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时间:2018-12-06
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1、如何降低MOSFET损耗并提升EMI性能 一、引言 MOSFET作为主要的开关功率器件之一,被大量应用于模块电源。了解MOSFET的损耗组成并对其分析,有利于优化MOSFET损耗,提高模块电源的功率;但是一味的减少MOSFET的损耗及其他方面的损耗,反而会引起更严重的EMI问题,导致整个系统不能稳定工作。所以需要在减少MOSFET的损耗的同时需要兼顾模块电源的EMI性能。 二、开关管MOSFET的功耗分析 图1.MOSFET截止-导通波形转换如何降低MOSFET损耗并提升EMI性能 一、引言 MOSFET作为主要的开关功率器件之一,被大量应用于模块电源。了解MOSFET的损
2、耗组成并对其分析,有利于优化MOSFET损耗,提高模块电源的功率;但是一味的减少MOSFET的损耗及其他方面的损耗,反而会引起更严重的EMI问题,导致整个系统不能稳定工作。所以需要在减少MOSFET的损耗的同时需要兼顾模块电源的EMI性能。 二、开关管MOSFET的功耗分析 图1.MOSFET截止-导通波形转换图2.MOSFET导通-截止波形转换 MOSFET的损耗主要有以下部分组成:1.通态损耗;2.导通损耗;3.关断损耗;4.驱动损耗;5.吸收损耗;随着模块电源的体积减小,需要将开关频率进一步提高,进而导致开通损耗和关断损耗的增加,例如300kHz的驱动频率下,开通损耗和关断
3、损耗的比例已经是总损耗主要部分了。 MOSFET导通与关断过程中都会产生损耗,在这两个转换过程中,漏极电压与漏极电流、栅源电压与电荷之间的关系如图1和图2所示,现以导通转换过程为例进行分析: t0-t1区间:栅极电压从0上升到门限电压Uth,开关管为导通,无漏极电流通过这一区间不产生损耗; t1-t2区间:栅极电压达到Vth,漏极电流ID开始增加,到t2时刻达到最大值,但是漏源电压保持截止时高电平不变,从图1可以看出,此部分有VDS与ID有重叠,MOSFET功耗增大; t2-t3区间:从t2时刻开始,漏源电压VDS开始下降,引起密勒电容效应,使得栅极电压不能上升而出现平台,t2
4、-t3时刻电荷量等于Qgd,t3时刻开始漏极电压下降到最小值;此部分有VDS与ID有重叠,MOSFET功耗增大 t3-t4区间:栅极电压从平台上升至最后的驱动电压(模块电源一般设定为12V),上升的栅压使导通电阻进一步减少,MOSFET进入完全导通状态;此时损耗转化为导通损耗。 关断过程与导通过程相似,只不过是波形相反而已;关于MOSFET的导通损耗与关断损耗的分析过程,有很多文献可以参考,这里直接引用《张兴柱之MOSFET分析》的总结公式如下: 备注:为上升时间,为开关频率,为下降时间,为栅极电荷,为栅极驱动电压为MOSFET体二极管损耗。 三、MOSFET的损耗优化方法
5、及其利弊关系 3-1.通过降低模块电源的驱动频率减少MOSFET的损耗 从MOSFET的损耗分析可以看出,开关电源的驱动频率越高,导通损耗、关断损耗和驱动损耗会相应增大,但是高频化可以使得模块电源的变压器磁芯更小,模块的体积变得更小,所以可以通过开关频率去优化开通损耗、关断损耗和驱动损耗,但是高频化却会引起严重的EMI问题。金升阳DC/DCR3产品,采用跳频控制方法,在轻负载情况下,通过降低模块电源的开关频率来降低驱动损耗,从而进一步提高轻负载条件下的效率,使得系统在待机工作下,更节能,进一步提高蓄电池供电系统的工作时间,并且还能够降低EMI的辐射问题; 图3.反激开关电源一
6、般框图 3-2.通过降低、来减少MOSFET的损耗 典型的小功率模块电源(小于50W)大多采用的电路拓扑结构为反激形式,典型的控制电路如图3所示;从MOSFET的损耗分析还可以知道:与开通损耗成正比、与关断损耗成正比;所以可以通过减少、来减少MOSFET的损耗,通常情况下,可以减小MOSFET的驱动电阻Rg来减少、时间,但是此优化方法却带来严重的EMI问题;以金升阳URB2405YMD-6WR3产品为例来说明此项问题: 1)URB2405YMD-6WR3采用10Ω的MOSFET驱动电阻,裸机辐射测试结果如下: 图4辐射骚扰水平极化方向测试结果 图5辐射骚扰垂直极化方向测试结果
7、 2)URB2405YMD-6WR3采用0Ω的驱动电阻,裸机辐射测试结果如下: 图6辐射骚扰水平极化方向测试结果图7辐射骚扰垂直极化方向测试结果 从两种不同的驱动电阻测试结果来看,虽然都能够通过EN55022的辐射骚扰度的CLASSA等级,但是采用0欧姆的驱动电阻,在水平极化方向测试结果的余量是不足3dB的,该方案设计不能被通过。 3-3.通过降低吸收电路损耗来减少损耗 在模块电源的设计过程中,变压器的漏感总是存在的,采用反激拓扑
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