欢迎来到天天文库
浏览记录
ID:34426702
大小:277.05 KB
页数:5页
时间:2019-03-06
《ccto/cu巨介电陶瓷》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在教育资源-天天文库。
1、第29卷第2期硅酸盐通报V01.29No.22010年4月BULLETINOFTHECHINESECERAMICSOCIETYAoril.2OlOCCTO/Cu巨介电陶瓷郑兴华,肖娟,严容,黄旭,郑可炉(1.福州大学材料科学与工程学院,福州350108;2.福州大学物理与信息工程学院,福州350108)摘要:采用固相反应法制备了CaCu3Ti4O2(CCTO)/Cu陶瓷,cu改善了CCTO陶瓷的烧结性能。cu添加较少时,CCTO/Cu陶瓷为CCTO单相;而当cu添加较多时,CCTO/Cu陶瓷中出现第二相,并且随烧结温度的升高,第二相由CuO变成Cu:O
2、。CCTO/Cu陶瓷存在明显的晶粒异常长大和层状晶界相。但是,当cu添加量达到3wt%时,层状富铜晶界相大大减少且分布不均匀。CCTO/Cu陶瓷均具有巨介电常数(>10,1kHz)和较低的损耗(一10)。CCTO/Cu陶瓷的巨介电常数与其半导体部分密切相关。相对于CCTO陶瓷,CCTO/Cu陶瓷介电常数具有更强的温度依赖性。关键词:巨介电常数;烧结温度;CCTO/Cu陶瓷中图分类号:TB34文献标识码:A文章编号:1001—1625(2010)02-0304-05CCTo/CUCeramicswithGiantDielectricConstantZHE
3、NGXing.hua,XIAOJuan,YANRong,HUANGXu,ZHENGKe—lu(1.CollegeofMaterialsScienceandEngineering,FuzhouUniversity,Fuzhou350108,China;2.CollegeofPhysicsandTelecommunicationEnginerring,FuzhouUniversity,Fuzhou350108,China)Abstract:TheCCTO/Cuceramicshasbeenpreparedbysolidstatereaction.Cuadd
4、itionimprovesthesinteringcharacterizationoftheCCTOceramics.WitllthelessCucontent.CCTO/Cuceramicsissimplephase.ThesecondaryphaseappearsintheCCTO/CuceramicswithmoreCucontent.AndthesecondrayphasechangesfromCuOtoCu2Owithincreasingsinteringtemperature.TheCCTO/Cuceramicsexhibitsveryla
5、rgegrainsandcontiniouslayeredgrainboundariesCu—richphase.However,thegrainboundaryphaseobviouslydecreasesanddistributesinhomogeneitywhentheCucontentreaches3wt%.AlltheCCTO/Cuceramicsdisplaysgiantdielectricconstant(>10,1kHz)andlowdielectriclOSS(一10).ThegiantdielectricconstantiSclos
6、elyrelatedwiththesemiconductorpartintheCCTO/Cuceramics.ThedielectricconstantofCCTO/CuceramicshasthestrongertemperaturedependencethanCCTOceramics.Keywords:giantdielectricconstant;sinteringtemperature;CCTO/Cuceramics引言近年来,随着器件Et益小型化的发展趋势,具有高介电常数、低损耗、较小温度系数的材料成为研究的热点。类钙钛矿结构的CCTO具有巨
7、介电常数(~10),并且在100~550K温度范围内具有良好的温度稳定性,从而引起了人们的极大兴趣。在对CCTO的大量研究中,巨介电常数的机理一直是研究重点。目前,研究者基本认同了巨介电常基金项目:福建省高等学校新世纪优秀人才支持计划(XSJRC2007-16);省属高校项目(2007F5002);福州大学发展基金(2007-XQ-01)作者简介:郑兴华(1976一),男,博士,副教授.主要从事功能陶瓷的研究.E-mail:brook76@163.com第2期郑兴华等:CCTO/Cu巨介电陶瓷数起源于Maxwell—Wagner效应及内部阻挡层电容模型
8、(IBLC模型)非本征机理,即CCTO材料由不同导电性的区域:绝缘层和导电层构成,这也被交流阻
此文档下载收益归作者所有