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时间:2019-11-19
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1、SPC:统计过程控制课程大纲四、控制图实例演练五、常用休哈特控制图详解六、控制图控制限的确定七、控制图判断准则八、过程能力研究九、课程练习一、SPC产生的历史背景及其意义二、SPC相关统计基础知识三、控制图原理原理应用分析2质量管理发展的三个阶段质量检验阶段统计质量控制阶段全面质量管理阶段第一章SPC产生的历史背景及其意义3历史背景二十世纪二三十年代生产力的巨大发展,社会竞争不单纯是产量的竞争,质量控制日益重要,依靠事后检验无法竞争,预防为主的统计质量控制得到重视和发展。第一章SPC产生的历史背景及其意义4PROCESS原料人机法环测量结果好不好不
2、要等产品做出来后再去看它好不好而是在制造的时候就要把它制造好过程和结果第一章SPC产生的历史背景及其意义5贝尔实验室的课题组现代质量管理的基石为了保证预防原则的实现,20世纪20年代美国贝尔电话实验室成立了两个研究质量的课题组,一为过程控制组,学术领导人为休哈特(waltera.shewhart);另一为产品控制组,学术领导人为道奇(Haroldf.dodge)。其后,休哈特提出了过程控制理论以及控制过程的具体工具——控制图(controlchart),现今统称之为SPC;道奇与罗米格(h.g.romig)则提出了抽样检验理论和抽样检验表。这两个研
3、究组的研究成果影响深远。第一章SPC产生的历史背景及其意义61924年发明W.A.Shewhart发明第一张控制图1931发表1931年Shewhart发表了“EconomicControlofQualityofManufactureProduct”1941~1942制定成美国标准Z1-1-1941GuideforQualityControlZ1-2-1941ControlChartMethodforanalyzingDataZ1-3-1942ControlChartMethodforControlQualityDuringProduction控制
4、图的发展第一章SPC产生的历史背景及其意义7总体与样本的关系第二章SPC相关统计基础知识注意,总体参数与样本统计量不能混为一谈。总体包括过去已制成的产品、现在正在制造的产品以及未来将要制造的产品的全体,而样本只是从已制成产品中抽取的一小部分。故总体参数值是不可能精确知道的,只能通过以往已知的数据来加以估计,而样本统计量的数值则是已知的。8常用统计量第二章SPC相关统计基础知识9注:通常,极差用于测定个数n小于10的场合,当n大于10时,一般用标准偏差s表示离散程度。1、极差R测定值中的最大值Xmax与最小值Xmin之差,用R表示。偏差:各个测定值X
5、i与平均值X之差称为偏差,对偏差不能直接取平均,因为偏差有正有负,取平均会正负相抵,无法反映分散的真实情况,所以通常用偏差平方和来反映数据的总波动。2、偏差平方和S则偏差平方和:各个测定值的偏差的平方和称为偏差平方和,简称平方和,用S表示。设各个测定值为X1,X2,…,Xn,其平均值为第二章SPC相关统计基础知识103、样本方差s2各个测定值的偏差平方和除以(n-1)后所得的值称为样本方差(简称方差),用s2表示。4、样本标准偏差s方差s2的算术平方根为样本标准偏差(简称标准差),用s表示。注:方差s2的单位为测定值单位的平方。注:标准差s的单位与
6、测定值的单位相同。第二章SPC相关统计基础知识11自由度的概念因为n个偏差的总和必为0,所以对于n个独立的数据,独立的偏差个数只有n-1个,称n-1为偏差平方和的自由度。因此样本方差是用n-1而不是n除偏差平方和。第二章SPC相关统计基础知识12第二章SPC相关统计基础知识正态分布基础知识:正态总体参数的估计正态均值μ的无偏估计有两个,一个是样本均值,另一个是样本中位数正态方差的无偏估计常用的只有一个,就是样本方差s2正态标准差的无偏估计也有两个,一个是对样本极差R=X(n)-X(1)进行修偏而得,另一个是对样本标准差S进行修偏而得,具体是:其中d
7、2与C4是只与样本量n有关的常数。13SPC中常用统计分布第二章SPC相关统计基础知识14总体平均值=μ标准差=σμμ+ksμ-ks抽样正态分布基础知识第二章SPC相关统计基础知识15μ±kσ在内的概率在外的概率μ±0.67σ50.00%50.00%μ±1σ68.26%31.74%μ±1.96σ95.00%5.00%μ±2σ95.45%4.55%μ±2.58σ99.00%1.00%μ±3σ99.73%0.27%正态分布基础知识第二章SPC相关统计基础知识1668.26%95.45%99.73%μ+1σ+2σ+3σ-1σ-2σ-3σ正态分布基础知识第
8、二章SPC相关统计基础知识17正态分布基础知识:中心极限定理总体分布均值分布第二章SPC相关统计基础知识定理1:设X1,X
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