基于可复用ip核的soc测试.研究

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1、目录目录摘要.................................................................................................................................IABSTRACT.................................................................................................................

2、.....II目录..............................................................................................................................III第一章引言..................................................................................................................

3、....1§1.1研究背景及意义...............................................................................................1§1.2国内外研究现状...............................................................................................3§1.3论文研究的重点及章节安排......................

4、.....................................................4第二章可测性设计及P1500概述.................................................................................6§2.1测试的基本概念..............................................................................................

5、.6§2.2故障模型...........................................................................................................6§2.3常用的可测性设计方法...................................................................................8§2.3.1基于扫描设计.............................

6、...............................................................8§2.3.2内建自测试................................................................................................9§2.3.3边界扫描...........................................................................

7、.........................9§2.4IEEEP1500标准结构与规范........................................................................11§2.4.1IEEEP1500测试外壳.............................................................................12§2.4.2IEEEP1500标准测试结构..................

8、...................................................13§2.4.3核测试语言..............................................................................................15§2.5本章小结.................................

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