IC测试常见问答.doc

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1、IC测试常见问答　　我在测试的时候，有些DC参数在同样的条件下几次测试的结果相差很大。不明白是为什么?　　你使用的测试机台是什么型号?测试的产品是属于哪种?还有具体什么参数，相差多少?　　我们用的是credencekalos，测试的是memory，在测ICC时，可能从几百uA--几十mA，实际值应该在十几mA。　　credencekalos我没有用过，不过ICC不稳定原因有很多，如果其他同批产品没有这个问题的话可能是这个IC的问题，可以先做下BENCHTEST，一般初期诊断是更换测试机台或者用标准器件做比较。个人看法，仅供参考　　benchtest是什么

2、意思?还有就是同一颗IC多次测试他为什么会不稳定。　　状态不稳定可能是ICC不稳定的原因如果同一个芯片测试不稳定而且误差比较大，可从以下2方面去看：　　1.在测量时芯片所处的状态是否稳定。　　2.芯片的Inputpin是否有FloaTIng，Outputpin是否在不停的翻转　　就是自己搭模拟电路测试，用电源，示波器...比较麻烦，而且需要APPLICATIONBOARD，不知道你们有没有。如果是同一颗不稳定，一般会交给DA或者FA去分析，CURVETRACE先吧。　　电源干净么?先看一下电源脚是否干净。然后换一下电流的range来看一下，最好用样品校验

3、一下。　　电源很干净，range应该也没有问题，它有10mA左右的电流，用25mA的range。应该没有问题，只是有时电流会变成100uA左右。样品在10mA左右很稳定。　　如果是MEMORY测试,可以对其写相同的数据让口上不翻转.然后看看会不会好点.但是据你所说样品没有问题的话,可能这个问题无解.　　多比较　　IDD(ICC)一般为一个器件的特征值，分布范围不会很大，100uA-10mA的变化肯定是异常的。　　1)如果真的是样品在10mA左右很稳定,那么设备及测试程序没有问题，产品的问题可能很大，也不需要花费很大脑筋，正如Code631兄说的，交给DA

4、/FA。　　2)如果产品没有问题，则要确认Hardware,TestProgram方面的问题　　-〉Hardware重点确认Relay的动作是否稳定，可以在程序Meter读之前设置断点，然后不停的StrobeMeter，看Meter值是否稳定。这是验证Hardware动作静止的情况下，电流值是否跳动。　　-〉确认DrivePattern是否正常，IDD和Pattern有直接的关系，如果Pattern编写不正常，会造成DUT功耗不稳定。　　但是，如果标准样品稳定，就不必分析测试系统的问题。　　把DEVICE交给DA的结果无非就是确认电路某个坏点或者观察一下

5、curvetrace的图形。基于楼主的描述，基本上可以确定是这颗产品的问题，drivingpattern和i/o的assignment应该不会有错，否则标准件不会过关。　　如果要究其原因，我想大概要联系到半导体物理的内容了。电路参数的fluctuaTIon造成的intermitentfailure有可能是alpha粒子的轰击或者电路内部EMI(电磁辐射，如果片内有感性器件的话)所造成的，我想工程上是不需要涉及到这个LEVEL的。　　目前的解决方法就是请DA出一个报告，主要是benchtest和curvetrace的报告，观察在静态(无relay动作下)条

6、件下ICC/VCC的曲线特征。做到这一步也就可以了。　　测试稳定性关系到你本身产品的性能、测试方法、还有硬件(设备、TestBoard)。　　1、测试不稳定的参数是否仅有VOUT一项?(占空比，频率?VOUT其它电压条件的如何?)　　2、寻找测试结果的分布规律，是否变动很大?还是总是偏大/偏小?　　3、你的参数测试方法?使用哪些硬件资源，DUT外围器件如何?　　不知道你使用的TestBoard电路如何?　　因为2576是开关电路，测试电路的EMI(电磁干扰)问题尤为重要。　　-输入、输出端的连线要尽量短　　-使用单点接地方式　　-是否使用的是肖特基二极管

7、1N5822(或者快恢复二极管)。这点往往被工程师或略，常用1N4XXX等普通整流/开关管代替，这样会造成EMI增大，输出效率降低，是不稳定的一个祸因。　　以前我处理过LM/MC34063，也是遇到测试稳定性差的问题。　　看看你的pattern和电源滤波电容有没有问题　　ICC应该让chip不停的run，那么你的pattern应该是loop的，如果loop的首尾连接不好就可能出现这样的问题　　另外，测试仪也是个问题，你可以反复测试几个DUT，看看有什么规律没有Pin有没有I/O类型的，如果有外面结法是否应该检查一下内部有没有电容，chargepump一类

8、的功耗元件　　如果都不是，就要看看版图or加工了，是否内部有虚短的东西，这个比较