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《前工序工艺及后工序品质关联》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、前工序工藝与后工序品質關聯--------後往前從表面上看來.一塊液晶顯示器包括了以下零部件:偏光片.兩片玻璃,將兩片玻璃粘在一起的粘接膠及灌注在兩片玻璃間的液晶.實際上,一塊液晶顯示器內部還包括了一些不能用,肉眼看出來的東西.就玻璃而言,它的一面是一層刻蝕有圖案的透明電极層作為導電之用.另外,玻璃与液晶之間又有一層薄膜作為引導液晶分子排列之用的取向層,這層薄膜層上刻有一定方向和深度的溝槽.還有一些不起眼但十分重要的部分,如兩片玻璃上作導電用的銀點等整個生產工序就是按步就班地將各部分組合起來.一旦某個環節沒做好,就會影響最后產品的質量,反之.通過對最后廢品的分析可以查出有關工序的問題和隱患.下
2、面對一些常見廢品進行分析,並簡要說明產生廢品的機理,原因及其可能涉及的工序.產品的終檢項目包括偏光檢驗(目測)及電測,本節所介紹的主要是目測和電測時觀察到的產品缺陷,前面已對目測和電測的原理行過介紹,這里就不再重复了.按照缺陷在液晶顯示器結構上所自的位置可大致分為以下几種:電极缺陷,取向缺陷,液晶層缺陷,銀點邊框缺陷,外觀缺陷,污染及其他缺陷,目測中凡未特別說明的都是暗場檢驗.以下簡單介紹液晶顯示器有制作過程中出現的常見廢品為了減少廢品要對原材料,生產過程等方面加強控制並加強質量分析和反饋工作,使質量問題防患於未然電极缺陷因電极缺陷出現的廢品產生原因和涉及工序如所示電极缺陷廢品名稱現象機理及原
3、因涉及工序多划電測時顯示不應顯示的筆段或圖形在圖形刻蝕過程中不應連通的圖形邊通了應刻蝕掉的導電層未刻掉或通物質(如銀點料)落到電极圖形之間設計,光刻,絲印缺划電測時圖形上有顯示不完全圖形刻蝕過程中斷線或導電部分缺陷設計.光刻ITO划傷電測時圖形上有划痕缺陷光檢不到圖形蝕刻過程中ITO層被划傷光刻毛刺電測時圖形邊沿出現的毛刺刻蝕過程中酸刻不徹底光刻針孔顯示圖形上有白點ITO掩膜上有旬孔或圖形菲林上有針孔光刻,設計不顯示電測時沒有圖形顯示公用電砐与段電极短路或所有引線斷線光刻,絲印,切割高低電壓相對樣品,電壓不合PI層不均勻,或液晶配錯,污染灌液,PI涂佈大電流相對樣品,電流大PI層薄,固化不到位
4、或液晶配錯,污染灌液,PI涂佈,PI固化光暗划顯示明暗不均導電層電阻不均勻ITO涂膜,固化多余線不應該顯示處有顯示設計圖案以外出現重合電场貼合,刻蝕,發朦顯示矇濃PI受到污染絲印化字字或圖案筆划隨電壓變化PI受到污染,NA+離子外逃絲印鬼影關閉狀態時電機圖案顯示電極性能變化折射與散射率變化固化,取向層缺陷因取向層缺陷出現的廢品.產生原因和涉及工序如表所示廢品名稱現象機理及原因涉及工序指痕目測時可觀察到手指紋或手指觸過的痕跡操作時手指碰到取向層取向溝槽被破環摩擦后絲印工序取向層划傷目測時可觀察到的划痕操作時取向層被指甲.玻璃及其他梗物碰傷或划傷涂摩.絲印錯列,摩擦反目測時可見到白色條紋或整個視區
5、為淺紅,淺灰色,電測時視角不對取向溝槽刻的淺或取向溝槽方向錯列摩擦取向層不勻目測時可觀察到有規律細密白點多出現於顯示屏小角取向劑不足使印刷不均勻印刷板浸潤性不好涂摩因液晶層缺陷出現的廢品產生原因和涉及工序所示廢品名稱現象現理及原因涉及工序气泡目測時觀察液晶盒內有气泡,与周圍液晶處的顏色相反有气體處無液晶,導致該處偏光檢查效果与周圍相反,這与灌注時工藝控制及邊框气密性都有關系絲印,切割,灌注對比度差發朦某個`筆段或整體圖形顯示時不清晰液晶材料及液晶盒功耗大等原因所引起原材料,玻璃清洗.涂摩因銀點邊框缺陷出現的廢品產生原因涉及工序所示廢品名稱現象機理及原理涉及工序銀點不良原材料.配料,絲印,切割電
6、測時,与銀點有關的筆段有清晰,甚至不顯示或全顯示銀點導電性不良或銀點与電极接触不良,銀點缺崩漏气產品存放一段時間后盒內出現气泡邊框气密性差絲印(框气泡)由於玻璃在制作,切割過程中受碰撞或芭割不廖造成的外觀崩缺,不齊整廢品現象機理及原因涉及工序污染目測時觀察屏內的雜物,大小形狀不一在制盒前灰塵.毛,玻璃碎渣等物污染了液晶盒黑點靜電網印.溶劑,PI容洞固化時間溫度絲印.涂摩彩虹目測時觀察到的環狀彩色條紋底色---spacer密度油過高,中間高,中間低,框細未壓下.導電膠液晶盒的厚度制作不均勻壓力.spacer搭配絲印
