资源描述:
《军工电子产品有铅无铅混装工艺的可靠性研究》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库。
1、硕士学位论文军工电子产品有铅无铅混装工艺的可靠性研究论文作者:强楷雯学位类别:工程硕士领域名称:电子与通信工程校内指导教师:曹白杨教授校外指导教师:刘海研究员级高级工程师2015年6月9日中图分类号:TG454密级:公开UDC:621.791学号:201332003北华航天工业学院硕士学位论文军工电子产品有铅无铅混装工艺的可靠性研究论文作者:强楷雯学位类别:工程硕士领域名称:电子与通信工程校内指导教师:曹白杨教授校外指导教师:刘海研究员级高级工程师2015年6月9日北华航天工业学院硕士学位论文摘要对于军
2、工电子产品而言,如何在采用有铅制程的情况下焊接有铅、无铅元器件并保证其可靠性已成为军工单位迫切需要解决的问题。本文是以有色金属材料学科为理论指导,在试验的基础上,首先对有铅无铅混装工艺的军工电子产品的各个工艺流程的参数进行了控制,包括印刷参数、贴装参数,回流焊接参数等,完成了SMT有铅焊膏下有铅、无铅元器件的混装焊接;其次对试验PCB板进行了可靠性验证试验,包括温度循环试验和振动试验,最后通过使用X-Ray检测仪对焊点进行检测,用金相显微镜分别对不同焊端镀层的元器件的焊点形态及合金层进行分析,以达到生产
3、过程的稳定、可控、可靠,使相应工艺具有可操作性、广泛性和一致性。本文在试验中发现在成分为Sn62Pb36Ag2的有铅焊膏焊接有铅元器件、镀层为纯锡、镍钯金、锡银铜等镀层的无铅元器件的条件下,在严格控制焊接温度窗口在235±5℃+5之间,大于有铅焊料熔点(179℃)的回流时间为80s左右,大于220℃的时间至少为40−2秒时,能保证得到有效的Cu6Sn5合金层的厚度在4um范围内,此混装焊接可满足军用电子产品的可靠性。关键词:军工电子产品有铅无铅混装工艺可靠性合金层I军工电子产品有铅无铅混装工艺的可靠性研
4、究AbstractIthasbecomeanurgentproblemtobesolvedhowtosolderleaddevicesandlead-freedevicesinleadprocessandassureitsreliabilityformilitaryelectronicproducts.Thispaperisbasedonexperimentsandthesubjectofnonferrousmetalsmaterialsfortheoreticalguidance.Firstly,it
5、hasanresearchonparametersofmixedprocessofmilitaryelectronicproducts,includingprintingparameters,placementparametersandreflowsolderingparameters,etc.TheexperimentsfinishedSMTmixedweldingunderleadcomponents,lead-freecomponentsandleadsolderpaste.Secondly,th
6、ePCBhasmadethereliabilitytest,includingthetemperaturecyclingtestandvibrationtest.Finally,thesolderjointsweredetectedbyusingX-Raydetectorandthemorphologyandalloylayerofthecomponentsindifferentsolderjointswereanalyzedbymetallographicmicroscope.Inordertoach
7、ievethestable,controllableandreliableproductionprocess,thetechnologycanbeoperable,widelyandconsistent.IntheexperimentthesolderpastecompositionisSn62Pb36Ag2.Theleadsolderpasteweldingleadcomponents,lead-freecomponentsofpuretin,nickel,palladium,tinsilvercop
8、perandothercoatingconditions.Whentheweldingtemperaturecontrolbetweenthe235℃plusorminus5℃,morethan179℃refluxtimeisabout80sandmorethan220℃foratleast40seconds,theresultcanguaranteetogettheeffectiveoftheCu6Sn5alloylayerthickne