用脉冲激光沉积法在硅衬底上生长irolt2gt薄膜的研究

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时间:2019-02-25

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1、武汉理工大学硕士学位论文摘要lr02薄膜因具有良好的抗氧化性能、很强的催化活性以及很好的抗腐蚀性等,可广泛应用于电极材料、微电子、固态燃料电池和气敏元件等许多领域。论文基于脉冲激光沉积(PLD)技术,在si(如o)衬底上制备了It02薄膜。重点研究了氧分压、衬底温度、激光输出能量、靶间距等PLD工艺参数和后续退火对其结构和性能的影响,以得到高质量的lr02薄膜。结果表明:各种工艺参数对于薄膜的物相和结构影响很大,较低的氧分压得不到纯的多晶Ir02薄膜,而衬底温度、激光能量、衬底和靶之间的距离、退火温度影响薄膜的取向和微观形貌。通

2、过对Ir02薄膜生长条件的探索,找到了生长高质量1r02薄膜的优化条件:氧分压20Pa,衬底温度500。C,激光能量14(hnJ,衬底和靶的距离50mm,退火温度700~750"C。XRD、SEM和AFM等测试分析表明:在此条件下沉积的Ir02薄膜沿001)取向生长,厚度均匀,界面清晰,与硅衬底表面结合良好,其表面粗糙度为3.9nm。利用四探针测试技术测得b02薄膜的室温电阻率达到37±1.跏O-12111,已极接近块体单晶Ir02薄膜的电阻率,适于作电极材料。关键词:脉冲激光沉积(PLD);lr02薄膜;电阻率斌锻理工大学硕士

3、攀缸论文Abstractl醴thinfilms封edepositedbypulsedlaserdeposition佃LD)Oilsilicon(100)'substrate鲰thispaper.Byiwcestigatlngtheeffectsofdeposithmparatlleterssuch.∞the02pressureothesubstratetemperature,thelaseroutputenergy,thedistanceofthesubstrateto氇。targetmadtheannealingtcmpemP

4、arc∞thes姆uclLtreandtheperformance耐k02thinfilms。highqualityhavebeenobtained.Theresultshowsthat:alldepositionparametershavegrcmleffeCt雠theorientationandthestr#ctmeofthe赫ms.Low02pressurewillresultinimpurepolycrystadlineIre2thinfilms,AndthesnbsLtatctempemtttre,棰eiase*onl

5、ptitenergy,thedistanceofthesttbstratetothetargetandtheannealingtemperaturewillinfluencetheorientationandthemorphologyofthefilms。珊exploringthegrowingconditionsnftheIt02thinfilms,optilmmlparametershaV。beenidentified:02p㈣ur。20Pa,aubstratetemperature500℃,I魂sefoutput《nerg

6、y140mJ,distanceofthesubstratetothetarget50ram,annealingtemperature7(Kw750℃.Thefilms螂analyzedwith)(RlXSEMandAFMw赫c盘showthatthefirmdeposited至珏嘟矗nⅡm群哦Ime拖姆growswithapmmiEant嵇00orientation}tmiformthickness,clearinttafface,goodadherencetothesubstrateand3.9mesurfacerou曲hes

7、s.Usingfourprobesmethodshowsthatitselectricalrasistivity髓n黼拍鑫lowvalne蠛37查1。5#0“蕊,w醯也apD-oaches

8、;。协ebulksiIIDecrystMlr02thinfilm.It∞nbeusedaselectrodematerial。Keyword:pulsedlaserdeposition妒LD嚣IrOzthinfilms;electricalreedstivityⅡ武汉埋工大学硕士学位论文1.1弓

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