893-Titan G -

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1、产品数据TitanG-S/TEM成像和分析的深度亚埃(Ångström)性能、最宽的高张力范围、针对广泛材料的性能优化纳米研究致力于加强我们对于纳米结构和功能材料的理解，促使显微镜材料属性与最低细节级别的数量形成关联：原子。这种持续的能动性推动我们加深了解局部原子安排以及原子表征、化学黏合和电子结构。TitanG-是适用于二维和三维材料表征和化学分析的功能最强大的高分辨率扫描透射式电子显微镜(S/TEM)，具备最宽的-kV加速电压范围，分辨率可提升至原子级，并且允许单

2、台仪器完美结合C校正、单色仪和新颖的超稳定高亮度电子枪(X-FEG)，具有s卓绝的STEM和TEM成像性能。TitanG-配以C校正，可使用聚焦的探针开展STEM模式的研究，或者使s用平行射束开展TEM模式的研究，并且可确保三维空间分辨率分辨率达到pm.该系统采取机械、电子和热量稳定性无与伦比的Titan平台技术，旨在确保TEM、STEM、能量过滤的TEM(EFTEM)、衍射和电子能量损失波谱(EELS)以及能量色散X射线波谱模式(EDS)均具备卓绝的性能。TitanG-可

3、在-kV加速电压范围内运行，具备绝佳的操作灵活性，并且可优化此重要参数以满足从主要优点超轻碳化合物到密度超大的重金属材料的检查要求。此外，借助宽阔的S-TWIN•C校正器及/或单色仪可提高成像和分析功能透镜极片间隙（增加样品区域周围的空间用途），TitanG-极为适合动态S•选择最佳加速电压(-kV)，最大程度提实验。高图像质量和衬度，最大程度减少加工品•提高横向分辨率至pm级、较大的物镜极创新的模块化和专利设计可确保利用C校正器进行场升级，仅需两步即可校正实s片间

4、隙（“增加用途的空间”）验室的显微镜。•磁性材料纳米分辨率不受场约束的成像(<Oe)可最大化样品信息•全新校准的凝聚系统可最大化衍射(NBD,Titan卓越的稳定性、性能和简单易用的特性可将校正过的显微镜的性能提高至全CBED,LACBED)的灵活性新的高度，并且可在更高的分辨率下探明材料结构与属性之间的关系。Titan极大•超温度X-FEG电子枪无与伦比的性能可最大化地扩展了显微镜的应用界限并取得全新的纳米研究成果，引领电子显微镜进入新电子源的连贯性和亮度时代。•增加单色仪(<.eV)至HRT

5、EM并借助EELS波谱学应用可最大程度减少电子源的能散产品数据TitanG-TitanG-应用成效C校正的HR-TEM图像、kV、Ge<>。s.eV能量分辨率（上图）。C校正的HR-STEM图像、Ge、kV、Fourier透射显示信息透射s.eV能量分辨率（下图）。分辨率为pm。Young在/和kV条件下所做的金和碳的边缘实验，显示了亚埃(Ångström)信息迁移。使用C校正器和X-FEG拍摄到的金麻边界的原子分辨率全息摄影

6、图s像（左上）。Fourier已改变（右上）显示了亚埃(Ångström)信息迁使用探针C校正器在kV条件下拍摄到的BaTiO/SrTiO接口的原移（箭头）。s子级分辨率EELS映射图。样品提供：C.L.Jia,ErnstRuskaCentre,ResearchCentreJuelich,Germany.图像数据提供：教授GianluigiBotton重构的振幅（左）和相位图（右）如下所示。andSorinLazar,McMastersUniversity,Canada.图像提供：教授M.L

7、ehmann,M.Linck,DrT.NiermannofTUBerlin,Germany,Prof.HannesLichteofTUDresden,Germany,andDrB.FreitagofFEICompany,TheNetherlands.kV加速电压条件下（可最大程度减少射束损害）拍摄的C校正s的像填注富勒烯的SWCNT表面结构的HR-TEM图。样品提供：教授N.Kiselev,InstituteofCrystallography,Moscow,Russia.Si、SiO、SiON单色

8、EELS波谱揭示了化合物的不同黏合状态。xy第页若需详细说明，请参阅单独的应用备注。产品数据TitanG-TitanG-能散点分辨率信息限度STEM分辨率图像校正器.-.eV**pmpmpm探针校正器.-.eV**pm<pmpm单色仪+X-FEG.-.eV*pmpmpm*取决于能量过滤器选项备注：所有技术规格均基于kV**S-FEG.eV,X-FE