观察闪突起现象，测定主折射率值Ne与No或Ng与Np（-轴晶）。3•测定最高干涉色级序及最大双折率值。4•测定消光角（适用于单斜晶系，Nm与Y轴晶一致的矿物）。三、透明矿物薄片系统鉴定的程序（一）区分均质体与非均质休矿物均质体矿物各方向切片，在正交偏光镜间均为全消光，在锥光镜下无干涉图。非均质体矿物，只有垂直光轴切片在正交偏光镜下全消光，其它方向切片

7、在止交偏光镜下出现四次消光，四次明亮，如用白光照射并产生干涉色。非均质体矿片在锥光镜下产生各种类型的干涉图。（二）均质体的鉴定在单偏光镜下观察晶形、解理、颜色及突起等级等特征。（二）非均质体的鉴定通常采用下列程序：1.在单偏光镜下观察晶形、解理、测定解理夹角、颜色、突起等级等特征。在正交偏光镜下观察消光类型，如为平行消光，测定性符号，观察双晶类型等。2.选择一个垂直光轴的矿片，在锥光镜下，根据干涉色特征确定轴性，测定光性符号。如为二轴晶，估计2V大小。如为有色矿物,用这种切片在单偏光镜下观察No或Nm的颜色。如果薄片中找不到垂直光

8、轴的切片，一轴晶可选一个光轴倾角不大的斜交光轴切片测定上述光学性质。利用这种切片观察No颜色时,应先在正交偏光镜下确定No的方向，并使No平行PP（此吋矿片消光）后，推出上偏光镜，观察No的颜色。二轴晶可以选一个垂直光轴面的斜交光轴切片（光轴倾角不