集成运放检测仪论文

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1、基于STC89C52单片机的集成运放检测仪的设计王剑阮磊汪丹英莫晓敏摘要：为了能更高效、更准确地从实验室废弃芯片屮找到尚可利用的芯片，提出了一种基于STC89C52单片机的集成运放检测仪。该检测仪通过STC89C52单片机及相关硬件电路实现检测过程的自动化，摆脱了传统方法的繁琐步骤带来的困扰；通过LCD1602液晶显示器实现检测结果的可视化，使得检测人员更育•观、更方便的得到检测结果；通过键盘输入实现检测元件的多样化，可以有选择性的检测多种常用的芯片；从而能大大改善了芯片检测的效率。实践证明该系统具有一定的可靠性和实用性。

2、关键词：STC89C52单片机集成运放检测仪DesignofoperationalamplifierdetectorbasedonSTC89C52microcontrollerWANGJianRUANLeiWANGDan-yingMOXiao-minAbstract：Inordertofindavailablechipfromlaboratoryabandonedchipmoreefficientandmoreaccurate,operationalamplifierdetectorisproposed・Thisdetec

3、tormakeuseofSTC89C52microcontrollerandrelatedbyhardwarecircuittorealizeautomaticinspection,whichdisencumberusoftroublewhichbroughtfromfussystepsofthetraditionalmethods；thisdetectormakeuseofLCD1602liquidcrystaldisplaytorealizethevisualizationoftextresults,whichmake

4、inspectionpersonnelmoreintuitive,moreconvenientgettestresults;Thisdetectormakeuseofkeyboardentrytorealizethediversificationoftestcomponents,sowecantextvariouskindsofcommonchip;Thusthisdetectorcangreatlyimprovetheefficiencyofmicroarrayassay.Thepracticehasprovedthat

5、thisdetectorisreliableandpracticable.Keywords:STC89C52microcontrolleroperationalamplifierdetector1引言目前，就中国计量学院而言，由于实验教学和课外学生项口较多，电路及电子技术实验室中的芯片使用量大且使用型号相对集中，有些芯片价格相对较高。然而，在实验过程中，实验员或学生并没有充足的时间来判断芯片的好坏，用自己的主观经验来判断，把不能正常实现实验目标的原因归结于芯片木身问题，将可疑的芯片废弃，用新的芯片来代替原有的芯片。由于人为

6、原因，在废弃芯片中有相当大的比例还可以正常使用的。为此我们对计量学院电路及电子技术实验室废弃芯片进行统计。用传统方法对实验室中废弃芯片做检测，得出如表1所示的数据：表1.实验室10月11月12月芯片统计表10月份11月份12月份废弃芯片数量/个可利用芯片数/个利占比/%可用的例废弃芯片数量/个可利用芯片数/个可利用占的比例/%废弃芯片数量/个可利用芯片数/个可利用占的比例/%数字芯片(如74LS161.74LS138等)35102&634926.534823.5运放芯片（如0P07、uA741等）16318.7153201

7、8422.2电源芯片（如78057815等）9111.17114.310220总计601423.3561323.2621422.5由调查统计得到的数据不难看岀，实验室中废弃的芯片有近25%的芯片可再利用。这是一项较大的实验室额外支出，如能从这些废弃的芯片以较短的时间较好的仪器挑出尚可利用的芯片，就能大大减少实验教学成本，变向的加快实验室建设。传统检测方法步骤繁琐，效率不高，因此如何利用较准确较快速的方法确定相关芯片的好坏是大大降低实验教学成木，提高实验效率的有效途径。集成运放检测仪的设计开发能较好的解决以上问题，使芯片的检

8、测不用再像传统检测方法那样繁琐耗时，同时还能在废弃的相关芯片以较短的时间准确地挑选出尚可利用的芯片。2硬件电路设计2.1系统组成图1为硬件电路组成框图。数字芯片同运放电源类芯片分区检测。数字类芯片的检测通过单片机I/O口改变数字芯片的输入信号，单片机I/O口接收数字芯片相关输出管脚的数据，即0或1综合判