一种双游程编码的测试数据压缩方案

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1、第15卷第4期哈尔滨理工大学学报Vol.15No.42010年8月JOURNALOFHARBINUNIVERSITYOFSCIENCEANDTECHNOLOGYAug．2010一种双游程编码的测试数据压缩方案1，21商进，张礼勇(1．哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院，黑龙江哈尔滨150080;2．黑龙江工程学院电子工程系，黑龙江哈尔滨150050)摘要:SOC芯片测试中一个主要的挑战就是处理大量的测试数据．为了减少芯片测试中的测试数据，提出了一种双游程的编码方案，采用变长到变长的编码方式对0游程和1游程进行编

2、码．该算法在编码时同时考虑0游程和1游程，大大减少了测试数据中短游程的数量，同时文中给出了一种基于有限状态机的解压缩算法的实现方案．理论分析和实验结果证明该方案具有高压缩率、硬件实现简单等特点．关键词:测试数据压缩;解压;双游程编码中图分类号:TP391．76文献标志码:A文章编号:1007－2683(2010)04－0019－04SchemeofTestDataCompressionBasedonDual-run-lengthCode1，21SHANGJin，ZHANGLi-yong(1．SchoolofMea

3、sure-controlTechnologyandCommunicationEngineering，HarbinUniversityofScienceandTechnology，Harbin150080，China;2．DepartmentofElectronicEngineering，HeilongjiangInstituteofTechnology，Harbin150050，China)Abstract:Oneofthemajorchallengesintestingasystem-on-a-chipisde

4、alingwithalargevolumeoftestdata．Toreducethevolumeoftestdata，dual-run-lengthcodeisproposedinthispaper，avariable-to-variablerun-lengthcodebasedonencodingbothrunsof0sand1s．Bothrunsof0sand1sareconsideredinthismethodsoastore-ducethenumberofshortruns，andthecircuits

5、tructureofdecoderwithFSMisproposed．Theoreticalanalysisandexperimentalresultsshowthatthisschemesisaveryefficientcompressionmethod．Keywords:testdatacompression;decompression;dual-run-lengthcode试仪器的内存容量，使测试数据难以全部存储在自0引言动测试仪器有限的内存中．同时，随着测试速度、带宽和内存的增加，自动测试仪器的成本也急剧

6、增加．随着科技的进步，集成电路的集成度有了很大因此，为了减小测试时间和测试成本，有必要减少测的提高，在单个芯片上集成的晶体管数目越来越多．试数据量．集成度的提高导致测试芯片时的测试数据急剧增测试数据的减少可以通过内建自测试(Built－加．在存储模式测试中，测试数据需要存储在自动测inSelfTest，BIST)、测试紧缩(TestSetCompaction，试仪器(ATE)中，然后再传递到测试电路上．大量的TSC)和测试数据压缩技术(TestDataCompression，测试数据不仅增加了测试时间而且也超出了

7、自动测TDC)实现．BIST技术是通过芯片本身所带有的测收稿日期:2010－02－11基金项目:黑龙江省教育厅科学技术研究项目(10551Z0007)作者简介:商进(1974—)，男，博士研究生，E-mail:shjin@S0hu．com;张礼勇(1939—)，男，教授，博士生导师．20哈尔滨理工大学学报第15卷试模式生成器，直接在芯片上生成测试向量，但芯片通常一个测试集中除了需要编码的确定位0和需要进行预先设计以便为BIST测试做好准备．测试1外，还存在有大量的无关位X，无关位的值不影响紧缩技术通过紧缩部分带有

8、无关位(Don’tcare故障覆盖率，因此，在测试数据压缩过程中，可以对bits)测试立方，来减少测试向量的数量，但该技术无关位指定为有利的数值，提高测试压缩率．在对非模型的物理故障检测率较低．测试数据压缩技FDR码中，将测试集中的无关位全部指定为0，在文术用压缩的形式在自动测试仪器中存储测试数据，［10］中，X位是按照所处的X串两边的确定位的值不需要了解被测设计(Des