铜带电导率测量

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1、铜及铜合金带材导电率的涡流测试方法李湘海(洛阳铜加工集团有限责任公司,洛阳471039)摘要:采用涡流法选择不同的测试频率,分别对不同厚度不同叠加层的几种铜带材进行了导电率测试试验,并与双电桥法进行了对比。结果表明,只要测试频率和叠加层数合适,用涡流法完全适合对铜及铜合金带材进行导电率测量,非常适用于规模化生产铜及铜合金带材导电率快速检验的需要。关键词:铜及铜合金;涡流法;导电率;叠加;快速检验中图分类号:TB302.1文献标识码:A文章编号:1001-4012(2005)08-0407-03THEMETHODFORELECTRICALCONDUCTIVITYMEASUREMENTOF

2、COPPERANDCOPPERALLOYSTRIPBYUSEOFEDDYCURRENTLIXiang-hai(LuoYangCopper(Group)Co.Ltd.,Luoyang471039,China)Abstract:Afterchoosingdifferenttestfrequrency,makeantestexperimentbyuseoftheeddycurrentmethodforthestripofcopperandcopperalloyswhichweredifferentthicknessandfoldinglayer,andcompareitwiththemeth

3、odofKelvinelectricitybridge.Theresultprovedthatifonlythetestfrequencyisfitforthenumberoffoldinglayer,theeddycurrentmethodisverysuitableforthetestofelectricalconductivityforthestripofcopperandcopperalloys.Themethodfullysuppliesthedemandsoffastexaminationfortheelectricalconductivityofthestripofcop

4、perandcopperandcopperalloysbyscale-producing.Keywords:Copperandcopperalloys;Eddycurrentmethod;Electricalconductivity;Fold;Fastexamination大。笔者通过对不同厚度的几种铜带材进行叠加,1引言然后进行涡流法导电率测试试验,并与双电桥法进铜及铜合金产品具有优良的导电性能,广泛应行了对比,实验表明只要选择适当的叠加层和测试用于国民经济的各个领域。导电率是该材料最主要频率,完全可以采用涡流法对铜及铜合金带材进行的物理性能指标之一。测量导电率通常采用双电桥导电率测

5、量,特别适用于规模化生产铜及铜合金带[1,2]法,其优点是测量精度高,但由于该方法需要测材导电率的快速测量。量试样长度、厚度和读数电阻等诸多参数,测量周期2基本原理长,而且对环境温度要求苛刻,不适用于大规模工业化生产的需要。笔者采用涡流法对铜及铜合金进行当载有交变电流的线圈(也称探头)接近导体了大量的导电率测量试验。结果表明,对于厚度表面时,由于线圈交变磁场的作用在导体的表面及>0.3mm的铜材可以直接在材料上进行测量[3],对近表面感应出旋涡状电流称为涡流,感生涡流的磁于厚度<0.3mm的铜带材,如果直接在试样上进行场反作用于线圈,这种反作用的大小与导体表面及测量,由于其厚度小于有效

6、趋肤深度,测量误差很近表面的导电率有关,通过涡流导电仪可直接测量非磁性导体的导电率。收稿日期:2005-01-17由变化磁场而感生的涡流主要集中在导体表面作者简介:李湘海(1965-),男,高级工程师,学士。的现象称为趋肤效应,其涡流密度随着深度按指数·407·李湘海:铜及铜合金带材导电率的涡流测试方法规律衰减,当涡流密度为表面的1/e时的深度称为趋肤深度。对于非铁磁性材料,其趋肤深度可用公3试验条件与结果式表示为:试验仪器采用美国产的涡流综合测试仪,型号pδ=50(1)为D2.068,仪器带有四种测试频率,分别为60,120,ヘf240和480kHz。式中:δ———趋肤深度,mmp—

7、——材料的电阻率,µΩ·cm试验材料采用常用的T2,C10200和TFe0.1三种导电用铜进行试验,三种材料的状态均为退火态,每f———测量频率,Hz种材料都取常用的三种厚度0.25mm,0.20mm和0.测量导电率用的探头为表面式线圈,在试件内感10mm进行叠加;另取同状态厚度为0.5mm的试样应出的涡流流动路径平行于试样表面,见图1。当试直接测量,并与双电桥法进行比较。样内部缺陷平行于探头线圈(如层状缺陷)时,缺陷并对上述材料进行了涡流法和

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