tft-lcd背光模组画面检验抽样方案优化论文

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1、TFT-LCD背光模组画面检验抽样方案优化摘要当前,群创光电股份有限公司BLUM制造处采用的画面检验模式为9抽2的百分比抽检方案(即9抽2,合格判定数C=0).通过对不同检验批的接收概率的分析来看,百分比检验存在下面两种缺陷:1.批量的变化将影响到对产品质量的保护程度(即大批严,小批宽);2.无法根据制程保证能力变化做出相应的调整.在这种状况下,有必要对背光模组(B/L)产品检验抽样方案进行研究,建立一套与制程相关联的动态抽样方案.在进行制程改善的同时采用具有充分拦截能力的抽样方案对不良品进行拦截,确保出货到客户段的产品良率高于客户的期望

2、值.本课题的研究过程可以分为以下三个阶段:1.建立监控制程稳定性的预警机制2.建立具有充分信赖性的动态抽样方案3.找到可以量化的成效评估方式本文从背光模组(B/L)制程特点出发,以寻求建立与制程能力相匹配的动态抽样方案及对上述方案进行评估的模型为基本思路,通过对制程稳定性、最佳抽样批量(N)单因子实验设计、计数型制程能力指数(Cp)、基本抽样方案组的建立等内容的研究,建立了制程能力指数Cp舆基本抽样方案组之间的对应关系,从而实现了建立动态抽样方案的构想.在成效分析阶段,在对L1线与L2线产品画面品质变异数之检定(P值检定)结论无差异的前提下

3、,通过结果评价和OC曲线&AOQ曲线比对评价两种评价方式得岀了动态抽样优于百分比抽样的结论,最终确认了课题研究的正确性.关键词:背光模组(B/L),抽样方案(SamplingPlan),允收水准(AQL),过程能力指数(Cp),OC曲线(OperatingCharacteristicCurve),假设检定(Hypotheses)ITHEOPTIMUMOFSAMPLINGPLANOFTFT-LCDBACKLIGHTUNITFINALDISPLAYINSPECTIONABSTRACTNow,BLUMmanufacturingdepartment

4、inInnoLuxDisplaycorporationchoosethefinaldisplayinspectionmodelofpercentageof2out9(receiveddefectquantityC=0).Bydifferentreceivedprobabilityofinspectionlot,therearetwofaultsinthefinaldisplayinspectionmodelofpercentageasbelow:1.Thevariationoflotwillinfluencetheguaranteedegr

5、eeofproductquality(alargelotstrict,asmalllotloose);2.Unabletoadjustthesamplingplanappropriatelyaccordingtoprocesscapability.Forthisreason,itisnecessarytostudythesamplingplanofbacklightunit.Weshouldfoundaseriesdynamicsamplingplanwhichbaseonmanufacturingprocesscapabilityofba

6、cklightunit.Inorderthatwecanadoptthesamplingplanofadequatepowertoholdupdefectlotandensurethequalitylevelofproductmorethancustomer’srequirementswhenwecarryoutprocessimprovement.Thestudyprocessofthissubjectincludesthreestepsasbelow:1.Foundalarmmodeltomonitorstabilityofproces

7、s2.Foundadynamicsamplingplanmodelofadequatepower3.FoundaquantificationperformanceevaluationmodelTakingaccountofthecharacteristicofbacklightunitprocess,weregardeddesignofdynamicsamplingmodelanddesignofevaluationmodelasbasictask.Ourresearchincludeanalysisofprocessstability,o

8、ptimumdesignofinspectionlotsize,foundationofprocessmonitoringmodel,foundationofbasicIIsam

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