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《碳化硅MOSFET的变温度参数建模_孙凯》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、DOI:10.13334/j.0258-8013.pcsee.2013.03.001第33卷第3期中国电机工程学报Vol.33No.3Jan.25,20132013年1月25日ProceedingsoftheCSEE©2013Chin.Soc.forElec.Eng.37文章编号:0258-8013(2013)03-0037-07中图分类号:TM85文献标志码:A学科分类号:47040碳化硅MOSFET的变温度参数建模12221孙凯,陆珏晶,吴红飞,邢岩,黄立培(1.清华大学电机系电力系统国家重点实验室,北京市海淀区100084;2.江苏省
2、新能源发电与电能变换重点实验室(南京航空航天大学),江苏省南京市210016)ModelingofSiCMOSFETWithTemperatureDependentParameters12221SUNKai,LUJuejing,WUHongfei,XINGYan,HUANGLipei(1.StateKeyLabofPowerSystems,DepartmentofElectricalEngineering,TsinghuaUniversity,HaidianDistrict,Beijing100084,China;2.JiangsuKeyLa
3、boratoryofNewEnergyGenerationandPowerConversion(NanjingUniversityofAeronauticsandAstronautics),Nanjing210016,JiangsuProvince,China)ABSTRACT:APSpiceSiCMOSFETmodelwasproposedin效率评估提供了重要的依据。thispaper,whichissuitableforawidertemperaturerange.The关键词:碳化硅MOSFET;变温度参数;PSpice建模;Buck
4、temperaturedependentsourcesareadoptedtodescribethe变换器staticcharacteristics.Theeffectofnegativeturn-offdrivevoltageisalsotakenintoaccount.Thecharacteristicsatlow0引言temperatureweremeasured,whichprovidemodelingbasis.半导体技术一直是推动电力电子行业发展的Thusthismodelfeatureshighaccuracyevenatlow
5、决定性力量。目前,功率硅器件(silicon,Si)的应用temperature.Keyparameterswhichcontributetostaticand[1]已经相当成熟,但随着日益增长的行业需求,硅dynamiccharacteristicsofSiCMOSFETwereanalyzedindetail.Theproposedmodelwasverifiedbytheexperimental器件由于其本身物理特性的限制,已经开始不适用testsonaBuckconverterprototypeatdifferentvoltages,
6、于一些高压、高温、高效率及高功率密度的应用currentsandtemperatures(from25℃to125℃).The场合。simulationresultsbasedontheproposedmodelmatchwell20世纪90年代以来,碳化硅(siliconcarbide,withthetestresultsinwaveformsandpowerlosses,whichSiC)MOSFET技术的迅速发展,引起人们对这种新havethemaximumerrorlessthan10%.Thesystemanalysis[2-4]
7、一代功率器件的广泛关注。与Si材料相比,碳andefficiencyevaluationofSiCconverterscanbeconducted化硅材料较高的热导率决定了其高电流密度的特basedontheproposedmodel.性,较高的禁带宽度又决定了SiC器件的高击穿场KEYWORDS:SiCMOSFET;temperaturedependent[5-6]强和高工作温度。尤其在SiCMOSFET的开发parameter;PSpicemodeling;Buckconverter与应用方面,与相同功率等级的SiMOSFET相比,摘要:
8、为在全温度范围内准确反映碳化硅(siliconcarbide,SiCMOSFET导通电阻、开关损耗大幅降低,适用SiC)MOSFET的工作特性,提出一种基于Pspi