荧光分析问答

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1、171.我用的压片机,手柄摇很久都没见有压力,请大家支个招.(1)是不是汕箱漏汕啦?(2)油没有问题I吧,估计和油及油路有关(3)你是不没有把放空阀拧上就个压了.呵呵.禹棚也是用的那个做红外了•我试过压力到30以后指针自动缓慢的往回退.172.求教:在RoHStest中,如何确定ODD,HDD,MEM,CPU,CAMERA等ALEVEL材料中的风险点,有多少个风险点,如何测试?针对keyparts材料考虑到成本的问题建议:1.均质拆解ODD.HDD.RAM2.初步拆解后筛选高风险的样品3.定义高风险材料在

2、测试SOP中客户肯定是要求全部都测试,这样在他看來是最好的.所以自己要定义高风险的种类:PCB,锡点,金属合金,package173•用HoribaXGT-1000,每次加完液氮后,测量时时间超长,DT时间超过70%,请问是什么原因啊?DT时间过长,检测器有问题,如果只是加了液氮那小段时间有这个问题,有可能是检测器述没完全冷却你就开始测试了•如果老是这个样了,检测器就要坏了,即使没坏,也用不了多久了,一般大多仪器如果死亡时间超过40%就会显示红色,也就是不正常测试/.建议你如果DT有70%,最好停止测量,

3、检测器坏了,换一个很贵的.174.在501Y融熔炉钳金钳锅熔综合南非矿样已经熔好出炉的样,在冷却时出现裂纹并有黑点请教是何原因?(1)可能是助熔剂与样品没有混匀的原因。(2)消除黑点先,(黑点可能导致冷却时破裂)冇可能是冷却速度太快•-这和埔埸也冇关系.(3)可能与氧化或温度有关(4)我想黑点是悬浮在玻璃中的吧,那么有可能是没有氧化好.先氧化试样看看.冷却方法冇的是抽气式的,同时冇可能导致冷却的不均匀,如果存在夹杂,很容易裂.白然冷却就可以了.(5)可能原因:1、混合不均匀2、脱模剂加少了3、绘好加氧化剂

4、,预氧化一下4、可以试一下不用风冷,用白然冷却175.做炭素X-荧光光谱仪用下照射的好还是上照射的好?(1)做炭素微量元素分析,X-荧光光谱仪上、下照射方式并不重要,分析液体样品时下照射式要优于上照射式XRF.⑵碳素的分析一般采用粉末压片方法,这样的话当然使用上照射要好的多,而且尽可能购买多道同时型仪器,不但速度快,更璽要的是碳素是检测其中的微量元素的,多道仪器的乂敏度要比扫描型仪器高得多(3)XRF能做碳精度不是很好,而fl.要求非常大的电流才行,这样对X光管损伤很大,以前有•人用XRF做碳、氮但是不到

5、一年时间X光管强度降低很多,照这样做X光管寿命不会超过2年,建议不要用174.含C的耐火材料是怎么分析的?(1)可以高温烧碳后熔片分析,然后利用烧失量计算样品小各元素含量(2)nJ以用直接压片法和熔融制样法,根据要求的精度来定。175.光谱仪中光管分为液痰制冷,电制冷,水制冷哪个更好啊?或者其他制冷哪个更好!(1)液氮制冷,电制冷”是针对detector的,X-Raytube的冷却有水冷、风冷、电制冷或者其他组合方式制冷的。LN2给光管制冷理论上完全可以,但是、至少今天这样的管子还没有出世。(2)使用液氮

6、來做冷却授好,温度可达到零下196摄氏度(3)我所知道的有循环水制冷和半导体制冷,循环水制冷用于功率人的波长色散型,能量色散型功率小点一般半导体制冷就可以了⑷据了解,X射线管应该是冇水冷(循环水)、油冷(导热油)、空冷方式儿种,液氮虽然冷却效果好,但是消耗太人,不符合实际使用情况。(5)我认为在一般情况下X射线管水冷(循环水)比较合适。(1)光管H前只有液体冷却和电子冷却,建议选液体冷却的(2)光谱仪屮光管的制冷主要是水制冷(内循环,肓接对光管冷却),外循环有水冷和风冷两种方式,荧光仪波谱采用的较多•探测

7、器制冷的方式冇电制冷,液氮制冷和水制冷等方式,主耍用在能谱仪和电镜及部分光谱仪上.17&重复性与再现性的区别?简单的解释:重复性在相同的条件卜•所测数据的偏离程度。再现性在不D-J的条件下所测数据的偏离程度。179.仪器:ARL9800使用年限:4年问题:前几天,我在分析烧结矿时发现Fe元素的光强突然增高了,变化大概50左右,(分析方法是压片分析),用标样观察了两天,Fe的光强仍然高,但分析的重现性很好,没办法只有重新做了曲线,谁知刚做完曲线的第二天Fe的光强又降了50左右,高压和位置校正都没问题;光强变

8、化的还有Si,Ca,但变化和Fe的相反,想请教大虾,帮我分析一下这到底是什么原因造成的?(1)冇可能是射线管老化(2)应该是制样的问题(3)我觉得是谱线换了180.请问我们在用EDX测试铜合金高浓度Pb为什么测不准?(1)请问是否是用铜合金的标准Illi线的方法分析的?如果是这样的话,检查一下标准Illi线的线性范围,因为标准曲线法只有Pb的含量在线性范围内才比较准.(2)要看仪器标准曲线中有没冇高含量Pb的数据,如果没冇,测

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