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时间:2019-07-06
《不同晶向GaSb晶片表面化学组分及形貌分析_程雨》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、SEMICONDUCTOROPTOELECTRONICSVol.36No.6Dec.2015材料、结构及工艺不同晶向GaSb晶片表面化学组分及形貌分析程雨,刘京明,刘彤,苏杰,杨凤云,董志远,赵有文(中国科学院半导体研究所材料科学重点实验室,北京100083)摘要:对相同条件下制备的不同晶向的锑化镓抛光晶片表面化学组分进行了XPS测试比较,结果表明(110)GaSb晶片表面的氧化程度最为严重,表面极为粗糙;有极性的(111)GaSb晶面由于Ga—Sb价键存在于衬底内部,反而氧化程
2、度较低,表面较光滑。分析比较了GaSb晶面表面化学组分与形貌的关系。关键词:锑化镓;XPS;表面氧化;表面形貌中图分类号:TN304.2文献标识码:A文章编号:1001-5868(2015)06-0922-03AnalysisonChemicalConstituentsandSurfaceMorphologyoftheGalliumAtimonideWaferswithDifferentCrystalOrientationsCHENGYu,LIUJingming,LIUTong,SUJie,YANGFengyun,DONGZhiyuan,ZHAOYouwen(KeyLab.of
3、SemiconductorMaterialsScience,InstituteofSemiconductor,ChineseAcademyofScience,Beijing100083,CHN)Abstract:Surfacechemicalconstituentsofpolishedgalliumatimonide(GaSb)waferspreparedunderthesameconditionswereinvestigatedbyXPSwithdifferentcrystalorientations.Theresultsindicatethatthesurfaceof(11
4、0)GaSbwaferisoxidedmostandexhibitsthelargestroughness.AsGa-Sbbondsareinthebulkofthesubstratrate,(111)GaSbwafersareoxidedleastandhavesmoothsurfaces.Therelationshipbetweenchemicalconstituentsandsurfacemorphologywasanalyzedbycomparisons.Keywords:GaSb;XPS;surfaceoxidation;surfacemorphology0引言GaS
5、b材料属于Ⅲ-Ⅴ族化合物,由于Ⅲ族元素与Ⅴ族元素在化学性质上的差异,使得GaSb材料GaSb为直接带隙半导体材料,室温下禁带宽度的表面处理比硅材料要复杂得多。Ⅲ-Ⅴ族化合物为0.725eV。GaSb晶格常数为0.6096nm,与为闪锌矿结构,由于化学键密度的不同,(111)面会InAs(a=0.6058nm)晶格匹配,可用于制备InAs/形成两种晶面:(111)A和(111)B面,每个晶面是完Ga(In)SbⅡ类超晶格红外探测器。通过调节In组全由Ga原子或者完全由Sb原子构成。其中分的变化,InAs/Ga(In)Sb的禁带宽度可以覆盖(111)A面的原子顺序先是一个平面的Ga
6、原子,接[1]2~50μm的红外波长范围,光谱响应范围广。另着是一个平面的Sb原子,(111)B面与之相反。由外,InAs/Ga(In)SbⅡ类超晶格具有量子效率高、暗于极性的存在,(111)晶面在位错腐蚀过程中的压电电流小、探测率高、大尺寸成本低并具有较好的光谱效应表现不同,阳极氧化速率不同,进而表面氧化层调节能力等优势,被认为是继HgCdTe材料、量子厚度也不同。同理,在GaSb材料的(100)晶面也能阱探测器(QWIP)材料之后的第三代红外探测器的[3]观察到类似效应,即GaSb材料的极性效应。[2]理想材料,具有广阔的发展前景。(100)GaSb抛光衬底大量用于研制红外
7、探测器,而收稿日期:2015-02-13.(110)和(111)晶向的GaSb抛光衬底用于生长量子基金项目:国家自然科学基金项目(61744104).点材料等。降低这些衬底的表面粗糙度和氧化层厚·922·《半导体光电》2015年12月第36卷第6期程雨等:不同晶向GaSb晶片表面化学组分及形貌分析度对于生长高质量外延材料是极其重要的。结合能很相近,约为0.3eV,两者均为非氧化物形本文利用X射
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