材料分析原理与技术重点

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1、材料分析原理与技术一．单选1.当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（）CuFeNiMo2.XRD属于（）光谱能谱衍射花样3.一般来说什么样的样品适合于粉末衍射（）具有高度织构的样品无规则排列的多晶粉末单晶块材4.电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（）背散射电子俄歇电子特征X射线5.中心暗场像的成像操作方法是（）以物镜光栏套住透射斑以物镜光栏套住衍射斑将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑6.衍射仪法中的试样形状是（）丝状粉末多晶块状粉末多晶块状单晶任意形状7.面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是（）4861

2、28.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（）是否满足布拉格条件是否衍射强度I≠0A+B晶体形状9.衍射现象的产生是因为样品中有什么（）周期性排列的原子结构吸收限近似于入射光子能量的元素短程有序的无定形相10.X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（）哈氏无机数值索引芬克无机数值索引戴维无机字母索引11.XRD检测样品的什么信息（）样品中的元素检测样品中的官能团检测样品中的物相12.透射电子显微镜中可以消除的像差是（）球差像散色差13.当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（）短波限λ0激发限λk吸收限特征X射线14

3、.下列哪种材料不是常见的XRD的光管靶材（）CuCrAl15.衍射峰位一般不取决于（）入射X射线波长样品晶格尺寸样品的粒径16.一般粉末衍射实验的物相检出限是（）1%级1‰级ppm级17.下列哪种效应是XRD信号检测中尽量要避免的（）样品的织构样品的荧光样品对X射线的吸收18.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（）第二聚光镜光阑物镜光阑选区光阑19.非晶、准晶和晶体在XRD中最重要的区别是什么的不同（）峰位峰宽峰强20.一般粉末衍射实验需要的样品量是（）。克级微克级毫克级21.PDF卡片发布机构ICDD的前身是（）JCPDSFIZ-ICSDIUCR22

4、.M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（）KαKβKγLα23.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（）X射线透射学X射线衍射学X射线光谱学其它24.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（）。高阶劳厄斑点超结构斑点二次衍射斑点25.X射线衍射方法中最常用的方法是（）劳厄法粉末多晶法周转晶体法二．填空题1、X射线的本质是（电磁波），其波长为（0.01~10nm）。它既具有（波动性），又具有（粒子性），X射线衍射分析是利用了它的（波动性）。X射线的核心部件是（X射线发射器）。2、X射线一方面具有波动性，表现为具有一定的（衍射），另一方面又

5、具有粒子性，体现为具有一定的（质量和能量）。3.X射线与物质的相互作用有（散射、透射、吸收）4.X射线衍射仪在进行衍射实验时，常见的扫描方式有（连续扫描）和（步进扫描）。扫描速度的选择对衍射图谱有一定影响，扫描速度过快，会导致衍射峰（强度和分辨率下降），且峰值（向扫描）方向移动。5.入射X射线可使样品产生（相干散射）和（非相干散射）。其中（相干散射）是X射线衍射分析方法的技术基础。6.扫描电子显微镜常用的信号是（二次电子）和（背散射电子）。7.当波长为λ的X射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl）反射线的波程差为（nλ），相邻两个（HKL）反射

6、线的波程差为（λ）。8.X射线管滤波片的选择原则为（λkα光源>λ滤波片>λkβ光源），靶材的选择原则为（λkα光源>λk样品）。9.在利用X射线衍射仪进行衍射实验时，时间常数的选择对实验的影响较大，时间常数的增大导致衍射线的（背底变的平滑，但将降低分辨率和强度，衍射峰也将向扫描方向偏移）。这些变化给测量结果带来不利的影响。因此，为了提离测量的精确度，一般希望选用尽可能小的时间常数。10.透射电镜的物镜光栏装在物镜背焦面，直径20—120um，由无磁金属制成。其作用是：（减小球差、像散和色差；提高图像的衬度；方便进行暗场及衍衬成像操作）11.透射电镜的

7、主要特点是可对试样进行（组织形貌）与（晶体结构）同位分析.使中间镜物平面与物镜（像平面）重合时，在观察屏上得到的是反映试样（组织形态）的图像；当中间镜物平面与物镜(背焦面)重合时,在观察屏上得到的是反映试样(晶体结构)花样。12.扫描电子显微镜通过接收试样表面发出的二次电子成像.试样表面凸出的尖棱或小颗粒、陡斜面处,二次电子产额(高),在荧光屏上这些部位的亮度(高),而平面、凹槽底部处二次电子的产额(低),荧光屏上相应部位的亮度(低)。13.运动学理论的两个基本假设是（双光束近似）和（柱体近似）14.产生衍射的必要条件（满足布拉格方程），充分条件（衍射

8、强度不等于0）15.影响X射线衍射强度的因子：（洛伦兹因数）、（多重性因数)、（吸收因数）和（