spc讲义71418

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1、SPC统计过程控制StatisiticalProcessControlSPC与常规检验的区别SPCAQL关注点过程结果作用预防纠正AQL：接收质量限，是对生产过程平均的要求，体现了生产过程质量水平SPC的目的为了贯彻预防原则，应用统计技术对过程中的各个阶段进行评估和监察，从而保证产品与服务满足要求的均匀性。预防措施定义为：“为消除潜在不合格或其他潜在不期望情况的原因所采取的措施”SPC理念的应用管理理念：应用SPC来管理数据和使用信息进行日常决策设计理念：在设计时引入偏差与离散度，确保先期的有效策划制造理念

2、：监控、消除异常，预防不良的产生，确保生产的稳定性质量控制：正确运用SPC，有效监控生产质量思考与讨论：Howtodoindesign?SPC相关基本概念SPC统计原理：以样本推断母本。母本特性（μ，σ）样本特性（，s）→μs→σ变差：没有两件产品或特性是完全相同的，因为任何过程都存在许多引起变差的原因。过程变差的原因TimeTime下一个:?下一个:!普通原因特殊原因两种变差(变异)变差的因素4M+环境+测量(5M1E)过程变异的6大因素法机料人环测量过程分析时都应考虑SPC分类工序能力指数定义：工序能力

3、指数表示工序能力满足工序质量标准（公差、工序质量规格）要求程度的量值初始阶段被称之为PP、PPK过程控制阶段称之为CP、CPKCP及CPK的计算CP=T/（6*）=CPK=（T-2*ε）/（6*）=(USL-)/(3*)或(-LSL)/(3*)两者中较小值(其中T=USL-LSLε=︱-SL︱)CPK与CP的区别Μ容差中心；μ数据分布中心考虑了中心偏移量CP及CPK数据的分析工序能力指数（Cp或Cpk）评价Cp（Cpk）≥1.67反映工序能力过高1.67＞Cp（Cpk）≥1.33反映工序能力充足

4、1.33＞Cp（Cpk）≥1.00反映工序能力符合要求1.00＞Cp（Cpk）≥0.67反映工序能力不足Cp（Cpk）＜0.67反映工序能力严重不足CP、CPK与公差的关系与模具尺寸公差带的关系与模具名义尺寸的关系CPK、CP与不合格率的关系下表中均为过程偏移1.5σσppmCpCpk3.06680710.54.062101.330.835.0232.71.671.176.03.421.5SPC分类推移图SampleNumberorTimeSampleQualityCharacteristic控制图的特点观

5、察上控限（UCL）下控限（LCL）中心线（CL）LowerControlLimitUpperControlLimitCenterLineSampleNumberorTimeSampleQualityCharacteristic横轴：有时间顺序的…竖轴：要控制的品质特性外加上下规格线USL,LSL)警戒线数据：按一定规律抽取样本判定规则：统计学原理用样本推断总体计量型和计数型的区别计量型数据：表示每个单位产品的特性值的数值大小进行测量与记录所得到的观测值。如:时间、长度、重量、纯度等。计数型数据：表示每个个体

6、是否具有某种特性（或特征），计算具有该特性的个体数量。如：不良个数、缺点数、是否通过、事故数等。Xbar-R图Xbar-R图使用时机送样认证小批量批量注：系统发生变更时需重新进行初始能力分析MSA分析初始能力分析过程控制平均值-极差控制图，最常用的控制图。适用于对长度、重量、强度、纯度、时间、生产量等计量值的场合Xbar-R图公式：Xbar图R图系数查表分散程度的变化中心值偏移的变化符号解释n:子组大小。单个子组中子组观测值的个数k:子组数USL:设计（规格）上限LSL:设计（规格）下限UCL:控制上限LC

7、L:控制下限X:子组平均值X:子组平均值的平均值R:子组极差。子组观测值中的极大值与极小值之差R:子组极差的平均值:标准差，反应离散程度（在Excel中命令为：STDEVP）(Xi-X)2n-1=步骤一：确定控制对象根据控制计划。Xbar-R图建立的步骤步骤二：取预备数据取25个子组，每个子组大小（样本容量）3～5个；合理子组原则：同子组内工艺条件未发生变化，组间存在一定差异。Xbar-R图建立的步骤步骤三：计算，Ri=AVE（X1，Xn）Ri=MAX（X1，Xn）-MIN（X1，Xn）Xbar-R图

8、建立的步骤步骤四：计算，=AVE（，）=AVE（R1，Rn）Xbar-R图建立的步骤步骤五：计算R图控制线，并作图Xbar-R图建立的步骤步骤六：绘R图将预备数据表中的Ri值绘在R图中，并对状态进行判断。若稳，则进行步骤7；若不稳，则当：（1）只有个别子组出现界外点时，查明原因后，把异常点去掉，从步骤3重新开始。（2）当异常数据点比例过大，则应改进生产过程，并从步骤2重新开始。Xbar-R图建立的步骤步骤七：计算