集成电路球焊质量标准

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1、西安天胜电子有限公司XIANTIANSHENGELECTRONICSCO.,LTD文件编号:CD.T730048集成电路球焊质量标准文件层次:Ⅲ第1页共20页文件版次:A生效日期:2010-10-29文件章节页数DCNNO.拟制日期变更历程拟制人版次编号EDIT.DATEREVISIONHISTORYEDITORA2010-10-25初次生成文件陈欣文控员起稿者陈欣2010.10.25阎熊英2010.10.27受控号:审核审核审核人部门负责人/授权人日期日期批准/文控中心章:部门签字签字技术中心//郭小伟2010.10.28制造部/

2、/李海森2010.10.28品质部//龚海涛2010.10.28生产管理部//任江林2010.10.29文件号CD.T730048版次A生效日期2010-10-29第2页共20页名称:集成电路球焊质量标准1目的规范集成电路封装压焊工序产品质量检验标准,为产品质量检验提供依据。2范围本标准适用于集成电路封装压焊工序。3引用文件无4术语和定义参照《组装技术标准用语》CD.T7300255质量标准文件号CD.T730048版次A生效日期2010-10-29第3页共20页序号不良项目不良描述图示检验标准芯片型号、批号以及引线框、5.1材料不

3、符N/AREJ金(铜)丝规格与随件单不符实际布线与规定的布线图不5.2布线错误N/AREJ一致所有芯片材料不良以及磨划片、装片、焊线过程中引起的5.3芯片不良见上芯质量标准芯片破损、压伤、刮伤、沾污等沾污划伤引线框架变形、发黄影响压焊5.4引线框不良REJ和后续作业所有装片引起的不良(不良项5.5装片不良REJ目见装片质量标准)文件号CD.T730048版次A生效日期2010-10-29第4页共20页序号不良项目不良描述图示检验标准金(铜)球太厚丝直径金(铜)球直径金(铜)球厚度(μm)(μm)(μm)球太大1.<1.5倍线径不良1

4、.<1/2线径不良φ18-2.≥4倍线径不良5.6球径大小不符合标准;2.≥1倍线径不良球形不良φ233.>铝垫的最小边5.6.1球厚度不符合标准。球太薄3、无功率圈不良长不良1.<1.8倍线径不良1、<1/2线径不良φ25-2.≥4倍线径不良2、≥1倍线径不良φ753.>铝垫的最小边功率圈3、无功率圈不良长不良5.6.2球形不良金(铜)球压扁变形严重REJ文件号CD.T730048版次A生效日期2010-10-29第5页共20页序号不良项目不良描述图示检验标准金(铜)球引线出口不完全在球范围内或引线出口之中心5.6.3球形不良RE

5、J不在压区内,即球不对称(高尔夫球)d1.金(铜)球偏移出压区超过球径的1/4。2.金(铜)球与压区接触面积小于金(铜)球面积75%为不良。5.7球位不良球偏移出压区3.金(铜)球虽未偏出压区1/4,但已与压区周围不相通铝线,旁邻压区的金(铜)球短路为不良。文件号CD.T730048版次A生效日期2010-10-29第6页共20页序号不良项目不良描述图示检验标准外焊点宽度、长度不符要求造宽度小于1.2倍或大于3.5倍金(铜)丝直径,5.8外焊点不良成各种针印不完整、撕裂、变长度小于0.5倍或大于3倍金(铜)丝直径为不5.8.1形等良

6、外焊点位置超出管脚的有效5.8.2外焊点不良焊接区内(有效焊接区:精压REJ区部分)同一管脚上同时焊两根或两根以上金(铜)丝,在管脚精5.8.3外焊点不良REJ压区面积足够分布所有外焊点时外焊点重叠为不良。文件号CD.T730048版次A生效日期2010-10-29第7页共20页序号不良项目不良描述图示检验标准外焊点有大于50%的区域落在5.8.4外焊点不良REJ装片粘胶上1.拒收任意方向的线弧弯曲或塌丝导致金(铜)线与金(铜)线之间或者金(铜)线与芯片间小于1倍线径.2.拒收线弧之间间距小于1倍线径、线弧与芯片边缘、线弧与其他管脚

7、间距小于1倍线径。5.9金(铜)丝与芯片、引线框及弧度不良3.拒收线弧与所跨越的框架管脚间小于1倍线5.9.1其它金(铜)丝的距离太近径。注:在同一管脚上的线与线之间的间距小于1倍线径可以接收。文件号CD.T730048版次A生效日期2010-10-29第8页共20页序号不良项目不良描述图示检验标准除非共同的接点,金(铜)丝5.9.2弧度不良REJ与金(铜)丝不可相交胶体表面弧度太高超出此封装允许弧REJ高范围(见附表1-2)前颈部弧度太低超出此封装允许弧5.9.3弧度不良高范围(见附表1-2)REJA工序内控标准:R>1.5倍线径

8、为不良弧度前倾严重关卡标准:R>3.5倍线径为不良文件号CD.T730048版次A生效日期2010-10-29第9页共20页序号不良项目不良描述图示检验标准5.10断丝任何位置的断丝REJ金(铜)丝压扁或表面有擦伤、金(铜)丝损5.1

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