tec-8双端口存储器实验

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1、双端口存储器实验一、实验类别原理性+分析性二、实验目的⑴了解双端口静态存储器IDT7132的工作特性及其使用方法；⑵了解半导体存储器怎样存储和读取数据；⑶了解双端口存储器怎样并行读写；⑷熟悉TEC-8模型计算机中存储器部分的数据通路。TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室1双端口存储器实验三、实验设备TEC-8实验系统1台TDS1001数字存储示波器1台UT60A数字万用表1块逻辑测试笔（在TEC-8实验台上）1支四、实验电路TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室2

2、TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室3TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室4TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室5双端口存储器实验五、实验任务1．从存储器地址10H开始，通过左端口连续向双端口RAM中写入3个数：85H，60H，38H。在写的过程中，在右端口检测写的数据是否正确。2．从存储器地址10H开始，连续从双端口RAM的左端口和右端口同时读出存储器的内容。TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室6双端口存储器实验六、实验步骤

3、㈠独立方式1．将存储器模块的外部连线按参考接线，将控制器转换开关拨到独立位置，“独立”灯亮,将编程开关设置为正常位置，将开关DP拨到向上位置。打开电源。2．系统复位，设置存储器地址，通过左端口写入数据，并通过左、右端口读出检测写入的数据是否正确。TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室7双端口存储器实验3.参考接线:TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室8信号SBUSARINCLARMEMWMBUS开关K8K9K10K11K12信号LPCPCINCLIRABUSPCA

4、DD开关K13K14K15GNDGNDTEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室9K8K9K10K12K11K13K14GNDK1555H55H1110055H55H0AAH00100AAH0AAH10AAH55H0AAH0AAH00010AAH双端口存储器实验㈡微程序方式1．将控制器转换开关拨到微程序位置，将编程开关设置为正常位置。打开电源。2．进行存储器读、写实验。⑴设置存储器读、写实验模式⑵设置存储器地址⑶依次写入第1、2、3个数⑷重新设置存储器地址⑸左、右两2个端口同时显示同一

5、个存储器单元的内容。TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室10双端口存储器实验七、实验要求1．做好实验预习，掌握双端口存储器的使用方法和TEC-8模型计算机存储器部分的数据通路。2．写出实验报告，内容是：⑴实验目的。⑵根据实验结果填写表格。⑶结合实验现象，在每一实验步骤中，对信号所起的作用进行解释。八、可研究和探索的问题TEC-8北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室11