TTL 、CMOS 门电路参数测试

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1、TTL、CMOS门参数测试《数字电路》实验一一、实验目的（1）了解TTL和CMOS逻辑门电路的主要参数及参数意义。（2）熟悉TTL和CMOS逻辑门电路的主要参数的测量方法。（3）掌握TTL和CMOS逻辑门电路的逻辑功能及使用规则。（4）掌握数字电路与逻辑设计实验的基本操作规范。二、实验所用器件型号及管脚排列74LS00管脚排列及逻辑符号CD4011B管脚排列及逻辑符号74LS244引脚排列及逻辑符号三、实验内容1、TTL与非门逻辑功能的测试（一）基础实验部分2、TTL与非门参数测试1)ICCL、ICCHICCL：当所有输入端接高

2、电平时即输出为低电平时电源提供器件的电流。ICCH：当所有输入端接地时即输出为高电平时电源提供器件的电流。TTL与非门参数测试2)IIL—输入低电平电流。测试原理图：3)IIH—输入高电平电流。测试原理图：TTL与非门参数测试4)No:扇出系数，即门的输出端能带动同类门的数目。输出低电平时的扇出系数：输出高电平时的扇出系数：IOLmax测试原理图如右图所示:TTL与非门参数测试5)电压传输特性曲线指的是电压Vo随输入电压VI的变化而变化的关系曲线。VI00.30.50.850.90.951.01.051.11.151.21.31

3、.41.5VOTTL与非门参数测试调节电位器,测出相应的输出电压,在坐标纸上画出电压传输特性曲线,并在曲线中求得以下参数:输出高电平VOH,输出低电压VOL,关门电平VOFF,开门电平VON,阈值电压VTH,低电平噪声容限VNL,高电平噪声容限VNH。6）传输时延tpd的测试TTL门电路tpd测试电路（1）电压传输特性测试（二）提高部分3、CMOS与非门的参数测试选用型号为CD4011的集成电路，管脚排列及门电路逻辑符号如图所示，实验时按测量图连接电路，将实验数据记录在表中。电压测试记录表(单位V)VI01.02.02.22.3

4、2.352.42.452.502.552.62.72.83.05.0VO注：CMOS所有多余的输入端均不能悬空，包括用到的门和没有用到的门的输入端。（2）传输时延tpd的测试CMOS门电路tpd的测试电路传输时延tpdtpd=（tPLH+tPHL）/2tPHL为导通延迟时间，tPLH为截止延迟时间。（4）三态门功能测试选用型号为74LS244的集成电路，参考其引脚排列及逻辑符号，按右边电路图测试高阻状态，将实验结果填入下表。输入输出EAY0011014．用Multisim仿真软件设计TTL逻辑门电路的传输时延tpd测试电路，并用

5、软件仿真该电路求其传输时延tpd。