基于dy_2o_3阻变存储器的制备及性能研究

基于dy_2o_3阻变存储器的制备及性能研究

ID:35056183

大小:5.10 MB

页数:58页

时间:2019-03-17

基于dy_2o_3阻变存储器的制备及性能研究_第1页
基于dy_2o_3阻变存储器的制备及性能研究_第2页
基于dy_2o_3阻变存储器的制备及性能研究_第3页
基于dy_2o_3阻变存储器的制备及性能研究_第4页
基于dy_2o_3阻变存储器的制备及性能研究_第5页
资源描述:

《基于dy_2o_3阻变存储器的制备及性能研究》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库

1、-一.:--TN386.6V分类号密级:公开;学校代码:86403北京有色金属研究总院硕壬学位论文论文题目:基于斬2〇3阻变存储器的制备及性能研巧cainm一— ̄--■?_--...201302036学号.-;作者;;于军洋芯玄-材料科学与工程:-专业名称:指导教师:魏峰培养所室;电子材料所■■—.—^^^1:-2016年06月2日??—W.--.'-、一-J二.原创性声明本人郑巧声W:所

2、片女的论义足巧个人化甘师巧导K进化的研充I;化政取沿研光成果。除义中己结注明引用的内特外,本论义不含化何化化个人或狼体d经发丧站:撰与过的研究成巧。对本文的研究做fl啡驶WiiiLi献的个人和化体,巧化文中UW蹄方式标Wlj。本人完今凸识到本j的法律结巧!4|本人承扭。作’巧驚拓N巧I;心仁/皆.关于论文使用授权的说明本人完全了解北京化色金厲研究总院有关保留、使用学位论义的灿巧:,即忘院17松佔巧送义论义的印们>化许论文被巧阅和借閒;总W公布论文的令涨或部分内容-,巧从采用影印、缩印或其他贫制TI統可

3、段保知论义。(保密的论文在解密后应遵循此规定)w、W看赛拜甘师装名/t/化者嘗f,::口赃_一-北京有色金属研究总院硕士学位论文论文题目:基于Dy2O3阻变存储器的制备及性能研究作者:_________________________于军洋指导教师:魏峰高级工程师单位:电子材料所论文提交日期:2016年05月09日论文答辩日期:2016年06月20日答辩委员会主席:秦明礼学位授予单位:北京有色金属研究总院基于Dy2O3阻变存储器的制备及性能研究ResistiveswitchingcharacteristicsofDy2O3b

4、asedRRAM研究生姓名:于军洋指导教师姓名:魏峰北京有色金属研究总院北京100088,中国Candidate:YuJunyangSupervisor:WeiFengGeneralResearchInstituteforNonferrousMetalsNo.2XinjiekouwaiStreet,Beijing100088,P.R.CHINA摘要摘要信息技术的高速发展对存储器提出了更高的要求。新一代非挥发性存储器应同时具备高存储密度、低集成成本、快读写速度、低功耗,良好的疲劳特性和数据保持能力等特点。传统的基于Si材料的Flash存储器在25n

5、m工艺之后,出现了严重的性能下滑、寿命缩短问题。阻变存储器作为最具前景的新一代非易失性存储器具有着功耗低、读写速度快和存储密度高的优点。同时相比于Flash存储器,RRAM的器件尺寸可以做得更小。目前对于阻变存储器的研究还存在着一些问题,如器件的操作电压高、阻变一致性差等制约着阻变存储器的应用;此外对于阻变存储器在未来透明电子领域的研究正处于起步阶段,都需要大量研究工作开展。本文以Dy2O3为阻变层,制备了Pt/Dy2O3/Pt器件单元。通过快速热退火工艺,进一步降低了器件的操作电压,提高了器件的阻变一致性;另一方面,本文制备了ITO/Dy2O3

6、/ITO透明阻变存储器并对其阻变行为进行了研究与探讨。具体工作如下:(1)在Si/SiO2衬底上,通过磁控溅射制备了Pt/Dy2O3/Pt器件。通过对制备的Pt/Dy2O3/Pt器件在N2气氛中进行快速热退火处理,发现器件的操作电压降低、器件的开关比增大、器件的电阻转变一致性提高。通过原子力扫描对退火前后Dy2O3薄膜的表面形貌进行分析,以及对Dy2O3薄膜表面的氧镝原子的化学态的X射线光电子能谱进行分析,进一步推断器件电阻转变是由于薄膜表面氧含量的增加引起的。分析认为表面氧含量的增加使的Dy2O3薄膜分为富氧的Dy2O3+x和Dy2O3-x,富

7、氧的Dy2O3+x使得器件初始电阻值升高,开关比增大;而缺氧的Dy2O3-x层由于大量氧空位的存在则降低了器件的操作电压。(2)通过磁控溅射和脉冲激光沉积制备了ITO/Dy2O3/ITO透明阻变器件(T-RRAM)。高分辨透射电镜结果发现Dy2O3薄膜为纳米多晶,在Dy2O3薄膜与ITO底电极之间存在约10nm非晶界面层。研究认为非晶界面层可以作为氧阻挡层,可以有效的防止Dy2O3薄膜中的氧在电场作用下发生氧化反应向外界扩散,提高器件的使用寿命。本研究所提出的T-RRAM具有优良的光学透过性(>80%)、良好的循环特性34(>100次)、大开关比

8、(>10)和良好的耐久性(>10s)。对阻变各个阶段I-V特性曲线的分析表明器件的电阻转变是由Dy2O3层中氧离子在外加电场作用下迁移产

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。