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时间:2019-05-12
《通信对抗原理冯小平全书第3章》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在教育资源-天天文库。
1、第3章通信信号的测向与定位3.1测向与定位概述3.2测向天线3.3振幅法测向3.4相位法测向3.5相关干涉仪测向3.6多普勒测向3.7到达时差测向3.8空间谱估计测向3.9通信辐射源定位习题无线电测向和定位就是确定通信辐射源的来波方向和位置。对通信信号的测向和定位既是通信对抗系统领域的一个重要和相对独立的技术领域,也是通信侦察系统的重要组成部分。本章重点讨论通信信号测向定位的基本原理和方法。3.1测向与定位概述3.1.1通信辐射源测向系统组成通信测向系统包括测向天线、接收机、处理器、控制器和显示器等设备。其基本组成
2、如图3.1-1所示。测向天线接收空间的电磁信号,在少数情况下,测向天线由单个天线构成。在大多数情况下,测向天线由在空间按照一定规律排列的多个天线阵元构成,根据不同的测向方法,这些天线阵元形成不同的结构,实现测向系统的要求。测向接收机的主要功能是对天线系统送来的信号进行选择和放大,为随后的测向处理提供幅度特性和相位特性合适的中频信号。根据测向方法的不同,测向接收机可以采用单信道和多信道的接收机。图3.1-1通信测向设备的基本组成测向处理、控制及显示单元的主要功能是对测向接收机送来的含有方位信息的测向信号进行模/数(
3、ADC)变换、处理和运算,从信号中提取方位信息,并对测向结果进行存储、显示或打印输出。它的另一功能是控制测向设备各组成部分(测向天线、接收机、测向处理显示器、输出接口等)协调工作,例如测向天线的阵元转换、接收机本振及信道的控制、测向工作方式的选择、测向速度及其他工作参数的设置、测向设备的校准以及测向结果的输出等均由测向处理控制显示单元来控制。 测向处理部分的具体工作原理和工作过程因测向设备的不同而不同,对此我们将在后面的有关章节中作相应介绍。3.1.2通信测向和定位技术分类通信测向和定位系统的分类比较复杂,它可以
4、按照工作频段、运载平台和工作原理等进行分类。由于通信信号的来波方向可以从信号的幅度、相位、多普勒频移、到达时间等参数中获得,因此我们按照工作原理将测向方法分为振幅法、相位法、多普勒法、到达时差法等测向方法。(1)振幅法测向。根据测向天线阵列各阵元(单元天线)感应来波信号后输出信号的幅度大小,即利用天线各阵元的直接幅度响应或者比较幅度响应,测得来波到达方向的方法称为振幅法测向,也称幅度法测向。(2)相位法测向。根据测向天线阵列各阵元之间的相位差,测定来波到达方向的方法称为相位法测向。如相位干涉仪测向、多普勒和准多普勒测
5、向技术等。(3)多普勒法测向。利用测向天线自身以一定的速度旋转引起的接收信号附加多普勒调制进行测向的方法,称为多普勒法测向。多普勒法测向本质上属于相位法测向。(4)时差测向。根据测得的来波信号到达测向天线阵列中两个或两个以上不同位置的阵元的时间差来测定来波到达方向的方法称为到达时间差测向,简称时差测向。(5)空间谱估计测向技术。空间谱估计测向是将测向天线阵列接收的信号分解为信号与噪声两个子空间,利用来波方向构成的矢量与噪声子空间正交的特性测向。无源定位是在通信测向的基础上发展起来的,因而利用测向的结果进行定位计算
6、或估计是最经典和最成熟的定位技术,称为测向定位法。后来,随着各种测向和定位技术的开发及利用,时差定位、多普勒频移定位、测向和频差以及时差和频差的联合定位也逐步发展并进入了实用阶段。3.1.3通信测向和定位设备的主要指标测向和定位设备在电性能、物理性能、环境和使用要求及接口功能等多方面都有严格的指标要求。本节主要讨论测向和定位设备在电性能方面的主要指标。(1)工作频率范围。工作频率范围是指通信测向和定位系统的工作频率范围。例如,短波测向设备的工作频率范围通常为1.5~30MHz;超短波测向设备的工作频率范围目前多
7、数为20~1000MHz或30~1000MHz。(2)测向范围。测向范围是指通信测向和定位系统的可测向的空域范围。如方位全向工作、半向工作或者部分方向测向等。(3)瞬时处理带宽。当要求能对短持续时间信号(如短脉冲、跳频信号)进行测向或定位时,为了保证测向或定位反应时间能适应对短持续时间信号搜索截获和采样方面的要求,对测向或定位设备的瞬时射频带宽和处理带宽(例如常用的FFT处理带宽)提出了相应的要求。通常测向或定位处理器的瞬时处理带宽决定了测向或定位设备的瞬时射频带宽。(4)测向和定位误差。测向和定位误差包括测向和
8、定位准确度、测向和定位精度等指标。①测向误差。测向误差表示在一定的来波信号强度下测向设备测得的目标方位角与其真实方位角之差的统计值,这是测向设备最重要的指标。通常,这一指标有两种表述方式。(a)设备测向误差:表示不包含测向天线的基本测向设备的测向误差。由于不涉及测向天线,不存在场地和周围环境的影响,因此这一误差很小,一般测向设备
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