基于EMD和SVM与AE传感器的刀具磨损识别

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时间:2018-12-25

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1、基于EMD和SVM与AE传感器的刀具磨损识别摘要与传统方法的对比,声发射(AE)传感器具有更好的刀具磨损识别性能因此,本文采用AE传感器来识别刀具磨损。由于AE的多样性和时变性,采用经验模式分解(EMD)和支持向量机(SupportVectorMachine,SVM)来分析AE信号。EMD适用于分析非平稳信号,SVM具有良好的小样本分类能力。根据这些特点,提出了一种基于EMD和SVM识别刀具磨损故障的方法。通过EMD提取不同条件下工具的特性,并通过SVM分类器识别刀具磨损。实验结果表明,基于EMD和SVM的方法适用于识别刀具磨损,成功鉴定率为95%。

2、关键词:工具磨损;AE传感器;经验模式分解;支持向量机第一章介绍随着市场竞争的加剧,现代制造业应尽可能提高产量,同时降低成本。现代制造的方向是实现自动化和无人操作。但是,工具磨损由操作者以常规方法识别。它是主观的,成为现代制造发展的瓶颈。因此,广泛研究了刀具磨损的在线检测方法,常规方法包括电流,光纤和图像,可直接检测工具磨损。但是这些方法没有由于存在切屑和热应力,实现了良好的效果[1,2],切割力其中可以间接检测刀具磨损,由于进给速率变化和切割深度变化的微弱,没有取得良好的效果[3-6]。声发射反映了心理材料内部晶格的变化。因此它包含了关于刀具磨损的

3、许多信息,并广泛应用于故障检测领域[7,8]。但是由于AE信号的多样性和不可逆性,难以提取刀具磨损的特征。AE信号特征提取的常规方法是小波包分解,从不同频率的功率提取特征带。EMD可以基于局部特征自适应分解信号。在分解过程中,可以自适应地创建基本功能。然后分解后实现的内在模式函数(IMF)包括原始信号的局部特征,自适应实现多分辨率分析[11]。因此,EMD用于提取刀具磨损的特征,SVM用于识别刀具磨损模式。本文将结构如下:在第二章,我们将介绍EMD方法的定理;在第三章我们将介绍SVM方法的定理;在第四章中,我们将介绍我们的方法,解释每一步;在第五章中

4、,我们将展示如何应用此方法进行刀具磨损识别。最后,我们将提出意义上的结论。第二章经验模式分解1998年,在美国航空航天局戈达德太空飞行中心工作的NordenE.Huang,提出了Hilbert-Huang变换来处理具有非线性和非平稳特征的信号[12]。变换的主要特征是采用经验模式分解技术,将数据分解成具有模式功能的正交IMF组。在这里,IMF必须满足下面两个条件。第一个是极值的数量等于过零点的数量。第二个是上包络线和下包络线的局部对称性[13]。事实上,AE信号可能不是满足这些条件是因为其在工具磨损过程中的复杂性。但是,Hilbert-Huang说任

5、何信号都是由一些不同的内在模式组成的,它们可能是线性的或非线性的[14,15]。该极值数等于本地组中的零点数,具有上包络线和下包络线的对称特性。在任何时候,信号可能包括许多固有模式。如果这些模式相互重叠,它们可能会形成复合信号。因此,任何信号都可能被分解成无限的IMF,这可以通过下面的方法来实现。(1)确定本地的所有极值点组,然后连接这些最大点以通过三次样条线格式化上包络线。同时,连接这些最小点以通过三次样条线来格式化下包络线。这两条线包括信号的所有数据。(2)设两条信封线的平均值为表示为1,然后计算(1)优分类器面可以在非线性变换后实现线性分类器。

6、本文选择径向基函数(RBF)。(3)判断是满足IMF。如果不满足IMF的条件,则重复步骤(1)和(2),而作为原始数据,直到满足IMF的条件。现在,令=。因此,的第一个IMF是,它表示的高频分量。(4)从提取,然后获得信号没有高频分量。(2)作为原始数据,根据步骤(1),(2)和(3)处理以实现由表示的第二个IMF。重复游行,实现了IMF。(3)当或满足变为单调函数的终止条件时,重复终止。从式(2)和(3)可以看出,(4)这里,是表示信号趋势的残差函数,然而,每个IMF,,分别表示从高到低的不同频带分量。EMD可以将信号分解成波形,并将趋势分解为不同

7、的尺度,然后实现具有不同特征尺度的一系列IMF。每个IMF都关注信号的本地特征。然后,特征提取可能更准确有效。因此,当工具磨损时,采用EMD从AE信号中提取特征。第三章支持向量机1995年,Vapnik提出SVM方法,被认为是分类方法的代表,特别是当样本和非线性情况较少时[16,17]。它具有更好的泛化性能。假设有两类训练样本可用。,(1)这里,是样本数,是维数,是类的标识符。非线性问题可以在高维空间中转化为线性问题,其中实现了最优分类器面。基于功能定理,只有当sum函数满足Mercer条件时,它才对应于变换空间的内积。所以,一个适当的内部生产功能最

8、优分类器面可以在非线性变换后实现线性分类器。本文选择径向基函数(RBF)。{-()2}(2)分类器面方程的一

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