微电子器件课后答案(第

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1、部分习题解答部分物理常数:shanren第2章1、在N区耗尽区中,高斯定理为:取一个圆柱形体积,底面在PN结的冶金结面(即原点)处,面积为一个单位面积,顶面位于x处。则由高斯定理可得:当x=xn时,E(x)=0,因此,于是得:(2-5a)shanren3、shanren4、shanren6、ND2ND1shanrenshanren8、(1)shanrenshanren(2)shanrenshanren20、shanren24、PN结的正向扩散电流为式中的I0因含ni2而与温度关系密切,因此正向扩散电流可表为于是PN结正向扩散电流的温度系数与

2、相对温度系数分别为shanren31、当N-区足够长时,开始发生雪崩击穿的耗尽区宽度为:当N-区缩短到W=3m时,雪崩击穿电压成为:shanren34、shanren39、shanren第3章1、NPN缓变基区晶体管在平衡时的能带图NPN缓变基区晶体管在放大区时的能带图shanren2、NPN缓变基区晶体管在放大区时的少子分布图shanren3、shanren6、shanren7、8、以NPN管为例,当基区与发射区都是非均匀掺杂时,由式(3-33a)和式(3-33b),再根据注入效率的定义,可得:shanren9、shanren10、(1

3、)(2)(3)(4)shanren14、shanren15、shanren20、当忽略基区中的少子复合及ICEO时,shanrenshanren27、实质上是ICS。22、shanren使NB>>NC,这样集电结耗尽区主要向集电区延伸,可使基区不易穿通。39、为提高穿通电压Vpt,应当增大WB和NB,但这恰好与提高β相矛盾。解决方法:shanren48、当IE很大时,这时α0<α;当IE很小时,这时α0>α;在IE很小或很大时,α都会有所下降。在正常的IE范围内,α几乎不随IE变化,这时β0与β也有类似的关系。shanren58、shanr

4、enshanren59、shanren65、(1)(3)(2)(4)shanren68、shanren第5章1、shanren3、shanrenshanren5、shanren6、shanrenshanren8、shanren13、shanren

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