OEE系列---基于TOC理论的OEE的应用()

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1、基于TOC理论的OEE的应用摘要：在介绍OEE与TOC理论的基础上，将两者的优缺点互补，引入IEE概念进行瓶颈诊断，开展了TPM活动以提高系统整体效率，同时捉出一宏观与微观相结合的企业数据收集与处理模型。结合冃前国内半导体厂实时性差的特点,介绍了一品圆制造过程实时系统工作流程。关键词：设备综合效率OEE,约束理论TOC,设备固有效率中图分类号：C37;0931.6文献标识码：A文章编号：1003-353X(2005)08-0004-041引言半导体制造投资巨大,尤其是设条成本极其昂贵，因此，有效利用设备一直是企业关注的焦点。

2、山于OEE(整体设备效率)考虑了设备所有的运行情况，计算方便准确，且更加适合柔性生产设备，弥补了传统计算效率方法的不足，因而得到了广泛的应用。但由于OEE针对的是单台设备，缺乏系统性，因此本文引入TOC理论，在对OEE与TOC进行简要介绍的基础匕提出一基于TOC理论的OEE应用模型,将定性与定量相结合，以期弥补OEE的不足,提高具应用的效率。2OEE简介2.1OEE概念及计算：OEE计量设备及具规定能力制造好零件的时间百分率，是全面生产维护的一部分，衡量帶榕个制造过程的绩效。OEE由三个基本元素构成:可用效率(AE)、性能效

3、率(PE).合格品率＜RQ)。OEE计算模型如下:OEE-AEXPEXRQ中."动时间负荷时亦=负荷时何-故用停机时间-设爲调总时间二而I#时间-计划停机时何PE-生产效宰(OE)X逢浚效率(RE)OE-加工数廉X实杯加工周期/H动时仙RE-理论卄幼周期/实杯加I时何合格品救耶RQ7总加工数尿2.2OEE的分类:2.1中介绍的是标准OEE的计算。另外,根据计算与分析的需要,OEE又可分为：产品OEE、需求OEE及群设备OEE。(1)产品OEE(OEEp)是在产品可获得情况下,对设备效率衡量的一种方法,它是在标准OEE中去除设

4、备可运行但缺料加工的情况。其计算如下:OEE=AEXPEXRQ：贰中:PE『产品操作率X细效比率产品生产时间实际产出设备可运行时何缺料空间时间*理论产岀DC实际产岀肚・(何淤啸+报废笊》KQ=实际产出疑(2)需求OEE(OEEd)是衡量与产品计划有关的设备效率。计算需要有工厂产能模型.以标识设备计划闲置时间或计划无WlP时间。OEEd从设备开动时间内去除了计划闲宣时间，其计算公式如下：()1汪广AEXPE、XRQHr中，PE-盂求竹:能有效竹X绩效比率X绩效比率设备开动时间-汁划闲置时间产品生产时间(3)群设备OEE目前SE

5、MI（国际半导休设备与材料组织）还未对梵明确定义,对其木身衡量指标尚待进一步研究。2.1OEE实质OEE实质就是生产周期内理论加工时间和负荷时间的百分比，它可以从标准OEE的计算公式中推导出來OtE=AEXPEXRQ开劝时何负荷时何"牛产效率X速度效率）开妙时何负荷时何"［总加丄数秋实叼;加L时佃J开动时何X理论加「时间］X介恪品数届实际加匸时何」总加I〔数肚理论加丄时间X介格品数M合格产佔理论加门I寸间■负荷时间二负荷时间即实际产量与负荷时间内理论产量的比值。2.4利用OEE进行损失分析利用OEE可以进行主要设备损失分析。

6、首先，通过OEE模型各子项的分析，可以很容易地找岀影响设备效率的原因，然后有针对性地解决问题，达到提高设备效率的冃的。OEE根据其三类元素将设备效率的主要损失归为六大类（表1）。表1六大设备损失OEE元素上要损失损失原因该损失所属状态时间时间开动率设备故障设备故阳童外宕机时间加「工艺失迓设施故障设备调整PM计划宕机时阿计划调整菲计划调整克外宕机时间竹能开动丰无加工料不生产时何无操作工测试时何engineering产能冇限生产时何速度下降Stoppagczassisl合格比率过程缺陷回漁良率降低废料2.5OEE的优点与不足与传

7、统计算设备利用率的方法相比,OEE具有明显的优势。传统的方法仅专注于可用效率,OEE还考虑到效率及质量因素，它使决策者能同时关注设备的多方面，便于采取相应调整措施。但OEE也有其自身的局限性，它针对的是单台设备，缺乏全局优化观点。计算OEE虽然方便，但耍分析其相应参数,却需大量精确数据,而由于生产的动态性及环境的变化，这些数据不易获得。要对OEE进行改善，需大虽的人力、物力，可能涉及到组织的毎一方而，如生产、维护、工艺部门。如果OEE仅仅被用作内部效率指标，则它对生产系统的贡献是微薄的。冈此，OEE需要与系统化观点结合，才能

8、实现生产系统的幣体改善。3TOC理论:1.1TOC理论简介约束理论(TheoryofConstraints)是以色列物理学家Goldratt提出的。TOC理论认为，对于任何一个由多阶段构成的系统來讲，如果其中一个阶段的产生取决于前面一个或儿个阶段产出的话，那么，那个产出率扱低的环节决定着整