cpk培训的相关资料

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1、CPK培訓教材Quality【电子工程培訓教材】SPC(StatisticalProcessControl)統計制程管制統計過程控制是應用統計的方法對過程中的各個環節進行監控與診斷,從而達到改進與保證產品品質的目的.SPC的發展進程a.1924年由美國的休哈特(W.A.Shewhart)提出.b.第二次世界大戰后期,1940年美國開始將SPC導入武器製造商的製程中,取得了良好的效果,但世界大戰結束后由于美國內商業缺乏競爭,SPC在1950~1980有有逐漸從美國工業消失.c.戰敗的日本為了復興經濟1950年從美國邀請休哈特的同事戴明(W.Edw

2、ardsDeming)博士到日本輔導SPC的應用,經過30年努力,取得了輝煌的成就.從而日本濟入世界工業強國之列.d.在日本的強大競爭之下,80年代美國在SPC作為一種高科技技術來推廣,SPC在美國得到全面的復興,經過15年的努力到1995年左右美國與日本在產品質量方面的差距才基本保持平.何谓『统计』？统计的基本原料是？有数据就是统计吗？经过计算后得什么？数据计算有意义的情报统计基础何谓『统计』？统计---收集的数据经过计算从而得到有意义的情报的活动何谓『有意义的情报』？至少应包括：『集中趋势+离中趋势+含盖在特定范围内的机率』集中趋势平均值

3、中位数平均值概念:表示数据集中位置，数据算术平均数，常用符号表示。N:表示樣本數例:有统计数据2,3,4,5,6五个数据，则其平均数据为：2+3+4+5+6X=—————=4_x5_X=xN中位数概念:把收集到的统计数据按大小顺序重新排列，排在正中间的那个数就叫作中位数，常用符号表示。●例:试找出3、5、6、7、11五个样本数据和3、5、6、8、9、11六个样本数据的中位数。解：3、5、6、7、11的中位数为6；3、5、6、8、9、11的中位数为~x當n爲奇數時-----正中間的數只有一個，當n爲偶數時-----正中位置有兩個數，此時，

4、爲正中間兩個數的算術平均值。6+82=7离中趋势全距&极差R标准偏差σ全距（极差）概念:将样本数据按大小顺序排列，数列中最大值Xmax与最小资料Xmin之差称为样本的极差。常用符号R表示，其计算公式为：式中Xmax一组数据中的最大值，Xmin一组数据中的最小值例如：有3，6，7，8，10五个数据组成一组，则极差R=10-3=7R=Xmax–Xmin(7)(1)(3)(5)A槍手b槍手什么是標準差?7531107531C槍手流程之聲飞标图解A槍手AB槍手ABC槍手ABCA槍手MxLCLUCLB槍手MxLCLUCLC槍手MxLCLUCL9111

5、0Sigma(标准偏差)由此可见Sigma()即是----变异,学术名词叫标准偏差Sigma()表示数据的离散程度(X-X)i-1=n1Σ2n依照射击击中环次的频率进行排列,可得以下的图表:X母体样本(X-X)S=样本标准偏差S=n-11Σ2ni-1因为标准偏差是用数据整体计算，所以当数据量大太时，就不便以操作,而且不符合现场需要。所以一般情况下,会用样本标准偏差S来代替δS～～δ樣本標準差S样本:从总体中随机抽取的若干个个体的总和称为样本。组成样本的每个个体称为样品。～～δ品質品質3品质与6质量的差距SuSLM6品质—减少变异数

6、据分析Cp、Ca、CpkA:每件产品的尺寸与别的都不同數據的分布B:但它们形成一个模型，若稳定，可以描述为一个分布C:数据会有不同的分布型态，正态分布为钟型CPCapabilityofPrecision精确度：是衡量工序能力对产品规格要求满足程度的数量值，记为Cp。通常以规格范围T与工序能力6*δ的比值来表示。即：••••••••••••••••••不精密精密精密度表示什麼1.制程精密度，其值越高表示制程实际值间的离散程度越小，亦即表示制程稳定而变异小（离中趋势，与σ有关）。2.当公差范围内能纳入愈多的σ个数，则此制程表现愈好，其本身是一种制

7、程固有的（已决定的）特性值，代表一种潜在的能力Cp=T/6δ=规格公差/6*标准偏差规格公差=UCL-LCL=规格上线-规格下线精密度評價Cp值製程等級圖例說明Cp≧1.67較佳表示:工序能力過分充裕，有很大的貯備不合格品率p＜0.00006%1.67>Cp≧1.33A(合格)对精密加工而言，工序能力适宜；对一般加来说工序能力仍比较充裕，有一定贮备不合格品率0.00006%≤p＜0.006%1.33>Cp≧1.00B(警告)對一般加工而言，工序能力適宜不合格品率0.006%≤p＜0.27%1.00>Cp≧0.67C(不足)工序能力不足，不合格品

8、率較高不合格品率0.27%≤p＜4.55%CaCapabilityofAccuracy准确度:代表制程平均值偏离规格中心值之程度。若其值越小，表示制