【8A文】《导体的电阻》教学课件.ppt

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1、第二章　恒定电流第六节：导体的电阻1.通过对决定导体电阻的因素的探究过程，体验运用控制变量研究物理问题的思维方法。体会实验探究和逻辑推理都是重要的科学研究方法。2.深化对电阻的认识，了解电阻定律，能用电阻定律来进行有关计算。3.理解电阻率的物理意义，并了解电阻率与温度的关系，通过对不同材料电阻率的介绍，加强学生理论联系实际的意识和安全用电的意识。教学目标1．与导体电阻有关因素的测量方法(1)电阻丝横截面积的测量把电阻丝紧密绕在一个圆柱形物体上(例如铅笔)，用刻度尺测出多匝的宽度，然后除以圈数，得到电阻丝的直径，进而计算出电阻丝的横截

2、面积；或用螺旋测微器测出电阻丝的直径，进而得到电阻丝的横截面积．一、影响导体电阻的因素2．探究导体电阻与其影响因素的关系(1)实验探究项目内容实验目的探究导体电阻与长度、横截面积、材料的关系实验电路实验方法控制变量法：在长度、横截面积、材料三个因素，b、c、d与a分别有一个因素不同实验原理串联的a、b、c、d电流相同，电压与导体的电阻成正比，测量出它们的电压就可知道电阻比，从而分析出影响导体电阻大小的有关因素1．电阻定律(1)内容：同种材料的导体其电阻R与它的长度l成正比，与它的横截面积S成反比；导体电阻与构成它的材料有关．这就是电

3、阻定律．(2)公式：R＝ρl/S.(3)单位：R：Ω，l：m，S：m2，ρ：Ω·m.二、导体的电阻(4)适用条件：温度一定，粗细均匀(S为定值)的导线或浓度均匀的电解液．①电阻定律反映了导体的电阻由导体自身决定，只与导体的材料、导体的长度和导体的横截面积和温度有关，与其他因素无关．②表达式中的l是沿电流方向导体的长度，横截面积是垂直电流方向的横截面．如图所示，一块长方形铜块，若通以电流I1，则长度为a，横截面积为bc；若通以电流I2，则长度为b，横截面积为ac.2．电阻率(1)物理意义：电阻率ρ是一个反映导体导电性能的物理量，是导体

4、材料本身的属性，与导体的形状、大小无关．(2)大小：ρ＝RS/l，各种材料的电阻率在数值上等于用该材料制成的长度为1m、横截面积为1m2的导体的电阻．①不能根据ρ＝RS/l错误地认为电阻率跟导体的横截面积S成正比，跟导体长度l成反比．②某种材料的电阻率大，不能说它对电流的阻碍作用一定大．这是因为电阻率大的材料制成的电阻可以是一个小电阻，这完全可由电阻的l、S决定．③各种材料都有各自的电阻率，各种金属中银的电阻率最小，其次是铜、铝，合金的电阻率大于组成它的任何一种纯金属的电阻率．(3)单位：欧·米(Ω·m)．(4)电阻率与温度的关系①

5、金属的电阻率随温度升高而增大，可用于制作电阻温度计．②半导体和电解质的电阻率随温度的升高而减小，半导体的电阻率随温度变化较大，可用于制作热敏电阻．③有些合金如锰铜、镍铜的电阻率几乎不受温度变化的影响，可用来制作标准电阻．④有些物质当温度降低到绝对零度附近时，电阻率突然减小到零——这种现象叫超导现象．能够发生超导现象的物体叫超导体．材料由正常状态转变为超导状态的温度叫超导材料的临界温度TC.4.应用实例——滑动变阻器(1)原理：利用改变连入电路的电阻丝的长度改变电阻．(2)在电路中的使用方法结构简图如图所示，要使滑动变阻器起限流作用，

6、正确的连接是接A与D或C，B与C或D，即“一上一下”；要使滑动变阻器起到分压作用，要将AB全部接入电路，另外再选择A与C或D及B与C或D与负载相连，当滑片P移动时，负载将与AP间或BP间的不同长度的电阻丝并联，从而得到不同的电压．注意：实验：测定金属的电阻率实验目标定位：1.学会使用螺旋测微器。2.理解该实验的原理。3.掌握实验操作，会处理数据一、实验目的1．学会使用电流表和电压表以及正确读数．2．学会使用螺旋测微器以及正确读数．3．掌握测定金属电阻率的方法．二、实验原理1．螺旋测微器(1)构造原理：螺旋测微器是测量长度的仪器之一．

7、在实验中常用它测量小球的直径、金属丝的直径和薄板的厚度等．用它测量长度，可以精确到0.01mm，还可以估读到0.001mm(即毫米的千分位)，因此螺旋测微器又称为千分尺．下图所示是常用的螺旋测微器．它的小砧A和固定刻度B固定在框架C上，旋钮D、微调旋钮D′和可动刻度E、测微螺杆F连在一起，通过精密螺纹套在B上．精密螺纹的螺距是0.5mm，即每旋转一周，F前进或后退0.5mm.可动刻度分成50等份．每一等份表示0.1mm，即可动刻度每转过1等份，F前进或后退0.01mm，因此，从可动刻度旋转了多少个等份就知道长度变化了多少个0.01m

8、m.(2)使用方法：a.找出零误差．测物前将两小砧并拢，如果可动刻度的零刻线正好在固定的零刻线上，零误差为零；如果可动刻度的零刻线在固定零刻线之上n小格，应在读数中加上0.01×n(mm)，反之则减去0.01×n(mm)．b．将待测物