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时间:2019-06-25
《NoC通讯架构测试与IP核测试调度方法分析》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库。
1、NoC通讯架构测试与IP核测试调度方法研究摘要为J7满足计算高密集型应川以及低功耗集成方法的设计需求,越来越多的汁算资源集成孑{!单个芯片卜,从而形成j7片上系统。f日是,随着集成电路集成度地急剧增长,基于共享总线架构的片上系统,面临着自身无法逾越的瓶颈,已经不再满足未来片上系统的设计需求。因此,有学者提出将宏观网络中的思想移植到片上系统的设计1中来,使计算资源口j‘以通过网络巧:连结构进行通讯,实现通讯和计算操作的分离,这种耳连结构就被称作片上网络。片上网络采用的是全局异步局部同步的通讯机制和分
2、组交换的通讯技术,从体系结构上彻底地解决了共享总线架构所面临的瓶颈问题。伴随着设计方法和制造工艺的不断发展和进步,测试方法已经成为集成电路产品开发过程中的关键问题之一。为了提高集成电路产品的可靠性,必须对集成电路进行测试。在对片上网络进行测试时,需要包含两个方面,即通讯架构的测试以及IP核的测试。因此,本论文丰要针对降低片上网络通讯架构和IP核的测试时间展开研究。对片E网络通讯架构进行测试,是为了保证IP核瓦相通讯的正确性和可靠性。因此,本文提出了一‘种内建自测试方法,针对路由器的功能故障模型,实
3、施内建自测试电路,设计测试向量的传输路径,让测试向量遍历整个片上网络完成测试过程。实验结果表明本文方法能够有效地降低片上网络通讯架构的测试时间,提高测试并行性。对IP核进行测试采用重用片上网络资源的方法,由于受5k于通道资源,因此,需要全面权衡测试路径、测试时间和测试功耗等方面。本文提出了一种时钟频率最优化算法,通过综合考虑测试时间和测试功耗因素,最优化IP核的时钟频率,最终实现IP核在功耗5艮制下的测试调度过程。然后在所有核总测试时间最短的条件下,选取IP核的调度顺序。实验结果表明木文方法能够有
4、效地降低IP核的总测试时间。关键词:片上系统、片L网络、内建17俐0试、测试渊度、功耗、洲试时问TheResearchonNOCCommunicationArchitectureTestandIPCoresTestSchedulingMethodsABSTRACTInordertomeetdesignrequirementsofthehighintensivecalculationapplications,aswellasthemethodofthelowpowerintegration,more
5、andmorecomputingresourceswereintegratedinasinglechip,thuswhichformedSystemonChip(SoC).However,withtheintegrationofintegratedcircuittoincreasesharply,SoCwhichwasbasedonsharedbusarchitectureforcommunicationisfacingwithinsurmountablebottlenecks,andalread
6、ynolongermeetsdemandsonthefutureSoCdesign.Therefore,theideasoftransplantingmacronetworktechnologyinSoCwereputforward,computingresourceswerecommunicatedwitheachotherthroughthenetworkinterconnectionarchitecture.andcommunicationandcomputingoperationscoul
7、dbeseparated.TheinterconnectionarchitectureisknownasNetworkonChip(NoC).Theglobalasynchronouslocalsynchronizationcommunicationmechanismandpacket—switchedcommunicationtechnologyisadoptedinNoC,thesharedbusarchitectureofthebottleneckproblemshasthoroughlyb
8、eensolvedfromsystemstructure.Withthedesignmethodandmanufacturingtechnologyunceasingdevelopmentandprogress,testmethodhasbecomeoneofthekeyproblemsintheprocessofintegratedcircuitproductdevelopment.Inordertoimprovethereliabilityoftheintegratedcirc
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