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时间:2019-05-16
《AlGaNGaNHEMT器件直流扫描电流崩塌机理及其物理模型》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、摘要摘要电流崩塌效应(Currentcollapse)是影响AlGa刚GaNHEMT器件在微波大功率领域大规模应用的主要因素。随着表面电子陷阱被来自栅电极的电子填充,在栅漏之间接近栅极的器件表面出现了负电荷的积累,从而形成一个带负电的虚栅。在该虚栅的控制下,使得虚栅对应的沟道电阻增大,从而形成电流崩塌。电流崩塌不仅使输出漏电流下降,而且升高了器件的膝点电压,使得输出功率下降,并且严重降低了器件的可靠性。本文从实验出发,介绍了一种在直流扫描过程中出现的电流崩塌现象——直流扫描电流崩塌现象。文中对直流扫
2、描电流崩塌现象进行了大量的实验研究,研究发现:1)直流扫描电流崩塌主要发生于高漏压区;2)直流扫描电流崩塌随着扫描范围的增加而增加,并最终在20v左右达到饱和。在此过程中膝点电压也不断地升高,在20v左右达到最高值;3)直流扫描电流崩塌的发生需要一个闽值,只有当漏栅电压大于该阈值时,才会发生崩塌;4)直流扫描电流崩塌与扫描方式也有密切的关系。本文对直流扫描电流崩塌的机理也做了深入地研究。并且在此基础上提出了一种简单的崩塌模型。模拟结果与实验结果比较,显示了比较良好的一致性。关键宇:AlGaN/GaN
3、HEMT直流扫描电流崩塌模型AbsIractAbstractcu玎entcoll印seisamajorfactorofreliabnitya芏ldoutputpowerwhiche仃ectstheapplicationofAlGaN船aNHEMTsonmicrowaVepowerarea.Currentcollapseiscausedbythechannelresistorundergate—drainsurfacewhichincreasesalongwiththeelectrons矗omgate
4、inject也esuff矗cetrapsb融weengateanddrain.Inthedissertation,one虹Ildofcurrentcoll印sephenomenaispresentwhichWecalkdDCbiascurrcmcollapsc.A‰flafgenumbersofexperiments,itshows:i)theDCbiascu玎entcoll印sejustoccursinhigh—drainarea;ii)ThequantityofDCbiascurrentcoll
5、apseandkneeVoltagegrowastheincreaSeofscanfangcofdrain—sourcevoltageandt11eyallsaturateat20Vdrain—sourcevoltage.iii)Athresholdv01tagebetweendrainarldgateisneedtoinduceDCbiascurrentcollapse.iv)Cnrfentcollapsehassomethingwiththeb融scaIltype.Based0ntheanaly
6、sisofexperimentandtheoryaboutDCb妇cu玎cntcoll印se,ananalyticalmodelforthecurremcollapseisdeVeIopedconsideringthee饪毫ctsofpol撕zationandsurfacestates.ThecomparisonbetweensimulationsandphysicalmeaSurementsshowsagoodagreement.Keywords:AlGaN/GaNHEMTDCsweepCurre
7、ntsIumpModeI创新性声明本人声明所呈交的论文是我个人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。尽我所知,除了文中特别加以标注和致谢中所罗列的内容以外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果;也不包含为获得西安电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的说明并表示了谢意。申请学位论文与资料若有不实之处,本人承担一切相关责任。本人签名日期:关于论文使用授权的说明本人完全了解西安电子科技大学有关保留和使用学位论文的规
8、定,即:研究生在校攻读学位期间论文工作的知识产权单位属西安电子科披大学。本人保证毕业离校后,发表论文或使用论文工作成果时署名单位仍然为西安电予科技大学。学校有权保留送交论文的复印件,允许查阅和借阅论文;学校可以公布论文的全部或部分内容,可以采用影印、缩印或其他复制手段保存论文。(保密论文在解密后应遵守此规定)本学位论文属于保密,在一年解密后适用本授权书。本人签名:导师签名:日期:第一章绪论第一章、绪论§1.1GaNHEMT器件研究背景随着通信技术的发展和人们需求的增加
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