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时间:2019-03-20
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1、..,L4/‘立.'个'5一‘‘:片产-I.,.VV..:I??i---..;*.V*,密级:保密期限:<..告餐乂蔓硕±学位论文VDMOS器件的自热效应及高温热载流子效应的研究‘searchonthese-tineffecandhermaRelfheagttlhotcarrierseflfectofDMOSviceVder.;?■■学号PI3201021姓名储晓磊学位类别工学硕±
2、左說策微feテ学S曰体feテ学指导教师陈军宁完成时间2016年5月_委端器驚独创性声明本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果,,。据我所知除了文中特别加W标注和致谢的地方外论文中不包含其他人己经发表或撰写过的研究成果,也不包含为获得安徽大学或其他教育化构的学位或证书而使用过的材料一。与我同工作的同志对本研究所做的任何贡献均己在论文中作了明确的说明并表示谢意。学位论文作者签名;签字日期:年月言日/鴻曠義学位论文版权使巧授权书本学位
3、论文作者完全了解安徽大学有关保留、使用学位论文的规定,有权保留并向国家有关部口或机构送交论文的复印件和禮盘,允许论文被查闽和借阅。本人授权安徵大学可W将学位论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检索,可W采用影印、缩印或扫描等复制手段保存、汇编学位论文。(保密的学位论文在解密后适用本授权书)学位论文作者签名;游;反\导师签名:陈3飾占占f签字日期:月1日签字日期2〇八年(:以年月日j^摘要一直被关注的主要焦点之一半导体功率器件是自集成电路发展W来。它是实现工控智能化、0、系统
4、化的核屯技术基础。VDMOS器件是自2世纪末发展起来的主流功率器件中最具特色的一种。它具有高耐压、高开关速度、驱动能力强、热稳定好等优点,被广泛用于汽车电子、电机驱动、开关电源等各个领域。随着VDMOS在市场占有率逐年升高,人们对该器件的性能提出了更高的要求。VDMOS一功率的可靠性是时下讨论的最热口的话题之。研巧器件可靠性的目的是为了使其可通过改进优化而具有更高的稳定性。本文综述了近些年来功率器件的发展概况。在大功率器件为市场带来巨大经济的效益的同时,也造成了巨大的能源消耗和诸多可靠性隐患。在此
5、背景下,本文对VDMOS器件高温可靠性进行了深入研究,主要内容如下:首先从VDMOS基本结构和工作原理出发,对器件的性能参数进行了剖析。该器件是采用自对准双扩散工艺下形成的导电沟道,通过合理设计P阱渗杂浓度可有效控制沟道长度。从而有利于提高器件开关速度和工作频率,同时降低了导通电阻而增强了驱动能力一。另外VDMOS比普通MOS多了个外延层的存在,是使其具有了更高耐压特性的关键。重点对阀值电压、导通电阻和击穿电压等参数逐个进行了讨论研究。并通过仿真展示了输出特性和传输特性曲线。接着本文对VDMO
6、S管的自热效应做了深入探讨。用二维器件仿真软件S-VDMOS器ilvacoAtlas模拟了件工作时产热分布,观察到高温区集中分布在沟道末端及积累层区域。仿真了器件自加热效应情形下的输出特性曲线,结果显示曲线在达到饱和点后随漏电压增大有下降趋势,而且高栅压下,挂种下降趋势更为明显,通过结合理论分析自热效应对器件参数造成的影响而揭示了自热效,从应导致器件退化的本质。本文最后讨论了高温环境下VDMOS热载流子效应损伤机制,通过建立衬底电流模型,分析了村底电流受偏置电压和温度影响的变化过程。结果表明1:
7、(),衬底电流随温度升高呈先下降后升高的变化过程衬底电流在偏置电足固定时。2)在温度相同情况下,越高的偏置电压会导致产生更大衬底电流,反之亦然。(结合理论确定了在温度的应力下器件内电场分布、表面势、电子电流密度等参数的退化是导致衬底电流上升的主要因素。最后通过仿真展示了阔值电压、饱和漏IVDMOS器件的自热效应及高温热载流子效应的研究电流1^及转移特性等电学特性的退化。关键字:VDMOS;自热效政衬底电流;热载流子效应nAbstractAbstractSemiconduct
8、orowerdeviceis0打eofthemo巧focusessincethedevelome打tofppihihnoinkgratedcrcuits.ltistebassoft;hecorel:eclogyt;oachieveindus
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