加速退化试验与加速寿命试验技术综述_王召斌

加速退化试验与加速寿命试验技术综述_王召斌

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1、·综述·低压电器(2010№9)加速退化试验与加速寿命试验技术综述1,211王召斌,任万滨,翟国富(1.哈尔滨工业大学军用电器研究所,黑龙江哈尔滨150001;2.江苏科技大学电子信息学院,江苏镇江212003)摘要:加速退化试验与加速寿命试验是解决高可靠性、长寿命产品可靠性评估等问题的两种重要加速试验技术。介绍了加速退化试验与加速寿命试验的基本概念,对两者进行了简单的比较,并进一步对加速退化试验与加速寿命试验技术的国内外相王召斌(1982—),关研究现状进行了概述。最后,对该领域的研究方向进行了展望。男,助教

2、,博士研究关键词:加速退化试验;加速寿命试验;可靠性生,主要研究方向中图分类号:TM506文献标志码:A文章编号:1001-5531(2010)09-0001-06为电器贮存可靠性及寿命预测技术。ReviewofAcceleratedDegradationTestingandAcceleratedLifeTesting1,211WANGZhaobin,RENWanbin,ZHAIGuofu(1.MilitaryApparatusResearchInstitute,HarbinInstituteofTechnol

3、ogy,Harbin150001,China;2.SchoolofElectronicsandInformation,JiangsuUniversityofScienceandTechnology,Zhenjiang212003,China)Abstract:Accelerateddegradationtesting(ADT)andacceleratedlifetesting(ALT)weretwoimportantkindsofreliabilityacceleratedtestingtechnologyfo

4、rreliabilityassessmentofhighreliabilityandlonglifeproducts.ThebasicconceptsofADTandALTwereintroduced,thenthecomparisonbetweenADTandALTtechnologiesweredescribed.Thestateofartsinthisresearchconcernedwasthenbrieflyreviewed.Finally,thepossibledirec-tionsandsomes

5、uggestionsweregivenforfurtherresearchinADTandALT.Keywords:accelerateddegradationtesting(ADT);acceleratedlifetesting(ALT);reliability国内外研究者的广泛关注。0引言ADT是指通过提高应力水平来加速产品性随着可靠性水品的不断提高,出现了许过高能退化,采集产品在高应力水平下的性能退化数可靠性、长寿命的产品,如高可靠性的航天电子产据,并利用这些数据来估计产品可靠性及预测产[2]品,其使用寿

6、命和贮存寿命都比较长,要获得此类品在正常应力下的寿命时间的加速试验方法。产品的寿命数据,对其可靠性进行评估,用传统的在ADT中,“失效”一般定义为性能参数退化至低基于概率统计理论的传统可靠性试验通常会需要于给定的工程指标(即退化阈值)。产品性能参[3]较长的试验时间或很大的试验样本,且传统可靠数随测试时间退化的数据称为退化数据。除性试验方法在工程上亦很难实现。为缩短试验周产品的失效数据外,产品的性能退化数据也是可期,减少试验费用,人们迫切需要在较短时间内获靠性分析中的重要数据,NAIR曾指出退化数据[4]得产品

7、的可靠性信息,因此,产品的加速退化试验对可靠性评估来说是一个丰富的信息源。ADT(AcceleratedDegradationTesting,ADT)与加速寿的基本思想是利用高应力水平下的性能退化数据命试验(AcceleratedLifeTesting,ALT)作为可靠性去外推正常应力水平下的产品可靠性及寿命参[1]加速试验技术的两大重要组成部分,日益受到数。可通过加速退化数据分析加速退化轨迹与寿任万滨(1977—),男,副教授,研究方向为航天电器耐力学环境可靠性设计与试验技术。翟国富(1964—),男,教授,

8、博士生导师,博士,研究方向为电器可靠性理论与测试技术。—1—低压电器(2010№9)·综述·[9]命分布、加速方程之间的关系,建立基于伪失效寿其寿命长短。ALT试验方法主要利用截尾法命的可靠性模型,也可以通过加速退化数据分析来结束试验。性能退化量分布随时间的加速变化规律,建立基ALT只记录产品的失效时间,却不记录产品于性能退化量分布的可靠性模型。失效及失效的具体过程,而ADT通过对产品

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