基于可复用ip核的soc测试研究

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1、·分类号密级UDC编号桂林电子科技大学硕士学位论文题目____基于可复用IP核的SOC测试研究___（英文）ResearchOnSOCTestBasedOnReusableIPCore研究生姓名:方刚指导教师姓名、职务:雷加教授申请学位门类:工学硕士学科、专业:检测技术与自动化装置提交论文日期:2007年4月论文答辩日期:2007年6月_________________年月日···-···独创性（或创新性）声明本人声明所呈交的论文是我个人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。尽我所知，除了文中特别加以标注和致谢中所罗列的内容以外，论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果

2、；也不包含为获得桂林电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中做了明确的说明并表示了谢意。申请学位论文与资料若有不实之处，本人承担一切相关责任。本人签名：日期：关于论文使用授权的说明本人完全了解桂林电子科技大学有关保留和使用学位论文的规定，即：研究生在校攻读学位期间论文工作的知识产权单位属桂林电子科技大学。本人保证毕业离校后，发表论文或使用论文工作成果时署名单位仍然为桂林电子科技大学。学校有权保留送交论文的复印件，允许查阅和借阅论文；学校可以公布论文的全部或部分内容，可以允许采用影印、缩印或其它复制手段保存论文。（保

3、密的论文在解密后遵守此规定）本学位论文属于保密在____年解密后适用本授权书。本人签名：日期：导师签名：日期：···-···中文摘要摘要随着微电子技术的飞速发展，集成电路及其系统变的日益复杂，传统的测试模型和测试方法远不能满足当今大规模电路的测试要求。系统芯片（SOC）测试遇到了新的挑战，可复用IP核的测试就是其中之一。测试结构复用和测试优化是可复用IP核测试的两个关键问题，本文针对这两个关键问题，较为系统的研究了可复用IP核的测试结构以及Wrapper和TAM优化算法。本文深入研究了可复用IP核的测试结构，详细分析了IEEEP1500标准中测试外壳（Wrapper）单元结构在移

4、位过程中存在的不安全性，实现了安全的Wrapper单元结构。这种安全的Wrapper结构有效解决了测试移位过程中的安全移位问题，并且能够降低测试数据移位过程中的动态功耗。在此基础上，设计并实现了在Wrapper结构下的控制器，此控制器能够灵活实现Wrapper的几种工作模式和相关指令。以减少测试时间的测试优化为目标，本文对Wrapper和TAM的组合优化问题进行了深入研究，提出了用匀度优化方法来优化Wrapper内部扫描链，采用此方法能够有效的平衡核内部扫描链。根据背包算法的特点，采用改进背包问题的算法有效缩短单个IP核的测试时间。采用遗传算法有效的解决测试调度的NP问题，详细实

5、现了其过程。最后用ITC’02SOC测试基准电路进行算法验证，与传统整线性规划算法相比，遗传算法优化效果良好，能有效降低SOC测试时间。关键词：系统芯片测试外壳可复用IP核测试结构优化···I-···英文摘要RESEARCHONSOCTESTBASEDONREUSABLEIPCOREABSTRACTWithrapiddevelopmentofmicroelectronictechnology,integrationcircuitanditssystembecomemoreandmorecomplex.Traditionaltestmodelandtestmethodcan’tsa

6、tisfytherequestforthelarge-scaleintegrationcircuit.SOCtestmeetsnewchallenges.ReusableIPcoretestisoneofit.ReusabletestarchitectureandtestoptimizationarethetwokeypointsofreusableIPcore.Basedonthetwopoints,thispapermakesdeeplyresearchonSOC’teststructureandWrapper/TAMoptimizationmethod.Thispaperm

7、akesdeeplystudyonreusableIPcoretestarchitectureandanalyzesunsafeperformanceofIEEEP1500standardtestwrappercellarchitectureinshiftprocess.Safewrappercellarchitectureisrealized.Thesafewrapperstructurecanresolvesafeshiftproblemandreducedynamiccon