基于ep的图像处理系统sinew

《基于ep的图像处理系统sinew》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在教育资源-天天文库。

1、第27卷第4期信息技术VOL．27N0．42003年4月INF0RMATIONIECHNOLOGYApt．2003基于ESPI的图像处理系统于景伟(哈尔滨学院计算机系，哈尔滨150086)摘要：从电子散斑干涉测量技术的基本原理出发，通过建立数学模型，编制了一种ESPI条纹图像处理软件，并通过电子散斑干涉条纹图象特征的分析，尝试一种频域滤波去噪算法——DcT指数低通滤波。实验结果表明该方法对ESPI奈纹图象是有效的。关键词：ESPI；图像处理；DCT指数低通滤波中图分类号：TP317．4文献标识码：B文章编号：1009—2552(2003)04—0041—03ASystemofImage

2、ProcessingBasedonESPIYuJingwei(DepartmentofCompu~rScience，HarbinUniversity，Harbin150086，China)Abstract：Startingfromthebasicprincipleofelectronicspecklepatteninterferometry-thispaperaimstopro-gramthesoftwareofimageprocessingbasedonESPI-andakindoftheDCTexponentlow—pass-filter’Sarithmeticispresente

3、dinthispaper，byanalyzingthecharacteristicsofESIPimage．TheexperimentalresultsindicatethatthemethodisefficientforESPIimage．Keywords：ESPI；Imageprocessing；DCTexponentlowpassfilterl电子散斑干涉测量技术简介计算机技术、电子技术和数字图象处理技术的发展，散斑干涉测量技术是六十年代末由J．M．Burch形成了电子散斑干涉测量技术(ElectronicSpecklePatternInterferometry简称ESPI)。其

4、特点如下：①采和J．T．Tokardki首先提出的一种光学测量技术，具用CCD或，Ⅳ摄象机和电子存储器取代全息干板记有非接触、测量精度高、对环境的防震要求低、可在录物面散斑场的光强信息，可用电子或数字处理技明光下操作、能进行全场测量等特点，因而广泛应用术实时处理信息，实时显示干涉条纹，快速方便。②于光学粗糙表面的变形测量和无损检测。散斑最初使用图象采集卡(FrameGrabberBoard)以每秒25帧是被当做全息照相时的噪音而被认识的。它是由粗的速率采集散斑场信息，从而对工作环境的防震要糙面散射形成的，某种意义上说散斑是粗糙表面的求大大降低。由ESPI发展而来的电子错位干涉法信息携带

5、者，所以借助散斑不仅可以研究粗糙表面则完全不需要防震，可以走出实验室进行现场测试。本身，而且还可以研究其形状和位置的变化。其基③采用相减模式处理干涉散斑场，可消除一般杂散本原理是：当一束激光照射到物体(如铝板)的粗糙光的影响，明室操作，这给工作人员带来方便。④电表面上时，在铝板前面的空间将布满明暗相间的亮子散斑条纹图可以数字形式保存在存储介质中，这斑与暗斑，其分布是杂乱的，故称为散斑；形成散斑样便于条纹后处理，结合计算机技术使条纹自动分必备条件有：有能发生散射光的粗糙表面且深度必析成为可能。但是，散斑条纹图象中存在着强烈的须大于波长，以使散射光比较均匀；入射光的相干度要足够高，如激光。

6、七十年代初，利得茨等人研究了收稿日期：2003—01—17双光束散斑干涉法测量平面内位移，要求曝光期间作者简介：于景伟(1967一)，男，哈尔滨学院计算机系，讲师，哈尔滨对机械震动严格隔离以保持左右光程差恒定。随着工大在职研究生，主要从事计算机教学与应用技术。一41—颗粒性随机噪声，使条纹的可见性和分辨率受到很位移，测量灵敏度可由改变光束照射角0来调节，一大限制，去除颗粒噪声的影响是ESPI发展的关键。般可达波长的量级，但其最大可测位移受散斑尺寸因此，实现散斑条纹图象的计算机自动去噪声处理，的限制，当位移量超过散斑尺寸时，其相关性将被破为电子散斑干涉技术应用于焊接动态位移场的测量坏。用

7、CCD摄象机在物面的法线方向采集物体变及分析其变化规律提供便捷工具。总之，ESPI是在形前后的散斑图象，分别记录到散斑场信息：现代高科技成果激光技术、视频技术、电子技术、信Il=Io+If+2√IoIcos口(4息和图象处理技术、计算机技术、全息干涉和散斑干涉技术、精密仪器及自动控制技术的基础上发展起，2=Io+，，+2~／，0，，CO6(+△)口(5)来的一种现代光测技术。其中I。、I2分别表示变形前后的散斑场的光强，2ESPI条纹图像处理基