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时间:2018-11-14
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1、1.1SPC的定義Statistical(统计)Process(工艺/制程)Control(管制)自工艺中收集资料,加以统计分析,并从分析中发觉异常原因,采取改正行动,使工艺恢复正常,保持稳定,并持续不断提升工艺能力的方法。SPCModel數據蒐集SPC異常分析生產採取對策找出原因保持工艺穩定1.2SPC的功能不良率時間管制改善突破SPC管制圖實驗設計1.3SPC的目的:持續工艺改善1.3製品的變異性1.相同的原料/機台所生產的製品,其產品品質還是存在一定程度的不相同;因此如何判定該工艺(或機台)是否是否處於穩定的狀態,必須藉由S
2、PC進行監控及探討2.隨機誤差:生產時所允許的合理差異範圍特定誤差:超出合理的誤差範圍,必須立即檢查造成的原因並採取對策特定誤差隨機誤差1.4ControlChart1.何謂管制圖?管制圖為縱軸代表產品品質特性,橫軸代表產品批號及製造日期;依照時間順序製圖,並加上中心線(CL),管制上限(UCL)及管制下限(LCL)2.用途:A.適合監控正在生產的產品B.判斷平均值是否和目標值(Target)相吻合C.判斷未來的數據是否會超出管制界限D.判斷何時可以不需注意(管制)某一特性值數據CLUCLLCL1.5管制界限ControlLimi
3、t1.若某一組數據是常態分佈,根據經驗法則,只有0.27%的數據點會超出其平均值正負三個標準差的範圍2.管制圖的管制界限定義為:管制上限(UCL)=平均值+3標準差管制下限(LCL)=平均值-3標準差3.數據點超出管制界限的範圍時,表示已有特定誤差產生管制界限至少每半年检讨一次CLLCL(-3sx)UCL(+3sx)1.5管制界限ControlLimit050100150200Q1-1.5*IQRIQR=Q3-Q1异常点中位数(Q2)Q3Q1利用盒须图筛选有效数据,进行标准方差的计算,确定管制界限。Q3+1.5*IQR管制界限规格
4、界限基于制程实际能力基于产品的要求制程做到的水平“我们所得的”客户需要的水准“我们所需的”告诉我们何时需对制程/机台采取行动告诉我们何时需分析处理产品/原料适用于归纳的统计量(例如:均值,标准差图)规格界限仅适用于单点值1.6管制界限(ControlLimits)vs.规格界限(SpecLimits)Canyoutellmethedifference?1.7ScreenLimitUpscreenLimitLowscreenLimitRecommendScreenlimit=2*SPEC利用ScreenLimit排除KeyinErr
5、orDataUSLLSL1.8控制图的种类X-BarChartMonitorProcessMean1.8控制图的种类MonitorProcessStandardDeviationS(R)Chart1.9管制規則(Warningrules):Rule11.某一个点超出三倍的标准差.异常点!!异常点!!1.9管制規則(Warningrules):Rule11.某一个点超出三倍的标准差.异常点!!异常点!!141.9管制規則(Warningrules):Rule22.连续三个点中,有两个点超出两倍的标准差.异常点!!异常点!!151.9
6、管制規則(Warningrules):Rule33.连续五个点中,有四个点超出一個标准差异常点!!161.9管制規則(Warningrules):Rule44.连续八个点都在中心线的上方或下方异常点!!175.连续七个点递增或递减1.9管制規則(Warningrules):Rule5异常点!!18创建统计制程控制图(SPCchart)1.选择需要建立管制图的制程2.确定抽样方法和计划3.测量和收集原始数据4.计算适当的统计量5.决定管制界限,管制规则等等6.建立超出管制界限的反应机制--OCAP系统(OCAP:OutofContr
7、olActionPlan超出管制界限的因应对策)192.1工艺能力指數(Cpk)1.工艺精密度Cp工艺準確度Ca(ork-value)工艺能力Cpk2.計算公式:201.2Cpk解釋规格上下限的宽度Cp=6倍标准差准确但不精确Cp=A/B精确但不准确k-value=abs(C)/AABACCpk=(1-k)*Cp212.1如何准确计算CpkSPEC对称分布100+10SPEC不对称分布100(+10,-20)Cpu=(USL-AVERAGE)/(3*Sigma),若僅有上限存在Cpl=(AVERAGE-LSL)/(3*Sigma)
8、,若僅有下限存在22A:Cpk>=2.00(超出太多==>注意是否界限太寬鬆)B:Cpk>=1.50C:Cpk>=1.33D:Cpk>=1.00E:Cpk<1.00(==>應有改善對策,甚至停線檢查)判定優劣等級:2.2工艺能力指數23Vision
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