td-scdma窄带双极化智能天线设备规范v1.0.1

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1、中国移动通信企业标准QB-╳╳-╳╳╳-╳╳╳╳TD-SCDMA智能天线阵列设备规范（窄带双极化分册）TD-SCDMASmartAntennaArrayDeviceSpecification（ForNarrowbandDualPolarizationSmartAntenna）版本号：V1.0.1╳╳╳╳-╳╳-╳╳实施╳╳╳╳-╳╳-╳╳发布中国移动通信有限公司发布27QB-╳╳-╳╳╳-╳╳╳╳目录1范围22规范性引用文件23术语、定义和缩略语34双极化智能天线阵列的结构、原理44.1双极化智能天线的结构44.2双极化智能天线的原理44.

2、3双极化智能天线支持的频段55电气性能要求56天线校准网络要求77机械性能指标要求87.1双极化智能天线端口设计要求87.2双极化智能天线外部尺寸87.3双极化智能天线结构要求88环境指标要求及适应性要求98.1工作环境条件98.2环境适用性要求99可靠性要求9附录A双极化智能天线应用场景建议9附录B双极化智能天线各指标影响性比较10B.1.各指标分类与对网络性能的影响10B.2.指标对网络性能的影响11附录C双极化智能天线后续发展思路12C.1.双极化智能天线与MIMO技术的结合方案12C.2.MIMO+双极化智能天线在LTE中的发展13

3、附录D电性能和环境测试测试要求17D.1.电性能要求17D.1.1.增益测量17D.1.2.方向图圆度（全向天线）、半功率波束宽度、前后比、副瓣电平的测量18D.1.3.天线电下倾角测量20D.1.4.驻波比测量21D.1.5.隔离度测量22D.1.6.校准电路参数测量23D.1.7.功率容限测量23D.2.环境测试要求2427QB-╳╳-╳╳╳-╳╳╳╳附录E各类天线安装指导要求26附录F检测、标志、包装、运输、贮存26F.1.检验规则26F.1.1.型式检验26F.1.2.出厂检验26F.2.标志、包装、运输、贮存27F.2.1.标志2

4、7F.2.2.包装27F.2.3.运输27F.2.4.贮存2827QB-╳╳-╳╳╳-╳╳╳╳前言本规范旨在明确中国移动通信集团公司对TD-SCDMA双极化智能天线阵列设备的技术要求，并为相关设备的集中采购和TD-SCDMA网络建设提供技术参考。本规范主要包括天线电气性能、校准网络、机械性能、环境指标、可靠性要求等方面的内容。本标准的附录D、E、F为规范性附录，附录A、B、C为资料性附录。本标准由中移号文件印发。本规范由中国移动通信有限公司技术部提出并归口。本规范由规范归口部门负责解释。本规范起草单位：中国移动通信研究院。本规范主要起草人：

5、马欣27QB-╳╳-╳╳╳-╳╳╳╳1范围本规范规定了移动通信基站天线的常用术语、定义、分类、电气性能、机械性能、环境条件、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存要求。本规范适用于工作频段为1880~1920MHz和2010~2025MHz的TD-SCDMA移动通信系统基站天线。本规范是中国移动通信有限公司及其子公司制定移动通信天线产品标准，在选型及工程验收所必须遵循的基本原则和最低要求。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本

6、规范，然而，鼓励根据本规范达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本规范。GB/T2423.1电工电子产品环境试验试验A：低温试验方法GB/T2423.2电工电子产品环境试验试验B：高温试验方法GB/T2423.3电工电子产品基本环境试验规程中试验Ca：恒定湿热试验方法GB/T2423.4电工电子产品基本环境试验规程中试验Db：交变湿热试验方法GB/T2423.5电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击GB/T2423.6电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Eb和导则：

7、碰撞GB/T2423.8电工电子产品环境试验规程试验Ed：自由跌落GB/T2423.10电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc和导则：振动（正弦）GB/T2423.17电工电子产品环境试验规程试验Ka：盐雾试验方法GB/T2423.22电工电子产品环境试验规程试验N：温度变化GB/T2423.24电工电子产品环境试验规程试验Sa：模拟地面上的太阳辐射GB/T2423.38电工电子产品基本环境试验规程试验R：水试验方法GB4943-2001信息技术设备的安全27QB-╳╳-╳╳╳-╳╳╳╳GB15842-1995移动通信设备安全要求和

8、试验方法Q/ZX23.011.1-2004通讯设备电磁兼容性试验要求——总则Q/ZX23.011.5-2004通讯设备电磁兼容试验要求Q/ZX23.018.1-2001可靠性试验