ITO导电玻璃检验标准

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1、深圳市正星光电技术有限公司内部编号ZX-WI-PZ-009编制部门品质部页次8/9文件名称ITO导电玻璃检验标准版本/次A/1制定日期2014-09-4生效日期2014-09-41.0范围本标准准适用于正星光电科技有限公司生产的ITO产品。2.0规范性引用文件2.1JISB0601—1994表面微观波纹度测量过程和方法的标准。2.2GB2828—2003计数抽样检验程序[第一部分按照接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划]。3.0玻璃基片的规格3.1长度及宽度的允许偏差、厚度允许偏差表序号检验项目标准范围测量方法1长度/宽度±0.20mm数显游标卡尺2厚度1.

2、10mm±0.1mm0.70mm±0.05mm0.55mm±0.05mm0.4/0.33mm±0.05mm千分尺3垂直度≤0.10%宽座角尺和塞尺3.2垂直度玻璃基片的垂直度的公差等级a/L≤0.1%（见图1，a为公差带，L为被测玻璃基片的相应边长）。图1玻璃基片的垂直度3.3弯曲度（h/L)图2玻璃基片的弯曲度，不允许S形弯曲3.4微观波纹度（玻璃的浮法锡面）深圳市正星光电技术有限公司内部编号ZX-WI-PZ-009编制部门品质部页次8/9文件名称ITO导电玻璃检验标准版本/次A/1制定日期2014-09-4生效日期2014-09-4微观表面波纹度的数值Rt的最

3、大值应符合表2要求序号厚度玻璃类型弯曲度微观波纹度11.10mm非强化≤0.10%≤0.15um/20mm强化≤0.20%20.70mm非强化≤0.15%≤0.20um/20mm强化≤0.25%30.55mm非强化≤0.15%≤0.25um/20mm强化≤0.30%40.4/033mm非强化≤0.15%≤0.30um/20mm强化≤0.30%bcd*d浮法方向切角磨边示意图a0.3*45°C型边3.5磨边倒角:R型边编号项目标准要求检验方法1C型倒边0.05mm≤W≤0.4mm10倍放大镜2R型倒边宽度:0.1mm≤W≤1.0曲半径:R≤50mm10倍放大镜3标识

4、角b=2.0±1.0mmc=5.0±1.0mm10倍放大镜4相同角A=1.5±0.5mm10倍放大镜5崩边长≤1mm,宽≤0.3mm深度≤1/2基片厚度10倍放大镜6破裂不允许目测7边、角未磨不允许目测3.6表面质量深圳市正星光电技术有限公司内部编号ZX-WI-PZ-009编制部门品质部页次8/9文件名称ITO导电玻璃检验标准版本/次A/1制定日期2014-09-4生效日期2014-09-4包括内部气泡、夹杂物、表面凹坑、异色点等。点状缺陷的直径d定义为：d=（L+W）/2，见图5。划伤缺陷的定义为：L3mm,W0.03-0.07mm见图6：图5点状缺陷的尺寸图6

5、划伤图形的尺寸3.6.1双面ITO产品表面质量检验标准No缺陷分类A品标准范围B品测量方法1内部气泡、杂质点、针眼、污点、锡斑、亮点、表面凹凸点、颗粒d=(W+L)/2d≤0.05mm不计0.050.20mm不允许D≤0.2mm,10个/片,允许;D>0.2mm,不允许.裸眼≥1000LUX（30W日光灯）光照条件距离玻璃30cm（注：客户有特别要求的，以客户要求为准）2玻筋日光灯下不可见3划伤宽度W≤0.03mm,不计;0.03mm≤W≤0.07mm,单个长度≤3mm,1条/片允许;W>0.07mm,不允许.W≤1mm,单个长度

6、≤100mm,1条/片允许.单个长度≤50mm,2条/片允许.单个长度≤10mm,5条/片允许.单个长度≤5mm,不计.间隔距离100mm以上W>1mm,不允许.4污染使用专用清洗剂经过正常清洗过程后清洗不干净的沾污不允许5膜层针孔d=(L+W)/2d≤0.05mm不计0.050.20mm不允许d≤0.05mm不计0.050.20mm不允许6毛边.锡斑.发霉批量性.表面看比较明显不允许7手指印超出边缘5mm，批量性可擦拭不允许8亮道划伤.污渍.手指印.轮印偶尔1-2片日光灯不可见允许，批量性日光

7、灯不可见不允许。9颜色日光灯检验有异色不允许10漏镀ITO不允许深圳市正星光电技术有限公司内部编号ZX-WI-PZ-009编制部门品质部页次8/9文件名称ITO导电玻璃检验标准版本/次A/1制定日期2014-09-4生效日期2014-09-411裂纹不允许12结疤不允许13玻璃屑不允许14粘附力不允许15质量保证区允许边缘5mm质量保证区域以外,即四周边缘5mm以内区域除崩边角,裂纹、毛边较严重以外的其他种类缺陷(包括划伤、气泡、针眼、污渍、节疤)可以不考虑。3.6.2玻璃镀膜后表面质量经过100%在线检验,祼眼使用反射光法或透射光法在距离玻璃30cm检验图6检验

8、方法3.7