透明矿物系统鉴定

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1、实验九透明矿物的系统鉴定一、实验目的要求：运用前面各次实验所学的原理和方法，对一种透明矿物晶体的主要光学性质作详细观察和系统描述，并根据所测定的主要光性特征确定矿物名称。二、实验设备：角闪石薄片（晶光2）三、实验指导晶体的光学性质通常需要在定向切面上测定，常用的定向切面有垂直光轴切面或平行光轴或光轴面的切面。1、垂直光轴切面光率体切面为圆切面，其半径等于No（或Nm）。单偏光镜下不显多色性；正交偏光镜下全消光（有时呈暗灰色）；锥光镜下显垂直光轴切面干涉图。在这种切面上可以测定下列光学性质：（1）测定No（一轴晶）或Nm（二轴晶）的颜色及主折射率No或Nm值。（2）确

2、定轴性，测定光性符号。（3）估计2V大小。在薄片中往往不易找到严格垂直光轴的切面，可以用近于垂直光轴的切面代替。2、平行光轴（一轴晶）或光轴面（二轴晶）切面光率体椭圆切面半径为Ne与No、或Ng与Np，多色性最明显（具多色性晶体），干涉色级序最高，显瞬变干涉图。在这种切面上可测定下列光学性质；（1）观察多色性的明显程度，测定Ne与No、或Ng与Np的颜色。（2）观察闪突起现象，测定主折射率Ne与No、或Ng与Np值。（3）测定最高干涉色级序及最大双折射率值。（4）测定消光角。四、实验步骤：1、检查显微镜的中心是否需要校正，检查上下偏光是否正交，目镜十字丝是否与上下偏

3、光镜振动方向一致。2、晶体薄片系统鉴定程序（1）区分均质性与非均质性晶体均质性晶体各方向切面在正交偏光镜间均为全消光，在锥光镜下无干涉图。非均质体晶体只有垂直光轴切面在正交偏光镜下全消光，其它方向切面在正交偏光镜下出现四次消光，四次明亮，如用白光照射并产生干涉色。非均质性晶体在锥光镜下产生各种类型的干涉图。（2）均质性晶体的鉴定在单偏光镜下观察晶形、解理、颜色及突起等级等光学性质。（3）非均质性晶体的鉴定通常采用下列程序①单偏光镜下观察晶形、解理、测定解理夹角，颜色、突起等级等。在正交偏光镜下观察消光类型，如为平行消光，测定延性符号，观察双晶类型等。②选择一个垂直光

4、轴或近于垂直光轴的切面，在锥光镜下，根据干涉图特征确定轴性，测定光性符号，如二轴晶估计2V角的大小，若为有色晶体，用这种切面在单偏光下观察No或Nm的颜色。③若为一轴晶晶体，选择一个平行光轴的切面。在正交偏光镜下测定最高干涉色级序，最大双折射率值。若为有色晶体，使Ne平行下偏光振动方向PP，在单偏光镜下观察Ne的颜色，转动物台900，使No平行下偏光振动方向PP，观察No的颜色。同时观察多色性明显程度、吸收性，并写出多色性公式及吸收性公式。观察闪突起。④若为二轴晶晶体，选择一个平行光轴面的切面，在正交偏光镜下测定最高干涉级序、最大双折射率值，消光角大小，确定Ng与N

5、p的方向。若为有色晶体，使Ng平行下偏光镜振动方向PP，在单偏光镜下观察Ng的颜色；转动物台900，使Np平行PP，观察Np的颜色。同时观察多色性明显程度、吸收性及闪突起现象。结合垂直光轴切面上观察Nm颜色，写出多色性公式及吸收性公式。五、系统鉴定内容：（一）单偏光：1、晶形；2、颜色或多色性（多色性公式）；3、糙面、边缘突起（估计折光率大致范围）；4、解理及解理角；5、其它特点（如包裹体、次生变化等）。（二）正交偏光：1、最高干涉色，最大双折射率（设薄片厚度为0.03mm）；2、消光类型及消光角（对于单斜晶系的矿物要测Ng）；3、延性；4、双晶；5、其它特点（如异

6、常干涉色等）。（三）锥光：1、轴性；2、光性正负；3、光轴角（2V）（四）定名：根据所测定的光性数据查〈光性矿物学〉或其他光性鉴定表。对照光性数据与那种矿物一致或最接近，就定名为那种矿物。六、系统鉴定报告：（一）单偏光下：（二）正交偏光下：（三）锥光镜下：思考题1、测定一轴晶的Ne应选取哪种晶体切面？2、测定二轴晶的Ng、Np应选哪种晶体切面？3、垂直光轴的切面有何特点及用途？4、一轴晶平行光轴和二轴晶光轴面的切面有何特点及用途？5、如何对透明晶体材料进行系统鉴定？