dsp芯片试验检测装置的设计与研究

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1、DSP芯片试验检测装置的设计与研究作者姓名黄钊导师姓名、职称王泉教授一级学科计算机科学与技术二级学科计算机系统结构申请学位类别工学硕士提交学位论文日期2014年11月学校代码10701学号1203121543分类TN82号TP33密级公开西安电子科技大学硕士学位论文DSP芯片试验检测装置的设计与研究作者姓名：黄钊一级学科：计算机科学与技术二级学科：计算机系统结构学位类别：工学硕士指导教师姓名、职称：王泉教授提交日期：2014年11月ADesignandResearchofAnExperimentTestingDeviceonDSPchipsAthesissubmittedtoXIDIA

2、NUNIVERSITYinpartialfulfillmentoftherequirementsforthedegreeofMasterinElectronicScienceandTechnologyByHuangzhaoSupervisor:Prof.WangquanNovember2014西安电子科技大学学位论文独创性（或创新性）声明秉承学校严谨的学风和优良的科学道德，本人声明所呈交的论文是我个人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。尽我所知，除了文中特别加以标注和致谢中所罗列的内容以外，论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果；也不包含为获得西安电子科技大学或其它教育机

3、构的学位或证书而使用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的说明并表示了谢意。学位论文若有不实之处，本人承担一切法律责任。本人签名：日期：西安电子科技大学关于论文使用授权的说明本人完全了解西安电子科技大学有关保留和使用学位论文的规定，即：研究生在校攻读学位期间论文工作的知识产权单位属于西安电子科技大学。学校有权保留送交论文的复印件，允许查阅、借阅论文；学校可以公布论文的全部或部分内容，允许采用影印、缩印或其它复制手段保存论文。同时本人保证，获得学位后结合学位论文研究成果撰写的文章，署名单位为西安电子科技大学。保密的学位论文在年解密后适用本授权书。本人签名

4、：导师签名：日期：日期：摘要摘要数字信号处理器（DigitalSignalProcessor，DSP）具有运算速度快，处理性能强等特点，在电子产品的各个领域都有着广泛的应用。DSP的测试能够为包含其应用的电子系统设计的正确性和可靠性提供支撑，因此，对DSP功能和性能的测试在包含DSP的电子系统设计中有着十分重要的意义。本文提出了一种针对TI公司的TMS320C6000系列DSP集成芯片进行测试的试验检测装置的系统方案，并对该系统从硬件和软件两个方面进行了设计实现。所做的主要工作包括以下几个方面：1、理论说明阶段。介绍了关于芯片测试的相关理论基础，给出了关于C6000系列DSP集成芯片的

5、电气特性以及硬件结构的介绍，详细说明了DSP芯片的特点。2、需求构建阶段。在分析了C6000系列DSP芯片硬件结构以及内部功能模块的基础上，给出了DSP芯片测试系统的需求分析，包括电参数测试方面和内部功能模块测试方面的需求分析，完成了实验检测装置的总体需求。3、系统设计阶段。在需求分析的基础上给出测试系统的总体方案设计，包括系统的总体功能设计和系统的总体结构设计，然后给出了系统总体方案的选择与设计分析。4、硬件实现阶段。首先对DSP集成芯片从电气特性方面的测试入手，给出了电参数测试中针对各相关参数进行测试的测试原理，以及具体的方案选型、设计分析与测试方法。然后从功能特性方面的测试入手，

6、给出了功能模块测试中针对各内部资源模块进行测试的测试原理，以及具体的设计方案与测试方法。最后再将上述两个方面进行整合，设计成为一个完整的测试系统，以完成对C6000系列DSP集成芯片的测试。5、系统测试阶段。给出了采用此设计方案所完成的DSP试验检测装置的系统模型对C6000系列DSP集成芯片进行测试的结果。对测试结果进行说明分析以及与万用表所测量的试验结果进行对比，找出了误差存在的原因并进行结果校正工作。在测量结果的后面给出了根据所得的测量结果而绘制的曲线图。通过采用此设计方案所设计的DSP试验检测装置对DSP集成芯片进行电参数方面的多组参数验证以及功能方面的验证实验和对测试结果的对

7、比分析，验证了该DSP试验检测装置设计方案的可行性和有效性。文章的最后给出了该试验检测装置的设计方案总结以及接下来所要进行的工作。I西安电子科技大学硕士学位论文关键字：TMS320C6000系列,DSP,集成芯片,测试,试验检测装置论文类型：应用基础研究类IIABSTRACTABSTRACTWithinthehighcomputationspeed,strongprocessingperformanceandothercharacteristi