高级分析5多层次参数

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1、ParametricPlotter（多层参数扫描）功能特点PSpiceAD/ParametricSweep：适用于DC、AC、TRAN，但只是单一层次（单一变量）的扫描分析。PSpiceAA中的ParametricPlotter在此基础上做了扩展：(1)也适用于DC、AC、TRAN；(2)扫描变量(元器件参数和模型参数)的个数没有限制，但是组合总数不得超过500；(3)可以分析元器件参数变化对信号波形（Trace）、电路特性（measurement）、或其组合（Expressions）的影响；(4)可以采用数据、曲线等多种方式查看并分析结果。ParametricPlot

2、ter的调用步骤1.准备工作：绘制好适用于高级分析的电路图。2.调用ParametricPlotter模块：执行PSpice/AdvancedAnalysis/ParametricPlot3.在SweepParameters子窗口选择扫描参数和扫描类型4.在Measurements子窗口指定待分析的电路特性名称5.选择执行Run/StartParametricPlot子命令运行扫描分析6.在Measurements子窗口名称为Results和PlotInformation的两个表格中分别以数据和曲线方式查看、分析运行结果实例：分析输出波形与输入信号振幅、频率的关系设置参

3、数扫描类型（SweepType）点击“Clickheretoimportaparameterfromthedesignpropertymap”，出现“SelectSweepParameters”对话框。设置参数扫描取值（SweepValues）指定扫描层次（SweepVariable）outer为最外层用inner后面的数字(从1开始)大小表示层次的深浅。inner后面的顺序编号数字越大，表示层次越深。选择measurements、Trace1、选择measurement表达式的方式与其他高级分析模块相同：(1)调用measurement表达式：点击“Clickhere

4、toimportameasurementcreatedinPSpice”。(2)添加measurement表达式：从快捷菜单中选择“CreateNewMeasurements”子命令选择measurements、Trace2、添加Trace表达式：执行快捷菜单命令“CreateNewTrace”。参数扫描结果分析1.在Results子窗口查看参数扫描结果。参数扫描结果分析2.扫描分析结果Trace的显示：选中traces那一列对应的黄色图标后再双击，在Probe窗口中即显示出对应的曲线。参数扫描结果分析在PlotInformation子窗口查看参数扫描结果设置以曲线形式

5、显示扫描分析结果的相关参数，包括：(1)PlotName（曲线编号）(2)XAxis（作为X轴的扫描变量名称）(3)YAxis（作为Y轴的电路特性名称）(4)Parameter（作为参变量的扫描变量名称）(5)Constant（其他扫描变量的固定取值）。在PlotInformation子窗口中点击””“Clickheretoaddplot”，屏幕上弹出PlotWizard对话框，引导用户完成参数设置。参数扫描结果分析设置曲线显示相关参数(1)选择Profile参数扫描结果分析设置曲线显示相关参数(2)选择X轴变量除了扫描变量可以选作为X轴变量外，也可以从下拉列表中选择t

6、ime（若选择的profile为Transient）或者frequency（若选择的profile为AC）参数扫描结果分析设置曲线显示相关参数(3)选择Y轴变量参数扫描结果分析设置曲线显示相关参数(4)选择参变量参数扫描结果分析设置曲线显示相关参数(5)设置其他扫描变量的取值参数扫描结果分析设置曲线显示相关参数参数扫描结果分析设置曲线显示相关参数(6)完成参数设置参数扫描结果分析显示曲线选中一条Plot所在行，执行快捷菜单中DisplayPlot命令，选中的Plot便显示在Probe窗口中参数扫描结果分析固定VAMPL=0.005(满足小信号条件)，V(OUT2)波形与

7、频率的关系频率越高，输出波形振幅越小，即放大倍数下降参数扫描结果分析固定VAMPL=0.1(不满足小信号条件)，V(OUT2)波形与频率的关系除了“频率越高，输出波形振幅越小，即放大倍数下降”外，由于输入信号振幅不满足小信号条件，输出波形出现失真。参数扫描结果分析输出信号波形与VAMPL的关系（FREQ为10kHz）VAMPL较大后，波形失真。参数扫描结果分析以VAMPL为参数的放大倍数随频率变化关系。随着频率提高，放大倍数下降。VAMPL不满足小信号条件时，等效放大倍数下降。