材料测试分析

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1、题型:简答题、计算题Chapterl:Introduction:1.电镜放大倍数Highresolution:TEM(<1A),SEM(4A)Highmagnification:TEM(lMx),SEM(300Kx)2.测试方法有哪些,应用及特点1.X射线衍射(XRD)晶体结构、晶格参数、晶体缺陷、物相分析、内应力(宏观应力)等2.电子显微镜(1)透射电子显微镜组织形态与结构同位分析(成分分析)(2)扫描电子显微镜与电子探针结合使用,可形貌观察与化学成分同位分析(3)电子探针显微分析成分分析(4)俄歇电子能谱表面成分分析(5)X射线能谱仪(6)离子探针3

2、.热分析:分析研究在加热或冷却过程中物质的物理变化和化学变化过程TGA:热重分析;测重量TMA:热机械分析;测尺寸DTA:差热分析;测温度(测试温度可达1600°C)DSC:差示扫描量热分析;测能量(测试温度700°C)3.TEM与光学显微镜相比三大特点Chapter2:1.XRD第P4公式2.CharacterofX-ray:wave-particledualism■X・raysmaybedescribedaswavesandparticles,havingbothwavelength(九)andenergy(E)E^hv■Intheequations

3、atleft:(2)■£istheenergyoftheelectronfluxinKeV■hisPlanck5sconstant(4.135xIO15eVs)■visthefrequency■cisthespeedoflight(3x1018A/s)■2isthewavelengthinA■Substituting(1)into(2)yields(3),therelationshipbetweenwavelengthandenergy.■In(4)allconstantsaresubstituted2.滤波片阳极靶的选择TargetselectionI

4、nordertoavoidfluorescentradiationandminimizeabsorptionoftheincidentbeam,itisimportanttoselectradiationforX-raydiffractionmeasurementsthathasawavelengthclosetoanabsorptionminimum,andonthelongwavelengthsideoftheabsorptionedgeforthespecimen.阳极靶K«波长稍大于试样K的吸收限Z^

5、i-elementcompounds:wherew;iselementalwt.fraction■ThevalueoftheXmassabsorptioncoefficientgmisafunctionbothofthephotoelectricabsorptiontandthescattero:Am=f(T)+")■However,f(t)isusuallylargeincomparisonwithf(o).(Photoelectricabsorptionwilloccurateachoftheenergylevelsoftheatom・Thusthe

6、totalphotoelectricabsorptionwillbedeterminedbythesumofeachindividualabsorptionwithinaspecificshell.)质量吸收系数1)单质元素。■吸收体物质的密度,厂质量吸收系数(cm2・g"),表示单位重量物质对X射线的吸收程度,对于波长一定的X射线和一定物质,其为一定值。1.布拉格方程计算,变形公式,代表的物理意义4.1布拉格方程的导出X射线照射到原子面中,所有原子的散射波在原子面反射方向上的相位是相同的,是干涉加强方向2dSin0=nAWhere:Z=Waveleng

7、th0=X-rayincidenceangle,20=difIractionangled=Latticeinter-planarspacingofthecrystaln=anintegerknownastheorderofthediffractedbeamForparallelplanesofatoms,withaspacedhklbetweentheplanes,constructiveinterferenceonlyoccurswhenBragg'slawissatisfied.WhentheX-raywavelengthisfixed,afamil

8、yofplanesproducesadiffractionpeakonlyata

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