基于串行闪存的数据诊断分析及研究

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1、工程硕士学位论文摘要摘要快闪存储器(闪存)作为一种随着微电子工业的高速发展而诞生的新兴的半导体存储器件，以其独有的非易失性，高密度，低成本等特点，逐渐取代了ROM/EPROM/EEPROM，在近几年中得到T迅猛的发展。尤其是串行闪存(SerialFlash)，因其具有较少的数据引脚，简单的外围电路构建，使其更为人们所常用。但是，由于闪存自身的存储架构原因，当对闪存写时，数据由1变为0，变为0后，不能通过写再变为1。当对闪存擦除时，数据由0变为1，不能只某位单元进行擦除。当其数据的擦除和改写时，只能以块为最小单

2、位进行操作，闪存的擦除包括块擦除和芯片擦除.块擦除是把某一擦除块的内容都变为1，芯片擦除是把整个闪存的内容都变为1。通常一个闪存存储器芯片，分为若干个擦除块，在进行闪存存储时，以擦除块为单位。且其具有10万一100万次的读写寿命。闪存的这些特性都有别于其他的存储器件。所以，本课题针对于闪存的这些特性，对闪存(串行)在数据的存储应用接口的设计和数据文件的管理方面作了相应的研究和思考，主要就客户/生产厂商在应用串行闪存的过程中所遇到的具体实际问题出发，如数据的丢失，指令的误操作，CRC校验错误等，设计和编制了一个

3、基于Nl公司的Labwindows/Cvl平台的针对M25系列串行闪存的数据诊断分析工具，以便于客户的有效和便捷使用。且试验证明该工具简单实用。关键词:串行闪存，SPI总线，线性文件管理，虚拟仪器Labwindows/CVI工程硕士学位论文摘要Abstract界iththehighspeeddeve1opmentofSemiconductorindustry，Flashmemoryanewrisingdevicereplacesthero1eofROM/EPROM/EEPROMgraduallybythetr

4、aitofNon一volatility，highdensityandlo份costetc.EsPeciallytheserialFlash，whichhavemore可ideusageareabecauseoflessdata/addresspinsand1eanperiPhera1structure.ButbecauseoftheinherentPhysicalstructure，itonlycanbeoPeratedbyB1ockasminimumunittoPerformeraseoroverwrite

5、thedata.B1ockorchiPeraseistochangebitstol.Normally，thememoryisseParatedintoseveralb1ockstobemaniPulated.Andalso，0.1一lmillionread/盯itelifecyclesisthecharacter1sticofFlashThesearethedifferenceofothermemorydevices.50，intermsoftheseFlashfeatures，somestudyandref

6、lectionwasPerformedonthedesignoftheapPlicationinterfaceofSerialPlashusedatdatastorageareaanddatamanagement.Also，intermsoftheactualproblemsofFlashthatcustomer/manufacturerencountered，adlagnose/debugkitfocusingontheM25seriesSerialFlashwasdevelopedalso贾hichisb

7、asedontheplatformofLab甲indo份5/Cyl.Itisprovedtobefriendlyandeffective.Key份ords:Seria1Flash，SPIBus，linearfile帕nagement，virtualinstrumentLabwindows/CVI声明本学位论文是我在导师的指导下取得的研究成果，尽我所知，在本学位论文中，除了加以标注和致谢的部分外，不包含其他人已经发表或公布过的研究成果，也不包含我为获得任何教育机构的学位或学历而使用过的材料。与我一同工作的同事对

8、本学位论文做出的贡献均己在论文中作了明确的说明。研究生签名表鑫护7年3月;‘日学位论文使用授权声明南京理工大学有权保存本学位论文的电子和纸质文档，可以借阅或上网公布本学位论文的全部或部分内容，可以向有关部门或机构送交并授权其保存、借阅或上网公布本学位论文的全部或部分内容。对于保密论文，按保密的有关规定和程序处理。研究生签名:卜夕年多月声日工程硕士学位论文基于串行闪存的数据诊断分析及研究1绪论快闪存储