EMI 测试基本知识介绍

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1、内部公开▲     技术文件技术文件名称:EMI测试基本知识介绍技术文件编号:版本:V1.0文件质量等级:共17页(包括封面)拟制审核会签标准化批准深圳市中兴通讯股份有限公司17<本文中的所有信息均为中兴通讯股份有限公司内部信息,不得向外传播。>内部公开▲修改记录文件编号版本号拟制人/修改人拟制/修改日期更改理由主要更改内容(写要点即可)宋昌元2006.4.5注:文件第一次拟制时,“更改理由”、“主要更改内容”栏写“无”。17<本文中的所有信息均为中兴通讯股份有限公司内部信息,不得向外传播。>内部公开▲目录1EMI干扰51.1

2、EMI分类51.2差模和共模干扰62测量系统的架构72.1EMI测量系统72.2EMS测量系统73测试仪器73.1EMI测试接收机EMITestReceiver73.2阻抗稳定网络ISN83.3耦合-去耦网络CDN(CoupleandDecouplenetworks)103.4干扰分离器的方法原理114可靠性室EMI测试144.1相关测试设备介绍144.2传导骚扰测试框图164.3传导抗扰度试验175参考文献1717<本文中的所有信息均为中兴通讯股份有限公司内部信息,不得向外传播。>内部公开▲摘要:主要介绍EMI相关的基本概念

3、、测试系统的组成、测试仪器的基本原理、可靠性室相关的测试仪器和测试方法。关键词:EMIElectromagneticInterferenceISNImpedanceStabilizationNetworkCDNCoupleandDecouplenetworksAMNArtificialMainsNetworkDMDifferentialmodeCMCommonmode17<本文中的所有信息均为中兴通讯股份有限公司内部信息,不得向外传播。>内部公开▲EMI测试基本知识介绍1EMI干扰1.1EMI分类根据传导模式的不同EMI主要分

4、为:辐射性骚扰(RadiatedEmission)和传导性骚扰(ConductedEmission)。辐射性EMI通过设备外壳的缝隙、开孔或其他缺口泄漏直接由空间传播,无须任何传输介质;主要为电路通电后,由于电磁感应效应所产生的电磁辐射发射所形成的电磁干扰,集中表现在频率的高端;一般用屏蔽(Shielding)、接地(Grounding)等方式解决。对辐射传导EMI解决方式归纳为以下几种:在干扰源加LC滤波回路;在I/O端加上去耦电容到地;用屏蔽隔离(Shielding)的方式把电磁波围覆在屏蔽罩内;尽量将PCB的地面积扩张;

5、产品内部尽量少使用排线或实体线;产品内部的实体线尽量做成绞线以抑制杂讯幅射,同时在排线的I/O端加上去耦电容;在差模信号线的始端或末端加上共模滤波器(CommonModeFilter);遵循一定的模拟和数字电路布线原则。传导性EMI(conducted)是指部分的电磁(射频)能量通过外部缆线(cable)、电源线、I/O互连介面,形成传导波(propagationwave)被传送出去,经过电源线传输干扰的,对共电源的设备产生干扰,导致设备功能异常,集中表现在频率的低端;对于传导性EMI的抑制,首先、需要对电子元件产生的传导性E

6、MI作有效的测量,再依据结果选择适当的元件值设计滤波器来加以防治。根据EMI干扰的形成可以分为:差模DM(Differentialmode)和共模CM(Commonmode)。差模也称作对称模式(symmetricmode)或正常模式(normalmode);而共模也称作不对称模式(asymmetricmode)或接地泄漏模式(groundleakagemode)。共模骚扰包括共地阻抗的共模干扰(Common-ModeCoupling)和电磁场对导线的共模干扰(Fieldtocable/traceCommon-ModeCoup

7、ling),前者是因杂扰产生源与被干扰电路间共用同一接地电阻所产生的共模干扰,解决方法可由实行地的切割来避免共地干扰问题;后者则为高电磁能量所形成的电磁场对设备间之配线所造成的干扰,可由屏蔽隔离(Shielding)的方法来处理场对线的干扰问题。而差模干扰,常见的是导线对导线的差模干扰(CabletoCableDifferential-ModeCoupling),干扰途径为某一导线内的干扰信号感染到其他导线而馈入被干扰电路,属于近场干扰的一种,可通过加宽线与线之间的距离来处理此类干扰问题。1.2差模和共模干扰图1差模和共模干扰

8、17<本文中的所有信息均为中兴通讯股份有限公司内部信息,不得向外传播。>内部公开▲如图1(a)所示,差模干扰是当两条电源供应线路的电流方向互为相反时发生;如图1(b)所示,共模干扰是当所有的电源供应线路的电流方向相同时发生。一般,差模信号通常是有用的,承载有用的数据信息;而共

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