中小尺寸Quick驱动原理

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1、中小尺寸Quick驅動原理介紹PE/江弘銘FullContact架構VcompathgatecomdataVGVDVDFullContact訊號Quick架構(1D1G)gatecomdataVGVDVDVGGVGVcomQuick架構(2D1G)gatecomdataVDVGGVGateVcomVDoddVDevenQuick架構(VGG)Quick訊號(Hi-Lock/Fullon)-1G1DQuick訊號(Normal/Pulse)-2G3DQuickPads5.6"ICbonding後:VGG->VGLVgate->VcomVdata->VcomVcom->V

2、comQuick測試優缺點優點:避免IC損失節省測試機台成本缺點:Fanout斷線無法檢出Dotdefect誤判為LinedefectITO-M2short亮點漏放Fanout斷線無法檢出現象:原因:Quick走線與FullContact走線不同改善措施:導入Innerquick設計Dotdefect誤判為Linedefect現象:原因:漏電流經過VGG產生之壓降，影響VD訊號。改善措施:1.降低VGG阻值(設計變更)2.建立教育sample(人員訓練)ITO-M2short亮點漏放現象:模組段微亮點(全黑)亮點(上黑下白)Quick無法檢出原因:驅動訊號差異改善措施

3、:1.變更VD測試訊號(測試機台成本增加)Quick訊號異常造成之defect無畫面畫面異常（全面性偏白or偏黑）奇偶線FlickerQuick訊號異常分析手法使用三用電表歐姆檔量測QuickPads尋找可能發生位置（layout圖面or顯微鏡）Laserrepair機台驗證（repairor惡化驗證)2501Noimage現象：無畫面分析：框膠處GlassFiber壓破Passivationlayer導致Quick訊號短路改善措施：框膠處不可有金屬crossover7003畫面異常現象：分析：外界異物造成Quick訊號短路(PDI走線處)改善措施：更改PDI走線位置

4、8002Noimage現象：無畫面分析：ESDdamage造成Vcom與Vdata短路改善措施：降低ESD發生頻率A202Flicker現象：畫面閃爍分析：ESDdamage造成Vcom與VGG短路改善措施：降低ESD發生頻率7004畫面異常現象：模組段點燈測試畫面異常分析：VGL與VGG連接處之線路遭ESD破壞，形成開路，於ICbonding後之點燈測試時，VGG開關無法被VGL電壓鎖住，改善措施：降低ESD發生頻率5602RA高溫測試畫面異常1.客戶反應5.6“產品於高溫測試時，當溫度超過50℃，會出現顯示畫面異常現象，當溫度回到室溫時，畫面則恢復正常。2.量

5、測異常品之Vcom訊號，電壓準位會因溫度上升而有偏移現象。3.於不同溫度下，VCOM電壓變化量測結果Rootcauseanalysis:1.依客戶提供之NGsample於高溫50℃驅動時量測Vcom之currentleakage，與正常品比較有偏高之現象。量測方式及結果如下圖所示：a.Measurementframeworkb.Measurementresult2.因5.6”產品之Quickcircuit設計，Quicktestpin之Gate-even、Gate-odd、Data-even、Data-odd經由VGG之device與Gate及Sourceline

6、相連，但於FPCcircuit設計時則連接至Vcom，當模組端驅動時，因VGGdevice電子移動率會因溫度增加而上升，導致Vcomcurrentleakage增加，當客戶端模組電路設計提供之Vcom訊號電流推力不足時，panel內之Vcom電壓會隨著currentleakage產生變化，而導致顯示畫面顏色異常之現象產生。3.為證明上述之推論，使用laserrepair機台將NGsample　Quicktestpin之Gate-even、Gate-odd與FPC之Vcom連接處切斷，重新於高溫50℃時驅動，未發現顯示畫面顏色異常之現象。改善措施:1.顧

7、客端產品建議客戶依照下列方法進行Lasercut。GateevenGateodd2.CMO針對5.6“產品進行光罩改版，移除Data-odd、Data-even、Gate-odd及Gate-evenpad與FPC間的線路共4處。[Beforechange][Afterchange]驗證結果:1.Lasercut後之產品重新於高溫50℃時驅動，未發現顯示畫面顏色異常之現象。2.光罩改版後之產品做高溫高溼(60℃;90%RH)測試持續操作500小時，經CMORA實驗室認定Pass。Thankyou