如何降低光纤接头熔接损耗

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1、降低光纤接头熔接损耗的方法1光纤接头馆接损耗的概念（四川灼识光纤熔接机）光纤熔接是用全自动的专用设备——熔接器（FusionSplitter）将两段光缆中需要连接的光纤分别——连接起来，熔接时采用短暂电弧烧熔两根光纤端面使之连成一体，这种连接方法接头体积小、机械强度高、光纤接续后性能稳定，因而应用广泛。光纤接续后光线传输到接头处会产生一定的损耗量称之为熔接损耗或接续损耗。由于光纤接续质量影响光纤线路传输损耗的客限、光纤线路无中继放大传输距离等参数，因此要求光纤接头处的熔接损耗尽可能小，以确保光纤CATV信号的传输质量。目前，多数熔接法可以做到使熔接损耗子均小于0.1dB，甚至可以达到小

2、于0.05dB的水平，对具体的光纤CATV工程而言，可根据具体情况如光纤线路中继段长度、光设备发射功率与接收灵敏度及系统格量等确定每个光纤接头处允许的熔接损耗值，将其作为熔接损耗指标在有关技术文件中加以明确规定。光纤CATV传输线路上每个中继段的线路传输损耗也应有明确规定，因为光纤接头全部熔接完毕后衡量光纤线路传输质量的指标是光纤线路的传输损耗，目前要求这项指标在0.25dB/km以下（含熔接损耗）。由于光纤CATV的传输网络的发展方向是宽带数据业务网，因而对光纤接头的熔接损耗及光纤线路的传输损耗应有较高要求，特别是一些光纤CATV干线网，如全长1800km多连接全省13个省辖市呈双环

3、型结构以传输广播电视节目为主要业务的江苏广播电视光缆传输省干线网，要求在1550nm窗口的光纤线路传输损耗不得超过0.23dB／km，光纤接头的熔接损耗值目前最大不得超过0.06dB。2光纤接头熔接损耗的测量（四川灼识光纤熔接机）测量光纤接头熔接损耗需用光时域反射仪（OpticalTimeDomainReflectometer，OTDR），这种仪器采用后向散射法来测量光纤接头处的熔接损耗值。熔接机上虽也显示熔接损耗值，但因其是采用光纤芯轴直视法进行局部监视测得的，仅在非常理想的状态下才反映实际的熔接损耗，故一般仅供参考用。由于光纤的折射率、芯径、模场直径及瑞利散射系数的不同，所以从光纤

4、接头两端分别测量熔接损耗得到的两个方向的熔接损耗测量值是不同的且相差较大，故GB／T15972－1995《光纤技术规范》附录A《光纤后向散射功率曲线分析》规定，熔接损耗的测量应分别从光纤接头的两端进行测量，亦即双向测量，取两个方向测量值代数和的平均值作为该接头处熔接损耗值；由于被接续的两根光纤散射性能的差异，OTDR测得光纤接头的熔接损耗值可能为正值也可能为负值，对熔接损耗为负值的光纤接头可认为熔接合格，一般不重新熔接；熔接时每个接头的熔接损耗的OTDR测量值一般应小于熔接损耗所要求的指标值的1／2－2／3，如指标要求小于0.1dB，则单向测量值一般应小于0.05－0.06dB。测量熔

5、接损耗的方法一般有远端监测法，即置于机房内的OTDR通过带连接器的尾纤与被测光缆相连，光纤接续点不断向前移动，而OTDR始终在机房内对接续点进行质量监视和熔接损耗测量，其优点是测量偏差小，缺点是只能单向测量，适用于模场直径一致性较好的光纤。近端监测法即OTDR始终在接续点前边距接续处一个光缆盘长，缺点是OTDR需不断向前移动，影响仪器的使用，优点是OTDR的测量范围不要求太大。上述两种方法测得的熔接损耗值均是单向测量值，在光纤接头全部熔接完毕后再从光纤线路的另一端依次测量各个光纤接头的熔接损耗值，然后将每个接头的两个方向的测量值相加取平均值作为该接头的熔接损耗。远端环回双向监测法即是将

6、光线内的光纤临时作环接构成回路，从而可对光纤接头进行双向测量，避免了单向测量不能及时获得熔接损耗值的缺点，这种测量方法要求OTDR的仪器测量距离范围要大，但因测量方法过于复杂因而只适用于12芯以下的光缆。对光纤CATV工程而言一般可采用远端监测法，前提是接续处两根光纤的模场直径必须一致。影响光纤接头熔接损耗的主要因素3光纤熔接损耗的影响因素可分为本征因素和非本征因素。（四川灼识光纤熔接机）本征因素是指光纤自身的一些因素，诸如两根光纤的模场直径不一致，光纤芯径失配，纤芯截面不圆，纤芯与包层同心度不佳等，其中模场直径不一致对光纤接头熔接损耗的影响较大，国际电报电话咨询委员会（CCITT）的

7、G652标准规定1310nm窗口的模场直径标称值在9－10pm内，偏差不得超过标称值的10％，在此容差范围内一根模场直径为11pm的光纤与另一根模场直径为9pm的光纤在非常良好的接续条件下熔接后，接头处熔接损耗的理论计算值可达到0.17dB，在实际接续中则更高。非本征因素则是指各种人为因素及仪器设备等因素对熔接损耗的影响，如：熔接时光纤未对准，使两根光纤纤芯的轴线径向偏移达2Pm时熔接损耗的理论值可达到0.74dB；两根光纤轴向倾斜在倾斜角达1